difração de pó - ignez.comignez.com/material/myfiles/cristalografia-2017-1/14-difração...
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Difrao de P
So Carlos, 18 de outubro de 2017.
Ignez Caracelli
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Aplicaes de Difrao por P (XRPD)
qumica
fsica
engenharia
cincias da vida
bioqumica
cincia dos materiais
cincias geolgicas
arquelogia
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Difrao por
monocristalFeixe
difratado
Feixe
incidente
Difrao por p
Feixe
difratado
Feixe
incidente
Na difrao de p somente umapequena frao dos cristais (azul) estocorretamente orientadas para produzirdifrao
Experimentos de Difrao
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Difrao porMonocristal (3D)
Difrao por p (2D)
Difrao Monocristal e P
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Medida experimental
D
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A
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Medida experimental
cela unitria
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O padro de difrao de um monocristal no do tipofingerprint.
Cada molcula gera um padro de difrao nico.
Duas molculas ainda que muito parecidas geram padres de difrao diferentes.
Difrao por monocristal (3D)
O padro de difrao de um policristal do tipo fingerprint.
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Os dados de difrao de raio X de uma amostra policristalinapermitem determinar:
a composio da(s) fase(s) cristalina(s)(analise qualitativa e quantitativa);
os ndices dos picos de Bragg, as intensidades integradas e parmetros de cela muito exatos;
a distribuio dos tomos na cela unitria, a estrutura cristalina e, onde pertinente, molecular;
diversas caratersticas (micro)estruturais.
Difrao por p (2D)
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O espetro de difrao de uma fase cristalina um fingerprintunvoco que permite reconhecer uma fase se seu espectro conhecido.
Condies necessrias para a anlise qualitativa:
ter disposio fases puras de referncia ou: ter disposio bancos de dados de I ou: ter disposio bancos de dados de coordenadas cristalogrficas
Difrao por p (2D)
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Difrao por p (2D)
difratograma coletado
identificao dos picos
comparao com fases puras em banco de dados finger print
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POSIO DOS PICOS
INTENSIDADE DOS PICOS
FORMA E LARGURA DOS PICOS
Informao em um padro de difrao
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POSIO DOS PICOS Dimenses da cela unitria Sistema cristalino Simetria translacional Identificao das Fases Cristalinas
Informao em um padro de difrao
2 (o)
inte
nsi
dad
e
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INTENSIDADE DOS PICOS Contedo da cela unitria Simetria pontual Anlise qualitativa das fases
Informao em um padro de difrao
2 (o)in
ten
sid
ade
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FORMA E LARGURA DOS PICOS Tamanho do cristalito (2-200 nm) Defeitos
Informao em um padro de difrao
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introduo da tcnica primeira metade do sculo XX.
Anlise Qualitativa: O Mtodo
anlise qualitativa reconhecimento de uma fase cristalina desconhecida ou identificao de vrias fases desconhecidas presentes em um material composto.
Powder Diffraction File principal "recurso" de informaespara a identificao de fases desconhecidas (PDF)
Powder Diffraction File arquivo eletrnico (ou de cartes)onde esto contidas as informaes cristalogrficas de maisde 800000 fases inorgnicas e orgnicas (release 2013).
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Anlise Qualitativa: O Mtodo
http://www.icdd.com/resources/axa/vol46/v46_01.pdf
http://www.icdd.com/resources/axa/vol46/v46_01.pdf
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A difrao uma informao primria que, combinadacom a anlise elementar, identifica sem ambiguidadeuma certa fase cristalina.
A medida de difrao (normalmente)
no-destrutiva!
Anlise Qualitativa: O Mtodo
Fase: Regio do material que tem propriedades fsicas e qumicas uniformes
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Anlise Qualitativa: PDF
http://www.icdd.com/products/2012-2013flyers/PowderDiff.Difference2012.pdf
The International Centre for Diffraction Data (ICDD)
http://icdd.mybigcommerce.com/
http://www.icdd.com/products/2012-2013flyers/PowderDiff.Difference2012.pdf
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Anlise Qualitativa: Banco de Dados
E se uma fase no est depositada no banco de dados de difrao de p? possvel calcular o espectro" de difrao a partir da estrutura determinada do monocristal.
fase desconhecida se entende como uma fase jconhecida no passado (e j caracterizada) mais ainda no identificada na amostra em exame.potencialidade do tipo de mtodo aumenta com o tempo: mais fases novas so identificadas maior a possibilidade de reconhecer ela na amostra examinada.
