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Microeletrônica
Aula 16
Prof. Fernando Massa Fernandes
(Prof. Germano Maioli Penello)
http://www.lee.eng.uerj.br/~germano/Microeletronica_2016-2.html
Sala 5017 E
https://www.fermassa.com/Microeletronica.php
Resistores, capacitores e MOSFETs
2
Já vimos todas as camadas (máscaras) responsáveis pelo processamento de dispositivos.
Neste momento, veremos em mais detalhes os leiautes de resistores, capacitores e MOSFETs.
Cap. 5 Revisão
Resistores
3
Os valores dos resistores e capacitores em um processo CMOS são dependentes da temperatura e da tensão (~10-6/oC).
Coeficiente de temperatura
Coeficiente de temperatura de primeira ordem
TCR1 também varia com a temperatura!
R aumenta com a T
Revisão
Resistores
4
Cálculo SPICE (termo quadrático):
No cálculo a mão, consideramos TCR2 = 0
T0 → Temperatura de medida do
parâmetro nominal.
Revisão
Exercício
5
→ (ppm) – partes por milhão
* Normalmente os testes e as caracterizações dos dispositivos são realizadas na temp de 27oC.
Revisão
Exercício
6
* Normalmente os testes e as caracterizações dos dispositivos são realizadas na temp de 27oC.
→ (ppm) – partes por milhão
Revisão
Resistores
7
A resistência sempre aumenta com a temperatura?
Mas o aumento da temperatura não causa um aumento de portadores livre?Mais portadores livres não causariam uma resistência menor?
Revisão
Resistores
8
A resistência também se altera com a aplicação de tensão. O coeficiente de tensão é dado por VCR:
V é a tensão média aplicada nos terminais do resistor.
Este fenômeno é observado principalmente por causa da largura da região de depleção entre o poço-n e o substrato que altera a resistência de folha.
Revisão
Exercício
9
Revisão
Exercício
10
Bem menor que a variação devido a temperatura!
Revisão
Exemplo
11
Divisor de tensão. Relacionar Vout e Vin
VCR – Coef de tensãoTCR – Coef de temperatura
Revisão
Exemplo
12
Divisor de tensão. Relacionar Vout e Vin
Em função da temperatura:
Independente da temperatura!
Revisão
Exemplo
13
Divisor de tensão. Relacionar Vout e Vin
Em função da temperatura:
Independente da temperatura!
Em função da tensão:
Com
e
Dependente da tensão!
→ Tensão média no resistor.
Revisão
Resistores
14
Elemento unitário
Vantagens em utilizar uma série de elementos unitários:•Precisão sobre uma alta faixa de temperatura•Evitar erros devido aos cantos da serpentina•Variação da resistência nominal não afeta a tensão num divisor de tensão
Revisão
Resistores
15
Guard ring
Todo circuito de precisão está sujeito a ruídos e interferências do substrato (corrente em circuitos adjacentes influenciando os vizinhos)
O guard ring (implantação de p+ entre os circuitos) é um método simples de reduzir o ruído.
•Mantém o potencial de referência na região do circuito.•Protege o circuito da injeção de portadores indesejados vindos do substrato.
Guard ring num resistor
Revisão
Resistores
16
Leiaute interdigitated
O casamento de valores entre os resistores pode ser melhorado com o design abaixo
Variações na atmosfera do processo em diferentes regiões do substrato são minimizadas.
Note que a orientação dos resistores é a mesma (vertical).
Os resistores tem essencialmente os mesmos efeitos parasíticos.
Revisão
Resistores
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Leiaute common-centroid (centro comum)
O casamento de valores entre os resistores pode ser melhorado também com o design abaixo
Variações na atmosfera do processo em diferentes regiões do substrato são minimizadas.Note que a orientação dos resistores é a mesma (vertical).As variações na atmosfera do processo são distribuídas de modo a serem compensadas nos resistores A e B.
Revisão
Resistores
18
Leiaute common-centroid (centro comum) vs. interdigitated
Resistor A teria 16 e B teria 20
Resistor A teria 18 e B teria 18
Melhor casamento entre os resistores!
Para um gradiente de 1Ω/posição
Revisão
Exercício
19
→ Valor nominal de um resistor (unitário) deve ser 5kΩ.
