Análise de Misturas através de Difração de raios X

Aluno: Msc. Eduardo Cavalcante

Profa. Dr. Silvia Cuffini

Análise de Misturas através de Difração de raios X

Objetivo:

Demonstrar uma maneira de analisarquantitativamente,sem padrões, um misturaatravés de Difratometria de raios X

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Resumo:

Análise de intensidades do materialnivelador x amostra

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Principais funções da Difratometria de raios X:

1- Descubrir Fases Polimórficas (fases interessantes

e não)

2-Analisar soluções sólidas

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- A Análise trata materiais, não elementos ou

íons

-A técnica em si, sem aprimoramentos, teminfluência do efeito matriz

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Método interno padrão (Alexander & Klug, 1948):

- Cada componente precisa de um Curva de

Calibração

- Cada Curva de Calibração: mínimo 3 Padrões

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Novo método de Análise Quantitativa(Berry 1970):

- JCPDF de uma mistura de Al2O3 puro e um mineral sintético (α-Al2O3)

-I:intensidades mais fortes do puro

-Ic: intensidades mais fortes do minério

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Método “Flushing Matrix”:- Método Quantitativo rápido, simples e

com exatidão moderada- Curva de calibração é descartada- Relaciona entre Intensidades e Fração em peso

- Multicomponente

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Método “Flushing Matrix”:

Ii= intensidade dos raios difratados por um plano selecionado (hkl) do componente i

Ioi =Intensidade do raios x difratados por um plano selecionado (hkl) do

componente puroXi = Fração em peso do componente iµi= Coeficiente de absorção em massa do elemento puroµt= Coeficiente de absorção em massa do material

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Xf - fração do agente niveladorX0 – fração da amostra originalXi - fração dos componentes

If – Intensidade do agente nivelador no materialI0

f– Intensidade do ag. nivelador na amostra puraµf- Coeficiente de absorção do ag. nivelador

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Experimental (Amostra 1; verificar Xde ZnO):

% de Corundorum= 17,96

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Conclusão:

É possível analisar quantitativamente um material conhecendo-se um dos

componentes

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FIM