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Anlise Qualitativa: Banco de Dados
Co-presena de vrias fases
Se em uma amostra policristalina esto presentes vrias fases, oespectro de difrao de p contm picos correspondentes a(distncias interplanares d) de todas as fases, tornando complexo oreconhecimento das mesmas.
espectro de uma mistura a soma pesada dos espectros dasfases. No h interferncia qumica ou espectroscpica. Resta oproblema da complexidade da anlise pela relativa riqueza dedados.
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Anlise Qualitativa: Instrumento
instrumento comum para a difrao de p comprocedimento convencional que privilegia a rapidez (tipicoespectro em ca. 1h), conservao da amostra (uma anlisedifratomtrica tipicamente do tipo conservativo) eexatido (em geral o erro no reconhecimento baixo se sedispe de suficiente amostra com boa cristalinidade).
Condies tpicas de coleta
5 < 2 < 55, (2) = 0.02, t = 1s, = 1.5418 (melhor com monocromador ao invs de filtro de nquel)
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Anlise Qualitativa: Amostra
Amostra plana, 10 20 mm; espessura 0,1 - 0,5 mm, moda em almofariz
versatilidade da tcnica permite a anlise de materiaisorgnicos, biolgicos, inorgnicos, metlicos, etc, ainda queem pequenas quantidades (20-30 mg).
Dificuldades podem vir da pouca quantidade de amostra(pouca reprodutibilidade), sobretudo no mbito forense oude conservao do patrimnio cultural.
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Um feixe difratado de raio X por um plano da rede pode ser detectado quando a fonte de raio X, a amostra e o detector esto corretamente orientados para cumprir a lei de Bragg.
A difrao de p
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Uma amostra policristalina (ou p), contm um nmero grande de cristalitos, que adotam aleatoriamente uma das orientaes possveis
A difrao de p
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Assim, para cada ngulo possvel de difrao existem cristais corretamente orientados que cumprem a difrao de Bragg.
A difrao de p
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Cada conjunto de planos em um cristal vai originar um cone de difrao.
A difrao de p
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Cada cone consiste de um conjunto de pontos proximamente espaados, cada um dos quais representa a difrao provocada por um nico cristalito.
A difrao de p
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Formao do padro de difrao
conjunto de planos
amostra de p
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Para obter os dados de difrao de raio X, os ngulos de difrao dos varios cones, 2, precisam ser determinados
As principais tcnicas so a cmera de Debye-Scherrer (filme fotogrfico) ou difratmetro de p.
Mtodos Experimentais
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Mtodos Experimentais: Cmera de Debye-Scherrer
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Mtodos Experimentais: Cmera de Debye-Scherrer
amostra
filme
feixe incidente
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Mtodos Experimentais: Cmera de Debye-Scherrer
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Mtodos Experimentais: Cmera de Debye-Scherrer
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Mtodos Experimentais: Difratmetro de p
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Difratmetro de p: Geometria Bragg-Bretano
A ptica Bragg-Brentano equivalente Geometria Parafocalizadora.
a geometria mais comum nos difratmetros atuais para amostras policristalinas em laboratrio.
Esta geometria tem como centro um gonimetro de raio fixo.
Um gonimetro um instrumento que mede ngulo ou permite que um objeto seja rotado a uma posio angular exata.
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Difratmetro de p: Geometria Bragg-Bretano
O feixe de raios X procedente do tubo (F) incide sobre a amostra, plana, situada sobre o eixo do gonimetro (O).
F
O
2 2
Nestes gonimetros registrada a intensidade dos raios X recebidos no detector (D) frente ao dobro do ngulo de Bragg (2).