Revisão
Exercício
20
→ Valor nominal de um resistor (unitário) deve ser 5kΩ.
→ Da esq para dir varia de 5kΩ (posição 1) até 5,07kΩ (posição 8).
→ Qdo deslocado 7 posições varia 0,07kΩ. → Taxa de variação 0,01kΩ/posição.
Revisão
Exercício
21
Revisão
Resistores
22
Leiaute common-centroid (centro comum)
O Leiaute common-centroid melhora o casamento de MOSFETs e capacitores também!
Revisão
Resistores
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Elementos dummy (falso, postiço)
Difusão desigual devido a variações de concentração de dopantes levaria a um descasamento entre elementos. O elemento dummy não tem função elétrica nenhuma, ele é normalmente aterrado ou ligado ao VDD em vez de ficarem flutuando.
Revisão
Capacitores
24
Processos CMOS podem conter uma segunda camada de polisilício chamada poly2.
Importante para:Capacitores poly-polyMOSFETsDispositivos de portas flutuantes (EPROM, memória FLASH, por exemplo)
Capacitores
25
Processos CMOS podem conter uma segunda camada de polisilício chamada poly2.
Importante para:Capacitores poly-polyMOSFETsDispositivos de portas flutuantes (EPROM, memória FLASH, por exemplo)
Muzaffer A. Siddiqi, Dynamic RAM technology advancements, CRC 2013
Capacitores
26
Espessura entre as camadas poly (tox) é a mesma do GOX.
Leiaute e seção reta
C´ox – capacitância específica (por área)
Capacitores
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Espessura entre as camadas poly (tox) é a mesma do GOX.
Leiaute e seção reta
C´ox – capacitância por área
Capacitância mínima 100 fF (canal longo) e 10 fF (canal curto)
Capacitores
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Parasíticos
A maior capacitância parasítica é a entre o poly1 e o substrato (bottom plate parasitic –parasítico da placa inferior). Pode chegar a 20% do valor de capacitância desejado entre poly1 e poly2.
Capacitores
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Dependência com tensão e temperatura
Coeficiente de temperatura:
Coeficiente de tensão:
MOSFET
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Já sabemos como criar um MOSFET, a partir de agora veremos os detalhes de como otimizar o leiaute de um MOSFET para reduzir os efeitos parasíticos.
MOSFET
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Difusão lateral
O dopante difunde lateralmente criando um MOSFET de comprimento Leff
MOSFET
32
A implantação LDD (lightly doped drain) é feita para minimizar a difusão lateral.Depois da LDD é feita a deposição de um espaçador e só então a dopagem p+ ou n+ é realizada. (a implantação LDD transpassa o GOX)
MOSFET
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A implantação LDD (lightly doped drain) é feita para minimizar a difusão lateral.Depois da LDD é feita a deposição de um espaçador e só então a dopagem p+ ou n+ é realizada.
Imagem mais realística da difusão
MOSFET
34
Oxide encroachment (invasão do óxido)
Durante o crescimento do óxido, o FOX invade a região ativa e reduz a área do transistor. Para compensar, o leiaute pode ser aumentado antes de fazer a máscara que define a região ativa.
MOSFET
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Capacitância parasítica de depleção de fonte (S) e dreno (D)
Modelo SPICE:
Não confundir capacitância de depleção (polarização reversa) com capacitância de difusão (polarização direta)!
MOSFET
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Resistência parasítica de fonte e dreno
O comprimento da região ativa aumenta a resistência parasítica em série com o MOSFET, determinada pelo número de quadrados na fonte (NRS) e dreno (NSD)
NRS = comprimento da fonte / largura da fonte
Resistência de folha incluída no modelo SPICE como rsh (confira o valor no processo C5)
MOSFET
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Long-length (Comprimento longo)
O comprimento é obtido pela interseção entre o poly e a região ativa (acompanhando o sentido da corrente).
Veremos adiante no curso que o MOSFET de comprimento longo tem uma resistência efetiva de chaveamento mais elevada
O que está faltando neste leiaute para construir um MOSFET real?
MOSFET
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Large-Width (Largura grande)
O que está faltando neste leiaute para construir um MOSFET real?
