Informações Gerais:O Laboratório Multiusuário de Difração de Raios X da Pró Reitoria de Pesquisa e Pós Graduação da UEL em parceria com o Laboratório de Filmes Finos e Materiais do Departamento de Física da UEL vêm oferecer à comunidade o Curso de Cristalografia e Método Rietveld de Análise de Estruturas. Neste curso serão abordados os princípios da técnica de Difração de Raios X e o método Rietveld de Refinamento de Estruturas Cristalinas. Esta técnica tem sido empregada nas mais diversas áreas do conhecimento, desde farmácia, bioquímica, química, física, geologia, agronomia, ciência e engenharia de materiais entre outros. O curso será divido em parte teórica e prática, onde se abordará respectivamente os conceitos físicos e o treinamento no uso tanto do difratômetro de Raios X como a utilização da interface gráfica livre DBWS para refinamento de estrutura pelo método Rietveld.

Período de Realização:12 à 16 de dezembro de 2011

Instrutor:Prof. Dr. José Marcos SasakiÉ professor adjunto do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" da UNICAMP no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de Raios X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Público Alvo:

Profissionais das indústrias, Pesquisadores, Professores, Estudantes de Mestrado, Doutorado e Iniciação Científica.Local: Aulas práticas: Laboratório de Difração de

Raios-X da Pró Reitoria de Pesquisa e Pós

Graduação da UEL. Aulas teóricas e tutoriais: Agência de Inovação

Tecnológica da UEL (AINTEC).

Carga horária: 40 horas 8 horas de aulas teóricas; 32 horas de aulas práticas e tutoriais

Programação do Curso 12/12/2011 - Segunda-Feira8:30 - Abertura9:00 - 12:30Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.13:30 – 18:00Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino. 13/12/2011 – Terça-Feira9:00 - 12:30Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X (X´Pert PRO MPD). Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa DBWS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.13:30 - 18:00Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura. 14/12/2011 – Quarta-Feira

9:00 - 12:30Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura.13:30 - 18:00Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura. 15/12/2011 – Quinta-Feira9:00 - 12:30Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura.13:30 – 18:00Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura. 16/12/2011 – Sexta-Feira9:00 - 12:30Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura.13:30 - 18:00Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura.Nota: O percentual de freqüência durante o curso é de 75%, abaixo desse valor o participante não receberá o certificado.

Localização: (www.uel.br)

Lab. DRX

Campus da UEL

Ficha de Inscrição

Nome completo:_______________________RG e CPF:___________________________Endereço completo:____________________E-mail:_____________________________Telefones para contato: (__) ____________Categoria: Estudantes e Técnicos (nível médio UEL)R$ 120,00. Docentes e Técnicos (nível superior UEL)R$ 150,00. ProfissionaisR$ 200,00.Número ou cópia do depósito bancário:_______________________________

Realização:

Depto de FísicaInscrições:

07 à 18 de novembro de 2011 Preencher a ficha de inscrição e

efetuar o pagamento no:1. ITEDES (c/ Arianne): Av. Presidente Castelo

Branco, 655 - Tel.: (43) 3328-2400, ou

2. Secretaria do Departamento de Física da UEL (c/ Silvio ou Izabel): Tel: (43) 3371-4266, ou

3. Por e-mail: enviando a ficha de inscrição preenchida e o comprovante de depósito bancário* para: convenio@itedes.org.br*Banco ITAÚ, Ag. 4113, c/c. 02573-0

Vagas: Serão oferecidas 20 vagas Para acompanhamento do curso

exige-se computador portátil

(LAPTOP).Maiores informações:Prof. Dr. Alexandre Urbano - aurbano@uel.brDepto. Física - UELTel: (43) 3371-4266 ou 4164

Curso de Cristalografia e Método Rietveld de Análise de Estruturas

www.ldrx-uel.ning.com

12 à 16 de dezembro de 2011

UEL - Londrina - PR

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki

Apoio: