espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: fundamentos e instrumentação

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Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

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Page 1: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido:

Fundamentos e Instrumentação

Page 2: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS

• Houk, Fassel, Flesch, Svec, Gray & Taylor– Anal. Chem.,52:2283,1980.

1983: 1o equipamento comercial

1992: 500 ICP-MS’s

1996: 2000 ICP-MS’s

2001: 4000 ICP-MS’s (26.000 ICP OES’s)

Page 3: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

R. Thomas, A Beginner’s Guide to ICP-MS Spectroscopy,16(4):38-42,2001.

• Mercado atual em espectrometria atômica: 6000 equipamentos / ano; 7% ICP-MS (420 equipamentos / ano)

• http://www.spectroscopyonline.com

Page 4: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Plasma induzido como fonte de íons

• Plasma de argônio: gás ionizado - Ar, Ar+, 1015 e-/cm3, 15,7 eV

• Nebulização - 5 mg/L Y: Gradiente de temperatura, tempo de residência e difusão de gases atmosféricos

Page 5: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação
Page 6: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Por que acoplar ICP e MS?

• ICP: fonte de íons

• MS: separação de íons (m/z)

• Sensibilidade: GFAAS

• Caráter multielementar: ICP OES

• Nova capacidade: análise isotópica

Page 7: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Qual o atrativo ICP-MS?

Page 8: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Qual o atrativo ICP-MS?

Page 9: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Complexidade Espectral: ICP OES e ICP-MS

Elemento Linhas de emissão

Isótopos

Li 30 2

Cs 645 1

Mg 173 3

Ca 662 6

Cr 2277 4

Fe 4757 4

Ce 5755 4

Page 10: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Abundância relativa de isótopos naturais

• 74Se – 0,87%• 76Se – 9,02%• 77Se – 7,58%• 78Se – 23,52%• 80Se – 49,82%• 82Se – 9,19

• 50V – 0,24%• 51V - 99,76

• 50Cr – 4,31• 52Cr – 83,76• 53Cr – 9,55• 54Cr – 2,38

• Monoisotópicos– 59Co– 75As– 89Y

Page 11: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Princípio Fundamental

Íons gasosos gerados no plasma indutivo são

introduzidos no espectrômetro de massas, os

quais são separados em função da razão

massa/carga através do transporte sob ação de

campos elétricos e magnéticos que modificam as

suas trajetórias.

Page 12: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP OES and ICP-MS: an evaluation and assessment of remaining problems

(Olesik, Anal. Chem.,63:12A-21A,1991)

• Duas diferenças básicas na geração de sinais:

• 1. ICP-MS: íons devem ser transferidos para o espectrômetro de massas; ICP OES: propagação de radiação;

• 2. Emissão de radiação: população de átomos e íons excitados; Espectro de massas: população de íons.

Page 13: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP OES and ICP-MS: an evaluation and assessment of remaining problems

(Olesik, Anal. Chem.,63:12A-21A,1991)

• LOD’s: ICP-MS 103 x melhores que ICP OES, principalmente pela inexistência de um sinal de fundo contínuo em ICP-MS

Page 14: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: Características

• Determinação de mais de 70 elementos (6Li – 238U) presentes em baixas concentrações (g/L e ng/L)

• Espectro de fácil interpretação – Todo elemento tem ao menos um isótopo livre de interferências isobáricas em analisadores com quadrupolo (Exceção: In)

• Multielementar: 1 – 2 min; ampla região linear• Rápida análise semi-quantitativa• Medidas de isótopos

Page 15: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP MS

Plasma Indutivo

(fonte de íons)

ICP-MS

Espectrômetro de Massas

(analisador de íons)

Page 16: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS

(Cortesia: Varian)

Plasma

InterfaceLentes Iônicas

Analisador de massas

Detector

Bombas de vácuo

Page 17: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: componentes principais

1. Fonte de íons

2. Interface para amostragem

3. Sistema das lentes iônicas

4. Analisador de massas

5. Detector

Page 18: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Eionização < 9 eV M+ é a forma predominante no plasma

Elemento 1a Eioniz. / eV

K 4,34

Ca 6,11

Cr 6,77

Mn 7,43

F 17,4

I 10,4

Ar 15,7

Page 19: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: componentes principais

1. Fonte de íons

2. Interface para amostragem

3. Sistema das lentes iônicas

4. Analisador de massas

5. Detector

Page 20: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Interface do ICP-MS

PressãoAtmosférica

“Skimmer”

Cone de Amostragem

5x10-5 Torr

1 Torr Velocidade das partículas2,5 x 105 cm/s

Page 21: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: componentes principais

1. Fonte de íons

2. Interface para amostragem

3. Sistema de lentes iônicas

4. Analisador de massas

5. Detector

Page 22: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Lentes Iônicas

Papel das lentes iônicas:

Focalizar os íons para o analisador de massas

Remover fótons e partículas neutras

L1L1L2L2L3L3

SkimmerSkimmer

Analisadorde massas

Page 23: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Por que os íons necessitam ser direcionados para o analisador de

massas?

Após o skimmer ocorre um fenômeno conhecido como “space charge effect” que provoca a repulsão entre os íons, influenciando as suas trajetórias.