A largura é obtida pela interseção entre o poly e a região ativa. (perpendicular ao sentido da corrente)
Largura total é a soma das larguras
Conexão em paralelo
MOSFET
39
A mesma abordagem pode ser feita para aumentar o comprimento do MOSFET
Conexão em série
Nomenclatura
larguracomprimento
10/2
MOSFET
40
Capacitância parasítica
As capacitância parasíticas de depleção dependem da área da região ativa. Neste desenho, a área do S é maior que a do D.
MOSFET
41
Capacitância parasítica
Para obter boa resposta a altas frequências, é desejado que a capacitância maior seja aterrada (para NMOS) ou conectada ao VDD (PMOS)
Maior capacitância
NMOS. Área S maior que D
PMOS.Área S maior que D
Menor capacitância
MOSFET
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Capacitância parasítica
Para obter boa resposta a altas frequências, é desejado que a capacitância maior seja aterrada (para NMOS) ou conectada ao VDD (PMOS)
Verifique qual é a maior resistência no caminho de descarga dos capacitores da figura à direita considerando o MOSFET como chave.
Maior capacitância
NMOS. Área S maior que D
PMOS.Área S maior que D
Menor capacitância
MOSFET
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Capacitância parasítica
Para obter boa resposta a altas frequências, é desejado que a capacitância maior seja aterrada (para NMOS) ou conectada ao VDD (PMOS)
A menor capacitância descarrega pelos dois capacitores (maior resistência no caminho de descarga) enquanto a maior capacitância não carrega nem descarrega (conectada ao terra).
Maior capacitância
NMOS. Área S maior que D
PMOS.Área S maior que D
Menor capacitância
MOSFET
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Capacitância parasítica
Dispositivo operando na região de depleção. Não há canal entre o dreno e fonte.
Capacitância de porta depende da extensão da difusão lateral» Sobreposição entre a área do canal e a difusão lateral
Os parâmetros CGDO (gate-drain overlap capacitance) e CGSO são estipulados no modelo SPICE. Confira os valores no modelo do processo C5.
MOSFET
45
Capacitância parasítica
MOSFET
46
Capacitância parasítica
Dispositivo operando na região de inversão forte (strong inversion region)
Capacitância de porta não depende da extensão da difusão lateral» Depende da área do canal
Canal formado entre o dreno e a fonte
MOSFET
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Capacitância parasítica de depleção de fonte (S) e dreno (D)
Modelo SPICE:
Não confundir capacitância de depleção (polarização reversa) com capacitância de difusão (polarização direta)!
MOSFET
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Capacitância parasítica
→ Operando na região de depleção a capacitância de porta depende da extensão da difusão lateral
Capacitância parasítica de depleção de fonte (S) e dreno (D) em relação ao corpo (substrato) → Cjs,d
Capacitância parasítica entre terminais
Entre porta (G) e fonte (S) → CgsEntre porta (G) e dreno (D) → Cgd
→ Operando na região de inversão forte a capacitância de porta não depende da extensão da difusão lateral
MOSFET
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Capacitância parasítica
Os modelos do MOSFET devem incluir capacitâncias entre seus terminais e que essas capacitâncias dependem da região de operação do MOSFET.
Imagem SEM
Quantos transistores temos nesta imagem?
Trabalho 1 – Comentários
Trabalho 2 – Par CMOSi) Desenhe no Electric o esquemático e o layout do par complementar (CMOS) conforme o circuito representado na figura, para ser fabricado na tecnologia C5 (de 300nm). O canal dos transistores deve ter 0.6 µm, a largura do NMOS deve ser de 3µm e a largura do PMOS deve ser de 6µm. O contato de corpo do NMOS deve ser conectado ao terra e o contato de corpo do PMOS deve ser conectado a VDD = 5V.
Data de entrega: 29/11
Trabalho 2 – Par CMOSi) Desenhe no Electric o esquemático e o layout do par complementar (CMOS) conforme o circuito representado na figura, para ser fabricado na tecnologia C5 (de 300nm). O canal dos transistores deve ter 0.6 µm, a largura do NMOS deve ser de 3µm e a largura do PMOS deve ser de 6µm. O contato de corpo do NMOS deve ser conectado ao terra e o contato de corpo do PMOS deve ser conectado a VDD = 5V.
ii) Faça a simulação do circuito e obtenha no mesmo gráfico a corrente no dreno do NMOS e na fonte do PMOS quando a tensão de alimentação (Vf) varia entre 0V e 5V com passo de 5mV e a tensão no gate (Vg) varia entre 0V e 5V com passo de 1V.