(D) (F)
(O)
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Difratmetro de p: Geometria Bragg-Bretano
F
O
2 2
A ptica do feixe difratado est construda de maneira que uma que a fenda situada sobre o crculo do gonimetro re-enfoca o feixe difratado pela amostra (F) e o dirige para o detetor (ou um sistema de monocromatizaointermedirio).
(D) (F)
(O)
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O detector registra os ngulos nos quais as famlias de planos da rede espalham (difratam) os feixes de raio X e as
intensidades dos feixes de raio X difratados.
Mtodos Experimentais
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O detector registra os ngulos nos quais as famlias de planos da rede espalham (difratam) os feixes de raio X e as
intensidades dos feixes de raio X difratados.
Mtodos Experimentais
Inte
nsi
ty
2 degrees
(200) (110)(400)
(310)(301)
(600) (411) (002)(611) (321)
inte
nsi
dad
e
2 (o)
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O detector varre em torno da amostra ao longo de um crculo, de forma a coletar todos os feixes de raio X
difratados
As posies angulares (2) e as intensidades dos picos difratados da radiao (reflexes ou picos) produzem um
padro bidimensional.
Mtodos Experimentais
Inte
nsity
2 degrees
(200) (110)(400)
(310)(301)
(600) (411) (002)(611) (321)
Inte
nsity
2 degrees
(200) (110)(400)
(310)(301)
(600) (411) (002)(611) (321)
inte
nsi
dad
e
2 (o)
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O padro caracterstico do material analisado (fingerprint)
Cada reflexo representa o feixe de raio X difratado por uma famlia de planos da rede (hkl)
Mtodos Experimentais
Inte
nsi
ty
2 degrees
(200) (110)(400)
(310)(301)
(600) (411) (002)(611) (321)
inte
nsi
dad
e
2 (o)
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Mtodos Experimentais
Comparao entre filme & mtodo de contagem para uma amostra de perovskita (BaTiO3)
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Nmero e posies (2) dos picosclasse cristalinatipo de redeparmetros da cela unitria
Intensidade dos picos tipos de tomos
posio dos tomos
Obteno da informao por difrao de p
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identificao de fases desconhecidas
determinao de pureza das fases
determinao e refinamento dos parametros de rede
investigao de mudana de fase
refinamento da estrutura
determinao do tamanho do cristalito
Aplicaes da difrao de p
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Os dados de difrao de p de compostos conhecidos foi compilado em um banco de dados (PDF) pelo Joint Committee on Powder Diffraction Standard (JCPDS)
O difratograma de po de um composto um fingerprinte pode ser usado para identificar o composto.
Programas Search-match so utilizados para comparar difratogramas experimentais com padres de compostos conhecidos includos na base de dados.
Identificao dos compostos
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PDF - Powder Diffraction File
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Product: SrCuO2?
Pattern for SrCuO2from database
Product: Sr2CuO3?
Pattern for Sr2CuO3from database
CuO2SrCO3 2SrCuO
3CuOSr2?
Resultados de reaes no estado slidoResultados de reaes no estado slido
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Quando uma amostra consiste de uma mistura de diferentes compostos, o difratograma resultante mostra reflexes de todos os compostos (padro multifases)
Sr2CuO2F2+
Sr2CuO2F2+ + impurity *
Pureza das fasesPureza das fases
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ZrO2 (monoclinic)
3 mol % Y2O3 in ZrO2 (tetragonal)
8 mol % Y2O3 in ZrO2 (cubic)
Efeito de defeitos
intensidadere
lativa
2 (o)
Efeito de defeitos
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Intensidades dos Feixes DifratadosIntensidades dos Feixes Difratados
monocristal
policristal
5 monocristais idnticos ao (a) com rotacoes do original de0, 25, 39, 43 e 32o.