Page 24: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Eficiência de Transporte de Íons

Solução aspirada: 10 mg/L Mn

Mn+ no plasma: ~ 108 íons

Íons após cone de amostragem e skimmer: ~106 íons

Íons no detector: 1 – 100 íons

Page 25: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: componentes principais

1. Fonte de íons

2. Interface para amostragem

3. Sistema das lentes iônicas

4. Analisador de massas

5. Detector

Page 26: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

O porquê do vácuo?

É necessário para evitar colisões entre íons e

moléculas no espectrômetro de massas

Conseqüências das colisões

– Alteração de trajetória

– Transferência de energia

– Reações químicas

Page 27: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Espectrômetro de Massas com

Analisador Quadrupolar

--

+

+

Configuração: 4 barras de aço inoxidável circulares ou hiperbólicas

Page 28: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Analisador de Massas Quadrupolar

Somente uma massa tem trajetória estável

-

-

++

Page 29: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: componentes principais

1. Fonte de íons (plasma indutivo)

2. Interface para amostragem

3. Sistema das lentes iônicas

4. Analisador de massas

5. Detector

Page 30: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Dinodo Multiplicador de Elétrons (Discreto) Ion choca-se contra o dinodo

elétrons são arrancados

Elétrons são direcionados para um próximo dinodo multiplicação de elétrons ao longo dos dinodos um ‘pulso’ é detectado no final

Íon vindo do Analisador de Massas

Dinodos+

Pulso

Page 31: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Características do ICP-MS

Espectro simples

Determinação multielementar (seqüencial)

Baixos limites de detecção

Medidas de razão isotópicas

Page 32: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS: Problemas

• Interferências matriciais

• Interferências isobáricas

• Limitada ionização de elementos com elevada energia de ionização (halogênios)

• Perda de informação química (conc. total)

• Instrumentação com custo relativa/e elevado

Page 33: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Interferências Matriciais

• Efeito é geral: qualquer concomitante presente em elevadas concentrações causa interferências

• Magnitude do processo de interferência é f(analito, matriz, condições de operação e características do instrumento)

• Elementos leves são mais afetados por efeitos matriciais

• Elementos pesados causam efeitos matriciais mais severos

Page 34: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Interferências Matriciais

• 1. Deposição de sais no cone de amostragem (para soluções contendo elevado teor de sais dissolvidos): diminui diâmetro orifício sinal decresce gradual/e

Page 35: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Interferências Matriciais

• 3. Efeito de carga espacial: Lentes

eletrostáticas são polarizadas negativa/e para

extrair cátions Feixe de íons após o

“skimmer” tem alta densidade de cargas

positivas (Ar+, O+, Na+ etc.) Repele cátions

analito

– Processos não são completa/e compreendidos

Page 36: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Como atenuar e corrigir efeito de carga espacial?

• Soluções diluídas (< 0,1% m/v sólidos dissolvidos)

• Compatibilização de matriz (matrix matching)

• Método das adições de padrão (SAM)

• Uso de padrão interno (IS)

Page 37: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Padrão interno (IS)

• Elemento é adicionado em uma concentração constante a todas as amostras e soluções de referência

• Sinal analito / Sinal IS

Page 38: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Interferências isobáricas

• Mesma m/z do isótopo mais abundante– 35Cl16O+ (75,53% e 99,759%) x 51V (99,76%)– 40Ar16O+ (40Ar: 99,6%) x 56Fe (91,66%)– 40Ar12C+ (12C: 98,89%) x 52Cr (83,76%)– 12C12C+ x 24Mg (78,7%)

• Mesma m/z de elementos monoisotópicos– 40Ar35Cl+ x 75As+

– 14N16O1H+ (14N: 99,63% e 1H: 99,985%) x 31P

Page 39: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Como atenuar / corrigir efeitos dos íons moleculares?

• Diluição (< Canalito)

• Plasma frio (< formação Ar+ e M+ )

• Adição de gases reativos ao plasma

• Arranjos especiais para a interface

Célula de colisões

Célula dinâmica de reações

Page 40: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Aplicações: arsênio

• Espécies químicas??

• OMS: As < 10 g/L em H2O para consumo humano

• Lagosta: 10 mg/kg As

Page 41: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação
Page 42: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

ICP-MS

Multielementar Excelente sensibilidade Capacidade semi-quantitativa Análise isotópica Ampla faixa linear Adequada precisão Interface ainda requer aperfeiçoamento

Page 43: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Técnicas EspectroanalíticasTécnica Processo de

interferênciaCorreção

FAAS Ionização

Química

Transporte

Tampão ioniz.

Modificador quím.

SAM

GFAAS Espectrais (BG) STPF

ICP OES Espectrais Corretor BG

ICP-MS Matriciais

Isobáricas

IS, Compatibilização

Várias alternativas

Page 44: Espectrometria de massa com fonte de plasma induzido: Fundamentos e Instrumentação

Comparação de técnicas

ICP-MS ICP OES GFAAS

LOD’s Excelente para a maioria

Muito bom para a maioria

Excelente para alguns

Freqüência analítica

1 - 4 min/amostra

(todos analitos)

1 - 10 min/amostra (5 -

30 analitos)

2 – 3 min/analito

Faixa linear 108 105 102

Repetibilidade (%)

1 – 3 0,1 - 2 1 - 5