Data de entrega: 29/11
Trabalho 2 – Par CMOSi) Desenhe no Electric o esquemático e o layout do par complementar (CMOS) conforme o circuito representado na figura, para ser fabricado na tecnologia C5 (de 300nm). O canal dos transistores deve ter 0.6 µm, a largura do NMOS deve ser de 3µm e a largura do PMOS deve ser de 6µm. O contato de corpo do NMOS deve ser conectado ao terra e o contato de corpo do PMOS deve ser conectado a VDD = 5V.
ii) Faça a simulação do circuito e obtenha no mesmo gráfico a corrente no dreno do NMOS e na fonte do PMOS quando a tensão de alimentação (Vf) varia entre 0V e 5V com passo de 5mV e a tensão no gate (Vg) varia entre 0V e 5V com passo de 1V.
*Para auxiliar no projeto e simulação dos transistores utilize o tutorial 2 do site cmosedu.com:
http://cmosedu.com/videos/electric/tutorial2/electric_tutorial_2.htm
Trabalho 2 – Par CMOSi) Desenhe no Electric o esquemático e o layout do par complementar (CMOS) conforme o circuito representado na figura, para ser fabricado na tecnologia C5 (de 300nm). O canal dos transistores deve ter 0.6 µm, a largura do NMOS deve ser de 3µm e a largura do PMOS deve ser de 6µm. O contato de corpo do NMOS deve ser conectado ao terra e o contato de corpo do PMOS deve ser conectado a VDD = 5V.
ii) Faça a simulação do circuito e obtenha no mesmo gráfico a corrente no dreno do NMOS e na fonte do PMOS quando a tensão de alimentação (Vf) varia entre 0V e 5V com passo de 5mV e a tensão no gate (Vg) varia entre 0V e 5V com passo de 1V.
*Para auxiliar no projeto e simulação dos transistores utilize o tutorial 2 do site cmosedu.com:http://cmosedu.com/videos/electric/tutorial2/electric_tutorial_2.htm
Trabalho 2 – Par CMOS
Enviar arquivo compactado do trabalho (.zip) para o email [email protected], contendo:
1. Arquivo do Electric (.jelib) 2. Arquivo do LTSpice (.spi)3. Print do gráfico de Id (nmos) e Is (pmos), do esquemático e do layout do circuito no Electric.
i) Desenhe no Electric o esquemático e o layout do par complementar (CMOS) conforme o circuito representado na figura, para ser fabricado na tecnologia C5 (de 300nm). O canal dos transistores deve ter 0.6 µm, a largura do NMOS deve ser de 3µm e a largura do PMOS deve ser de 6µm. O contato de corpo do NMOS deve ser conectado ao terra e o contato de corpo do PMOS deve ser conectado a VDD = 5V.
ii) Faça a simulação do circuito e obtenha no mesmo gráfico a corrente no dreno do NMOS e na fonte do PMOS quando a tensão de alimentação (Vf) varia entre 0V e 5V com passo de 5mV e a tensão no gate (Vg) varia entre 0V e 5V com passo de 1V.
Trabalho 2 – Par CMOSi) Desenhe no Electric o esquemático e o layout do par complementar (CMOS) conforme o circuito representado na figura, para ser fabricado na tecnologia C5 (de 300nm). O canal dos transistores deve ter 0.6 µm, a largura do NMOS deve ser de 3µm e a largura do PMOS deve ser de 6µm. O contato de corpo do NMOS deve ser conectado ao terra e o contato de corpo do PMOS deve ser conectado a VDD = 5V.
ii) Faça a simulação do circuito e obtenha no mesmo gráfico a corrente no dreno do NMOS e na fonte do PMOS quando a tensão de alimentação (Vf) varia entre 0V e 5V com passo de 5mV e a tensão no gate (Vg) varia entre 0V e 5V com passo de 1V.
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