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Intensidades dos Feixes DifratadosIntensidades dos Feixes Difratados
seo hk0 de TiO2
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Intensidades dos Feixes Difratados
Fator de estrutura Fhkl de uma reflexo hkl, dependente do tipo de tomos e suas posies (x, y, z) (ou u,v,w) na cela unitria.
fi o fator de espalhamento de um tomo i na cela unitria, e esta relacionado com o nmero atmico Z.
i
lzkyhx
iiiie)( i2
hkl fF2
hklhkl FI
Intensidades dos Feixes Difratados
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Intensidades dos Feixes Difratados
FATOR DE MULTIPLICIDADE
A proporcionalidade inclui a multiplicidade para a famlia de reflexes e outros fatores geomtricos.
H planos que, por terem a mesma distncia interplanar, difratam no mesmo pico. o caso, por exemplo, dos planos 100, 010 ou 001 numa clula cbica. Somando-se a esses trs os planos com 1 ao invs de um, temos 6 planos contribuindo para a mesma reflexo, implicando em um fator de multiplicidade 6.
Intensidades dos Feixes Difratados
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Intensidades dos Feixes Difratados
FATOR DE MULTIPLICIDADE
A proporcionalidade inclui a multiplicidade para a famlia de reflexes e outros fatores geomtricos.
Intensidades dos Feixes Difratados
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Intensidades dos Feixes Difratados
So fatores geomtricos que afetam a intensidade difratada
Fator de Lorentz e Fator de Polarizao
Intensidades dos Feixes Difratados
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Intensidades dos Feixes Difratados
Isso se deve ao fato de que o aumento de temperatura afeta o fenmeno da difrao, pois expande a clula unitria e gera efeitos como o deslocamento dos picos, a diminuio da intensidade nos picos e o aumento do background (tambm chamado de radiao de fundo, trata-se das intensidades onde no h picos de difrao).
Efeito de deslocamento
Intensidades dos Feixes Difratados
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A intensidade depende da natureza e posio dos tomos dentro da cela (fator de estrutura Fhkl)
Parmetros
A posio angular (2) depende da forma da cela unitria. (Lei de Bragg)
Parmetros
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Espalhamento e cela unitria
O vetor de onda pode ser expresso como:
A amplitude
diferena de fase da onda
Esta relao aplicvel a qualquer forma de cela unitria.
)cosicos(AAei
Espalhamento e cela unitria
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Espalhamento (Scattering)
Esta expresso soma as ondas espalhadas por cada tomo da cela unitria
f fator de espalhamento atmico
lw)kv(hu2i efeA f
Espalhamento (Scattering)
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Fator de espalhamento atmico f
fato
r d
e es
pa
lha
men
to a
tm
ico
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Espalhamento (Scattering)
Esta expresso soma as ondas espalhadas por cada tomo da cela unitria
incorpora a fase de cada onda em termos das reflexeshkl e das coordenadas uvw de cada tomo.
lw)kv(hu2i efeA f
Espalhamento (Scattering)
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Exemplo: NaCl
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Exemplo: NaClExemplo: NaClExemplo: NaCl
= 1.5406
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Exemplo: NaClExemplo: NaClExemplo: NaCl
Clculo da distncia entre doisplanos 220 (hkl=220) do cristal de NaCl.
A simetria cbica, com parmetros de rede a = b = c = 5.640 .
1d2
= h2 + k2 + l2
a2simetria cbica
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Exemplo: NaClExemplo: NaClExemplo: NaCl
Clculo da distncia entre doisplanos 220 (hkl=220) do cristal de NaCl.a = b = c = 5.640 .
1d 2= h2+ k2+ l2
a2
1d 2= 22+ 22+ 02
(5.640 )2
1d 2= 22+ 22+ 02
(5.640 )2
d = 1.994
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Exemplo: NaClExemplo: NaClExemplo: NaCl
Clculo da distncia entre doisplanos 220 (hkl=220) do cristal de NaCl.a = b = c = 5.640 .
