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Aula 3 - Espectrometria de Absorção Atômica/Emissão atômica Parte 2 Julio C. J. Silva Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF) Instituto de Ciências Exatas Depto. de Química Juiz de Fora, 2016 QUI 154 Química Analítica V

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Aula 3 - Espectrometria de Absorção Atômica/Emissão atômica

Parte 2

Julio C. J. Silva

Universidade Federal de Juiz de Fora (UFJF) Instituto de Ciências Exatas

Depto. de Química

Juiz de Fora, 2016

QUI 154 – Química Analítica V

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Fontes de Plasma

Surgiu - década de 60 (Greenfield) Divulgação - década de 70 ( !!!); Amplamente utilizada (sólidos, líquidos, gases): amostras metalúrgicas, ambientais, biológicas, alimentos, cosméticos, etc; Boas sensibilidade, exatidão e precisão. Amostra introduzida no plasma: solução aquosa

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ICP como fonte de excitação

Qualquer fonte de matéria que tenha uma fração apreciável ( 1 %) de elétrons e íons positivos somando a átomos neutros, radicais e espécies moleculares.

São gases ionizados altamente energéticos (Ar, He, Xe, etc.)

Temperatura (6000 – 10.000 oC) GFAAS e FAAS: 3300 oC !!!!! Maior eficiência na decomposição Óxidos Compostos refratários

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Fontes de Excitação Para Emissão Atômica

Arco ou Centelha (Spark or Arc) Chama (Flame Atomic Emission Spectrometry (FAES)) Plasma

Corrente direta (Direct-current plasma (DCP)) Microondas (Microwave-induced plasma (MIP)) Plasma Induzido (Inductively-coupled plasma (ICP))

Laser-induced breakdown (LIBS) – recente !

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5 Descargas atmosférica (plasmas de “ar”)

Fonte de Plasma Acoplado Indutivamente (ICP)

“Gás parcialmente ionizado à alta temperatura”

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6 Descargas Solares (plasma de H e He)

Emissões em Plasma

“Gás parcialmente ionizado à alta temperatura”

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7 Descargas a Baixa Pressão (Lâmpada de plasmas )

Emissões em Plasma “Gás parcialmente ionizado à alta temperatura”

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Fonte de Plasma

• Bobina de RF: 40 MHz

• Vazão principal (Plasma): 15 L min-1

• Vazão de nebulização: 0,9 L min-1

• Vazão auxiliar: 1,0 mL min-1

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Processo de formação do Plasma

A. entrada de Ar (He, Xe, etc.)

B. aplicação de campo de rádio-freqüência (RF), 27 ou 40 Mhz

C. geração de alguns e- livres (bobina tesla)

D. efeito cascata

E. Plasma

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Processo de formação do Plasma

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Processo de formação do plasma

Elemento 1a Eioniz. / eV

K 4,34

Ca 6,11

Cr 6,77

Mn 7,43

F 17,4

I 10,4

Ar 15,7

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Processo de formação do ICP

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Configuração da tocha

Interferência

Caminho ótico

Visão Axial Visão Radial Parâmetros

Algumas características das configurações do ICP OES

(A)Visão Radial

(B) Visão Axial

(A) (B)

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Aparência do Plasma

Plasma constitui de núcleo brilhante, branco e opaco acima uma cauda na forma de uma chama. O núcleo, que se estende acima do tubo auxiliar, produz um contínuo espectral com o espectro atômico do argônio sobreposto. O contínuo é típico das reações de recombinação íon-elétron e de bremsstralung, responsável pela radiação contínua produzida quando as partículas carregadas são desaceleradas ou imobilizadas.