d = 1.994
Clculo do ngulo de Bragg hkl(ngulo onde h um pico de intensidade devido interferncia construtiva das ondas espalhadas) relativo a esse plano
Lei de Bragg: = 2 dhkl sen hkl
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Exemplo: NaClExemplo: NaClExemplo: NaCl
d = 1.994
Clculo do ngulo de Bragg hkl(ngulo onde h um pico de intensidade devido interferncia construtiva das ondas espalhadas) relativo a esse plano
Lei de Bragg: = 2 dhkl senhkl
= 2 d 220 sen 220
sen 220 = 2 d 220
= 1.5406
2 1.994 = 0,3863
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Exemplo: NaClExemplo: NaClExemplo: NaCl
d = 1.994
Clculo do ngulo de Bragg hkl(ngulo onde h um pico de intensidade devido interferncia construtiva das ondas espalhadas) relativo a esse plano
sen 220 = 0,3863
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
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Exemplo: NaCl
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
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Exemplo: NaCl
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
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71
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
72
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Na+ em (0,0,0) + Translaes da Face Centrado (, , 0), (, 0, ), (0, , )Cl em (, 0, 0) + TFC (0, , 0), (0, 0, ), (, , )
(h, k, l) no misturados
]1][[ )()()()( hlilkikhilkhiClNa
eeeeffF
0F 02 F(h, k, l) misturados p.ex. (100), (211); (210), (032), (033)
Zero, ndices misturados
][4 )( lkhiClNa effF
][4 ClNa ffF Se (h + k + l) par22 ][16 ClNa ffF
][4 ClNa ffF If (h + k + l) mpar22 ][16 ClNa ffF
Exemplo: NaCl Rede cbica de face centradaExemplo: NaCl Rede cbica de face centrada
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Clculo da Intensidade I220 NaCl
][4 ClNa ffF Se (h + k + l) par22 ][16 ClNa ffF
][4 ClNa ffF If (h + k + l) mpar22 ][16 ClNa ffF
Naf Clf
?
fator de espalhamento atmico
Exemplo: NaCl
74
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
Os raios X so difratados pelos eltrons de cada tomo.
O espalhamento do feixe de raios X aumenta com o nmero de eltrons e com o nmero atmico do tomo (Z).
O poder de espalhamento do feixe de RX por de um tomo chamado de fator de espalhamento atmico f.
Para metais pesados como o chumbo, Pb, Z = 82, o espalhamento dos RX muito maior que para tomos leves como o carbono, C, Z = 6.
tomos com Z prximos como o cobalto, Co, Z = 27, e nquel , Ni, Z = 28, espalham raios X de forma similar.
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38
75
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
Os fatores de espalhamento atmico foram originalmente determinados experimentalmente, mas podem ser calculados utilizando mecnica quntica.
Os fatores de espalhamento atmico, obtidos por clculos de mecnica quntica para a densidade eletrnica em torno de um tomo, so dados (aproximadamente) pela equao abaixo
=
=1
4
exp
2
+ c
76
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
=
=1
4
exp
2
+ c
c
coeficientes de Cromer-Mann variam para cada tomo ou on
=
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
c
coeficientes de Cromer-Mann variam para cada tomo ou on
Coeficientes de Cromer-Mann para o sdio, ZNa = 11
ndice i
coeficiente 1 2 3 4
4.763 3.174 1.267 1.113
3.285 8.842 0.314 129.424
c 0.676
78
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
Lei de Bragg: = 2 dhkl sen hkl
O fator de espalhamento fortemente dependente do
ngulo
=
=1
4
exp
2
+ c
=
1
2 dhkl
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
O fator de espalhamento fortemente dependente do
ngulo
=
=1
4
exp
2
+ c
=
1
2 dhkl
As curvas para o fator de espalhamento de todos os tomos tm uma forma similar.
80
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
quando
= 0
o fator de espalhamento f igual ao nmero atmico Z do elemento em questo.
Br
f
C, Z = 6
O, Z = 8
Ca, Z =20
Cl, Z =17
O
Ca2+
Fe, Z =26
Br , Z =35
Fe2+
Cl
H, Z = 1H
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico f
quando
= 0
Br
f
C, Z = 6
O, Z = 8
Ca, Z =17
Cl, Z =20
O
Ca2+
Fe, Z =26
Br , Z =35
Fe2+
Cl
H, Z = 1H
o fator de espalhamento f do elemento sdio, com Z = 11, igual a 11.