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Regiões do plasma IR: Região de indução PHZ: região de pré-aquecimento IRZ: região inicial de radiação NAZ: região analítica

“Tail plume”: região de menor temperatura ( 6000 0C)

Caracterização Espacial do ICP

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Atomização e ionização do analito

Espectro do Plasma

• Contínuo (núcleo) • Atômico (Ar) • Radiação contínua (Bremsstralung)

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Instrumentação básica – Emissão Atômica

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Espectro de Absorção e Emissão em Chamas

“fotometria de chama”

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Instrumentação básica – Emissão Atômica (Chama)

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Instrumental

• Instrumentos isolam os da emissão filtros óticos ou monocromadores • Componentes básicos:

- Reguladores de pressão para os gases da chama/Plasma (atomizador) - A pressão deve ser constante emissão constante (atomizador) - Nebulizador/Câmara de nebulização para introduzir a amostra na chama na forma de vapor

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Instrumental – Sistema ótico

• Sistema ótico: Função de recolher a luz (radiação) emitida pela chama isolar a porte que interessa focar a luz sobre o detector

• A base de filtros e monocromadores • Detector deve possuir boa sensibilidade fototubos ou fotomultiplicadoras

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Instrumental – Fotômetros/Espectrofotômetros

• Fotômetros: - Utilizam filtros para isolar a faixa espectral de interesse - Usam chama de baixa temperatura - Instrumentos relativamente simples - Usados na determinação de Na, K, Li, Ca e Mg. • Espectrofotômetro: - Utilizam prisma ou rede de difração para isolar a faixa espectral de interesse - Usam chama com temperaturas mais altas - Instrumentos mais complexos

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Instrumentação/ICPOES

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Instrumentação

tocha de quartzo sistema óptico sistema de introdução da amostra dreno

sistema de gases dispositivo de controle

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Radiofrequência (RF)

• Osciladores que proporcionam corrente alternada em diferentes frequências (27,12 MHz ou 40,68 MHz)

• Potencia máxima de 2,0 kW

• Bobina de indução (cobre) refrigerada a água

• Monocromador (sequencial)

• Policromador (simultâneo)

Espectrômetro

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Espectrômetro

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Espectrômetro

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Espectrômetro

visível

Ultra-violeta

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Detector

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Detector

• Tubos fotomultiplicadores

• Detectores de estado sólido (DAC)

– CID (Charge injection device)

– CCD (Coupled charge device)

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Quantificação (Chama e ICP): Fontes de não linearidade

• Autoabsorção: Ocorre em altas concentrações Mais comum em emissão em chama

• Autorreversão Em meios não homogêneas pode ocorrer alargamentos severos das linhas • Ionização: Mais comuns em chamas do que em plasmas

Linhas iônicas são recomendadas • Faixa linear:

Emissão chama Emissão em plasma

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• Temperaturas/Tempo de residência são duas ou três vezes maiores que aqueles obtidos nas chamas de combustão mais quentes (acetileno/óxido nitroso) menos interferências químicas nos ICPs do que em chamas de combustão.

• Efeitos de interferência de ionização pequenos concentração constante de elétrons no plasma.

• A atomização ocorre em um ambiente quimicamente inerte Em chamas o ambiente é violento e altamente reativo.

• A temperatura transversal do plasma é relativamente uniforme.

• O plasma também apresenta um caminho óptico estreito minimiza a autoabsorção.

• Boa opção como fonte de ionização para a espectrometria de massa

• Uma desvantagem significativa do ICP é que ele não é muito tolerante a solventes orgânicos (entupimento e à contaminação entre amostras sucessivas)

• Alto custo

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Referências “Principles of Instrumental Analysis”. 5th ed., 1998; D.A. Skoog, FL Holler, T.A. Nieman. “Inductively Coupled Plasmas in Analytical Atomic Spectrometry”. 2 nd ed., 1992; A. Montasser, D. Golightly.

“Axially and radially viewed inductively coupled plasmas – a critical review”. Spectrochim. Acta Part B, 55 (2000) 1195-1240. “Química Analítica Instrumental - Notas de aula”. UFG, 1996; Farias, L.C. “Concepts, Intrumentation and Techinique in inductively Coupled Plasmas Atomic Emission Spectrometry”. Perkin Elmer, 1989; Boss, C.B., Fredeen, K.J. “Espectrometria de Emissão Atômica com Plasma Acoplado Indutivamente (ICP-AES)”. CPG/CENA-USP, 1998; Giné, M.F. IUPAC – International Union of Pure and Applied Chemitry 2009; http://old.iupac.org/publications/analytical_compendium)