82
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Fator de espalhamento atmico fPara ons, o fator de espalhamento f tambm dependente do numero de eltrons presentes.
quando
= 0
Ca2+
Ca2+= Ca - 2= 20 2 = 18 Ca2+= 18
Cl = Cl + 1= 17 1 = 18
Cl= 18
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Ignez
Caracelli
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Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
][4 ClNa ffF Se (h + k + l) par22 16 ][ ClNa ffF
Fator de espalhamento atmico f
0.00
2.00
4.00
6.00
8.00
10.00
12.00
14.00
16.00
18.00
0.00 0.10 0.20 0.30 0.40 0.50 0.60
Srie1
Srie2
Cl
Na+
Exemplo: NaCl
=
1
2 dhkl
=
1
2 1.994
= 0,2507
84
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
][4 ClNa ffF Se (h + k + l) par22 ][16 ClNa ffF
Fator de espalhamento atmico f
10.55
7.62
Cl
Na
f
f
0.00
2.00
4.00
6.00
8.00
10.00
12.00
14.00
16.00
18.00
0.00 0.10 0.20 0.30 0.40 0.50 0.60
Srie1
Srie2
Cl
Na+
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85
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
][4 ClNa ffF Se (h + k + l) par22 ][16 ClNa ffF
Fator de espalhamento atmico f
10.55
7.62
Cl
Na
f
f
86
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
][4 ClNa ffF Se (h + k + l) par22 ][16 ClNa ffF
10.55
7.62
Cl
Na
f
f
]..[ 55106274 F
6872.F
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Ignez
Caracelli
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Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
220 = 2 p
1+22
2 cos e2M
= 72.68
88
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
p = 12
= ?
220 = 2 p
1+22
2 cos e2M
= 72.68
= ? slide 65
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
220 = 2 p
1+22
2 cos e2M
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
1+22
2 cos =
1+245.44
222.72 cos 22.72=1+ 0.492
0.1490.922
1+22
2 cos =1+ 0.492
0.1490.922=1.492
0.137= 10.856
90
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
220 = 2 p
1+22
2 cos e2M
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
220 = 72.682 12 10.856 e2M
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I220 NaCl
220 = 2 p
1+22
2 cos e2M
220 = 22.72o
2 220 = 45.44o
220 = 72.682 12 10.856 e2M
220 = 72.682 12 10.856
220 = 6.881 105 . .
92
Ignez
Caracelli
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Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaClA simetria cbica, com parmetros de rede a = b = c = 5.640 .
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
1. Calcular o ngulo de Bragg
dhkl A simetria cbicaa = b = c = 5.640
1d2
= h2 + k2 + l2
a2simetria cbica
= 15.86o
94
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
2. Calcular sin
sin
= 0,15
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Ignez
Caracelli
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Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
3. Determinar +
+ = 9,02
= 13,5
Fator de espalhamento atmico f
0.00
2.00
4.00
6.00
8.00
10.00
12.00
14.00
16.00
18.00
0.00 0.10 0.20 0.30 0.40 0.50 0.60
Srie1
Srie2
Cl
Na+
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Clculo da Intensidade I200 NaClExemplo: NaCl
4. Determinar o fator de estrutura 200
200
F200 =
Na+ em (0,0,0) + Translaes da Face Centrado (, , 0), (, 0, ), (0, , )Cl em (, 0, 0) + TFC (0, , 0), (0, 0, ), (, , )
F200 = 90
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
200 = 2 p
1+22
2 cos e2M
5. Determinar o fator de multiplicidade p
98
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
200 = 2 p
1+22
2 cos e2M
5. Determinar o fator de Lorentz e de polarizao
ngulo de Bragg (ngulo onde h um pico de intensidade devido interferncia construtiva das ondas espalhadas) relativo a esse plano
Lei de Bragg: = 2 dhkl sen
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Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
200 = 2 p
1+22
2 cos e2M
5. Determinar o fator de Lorentz e de polarizao
= 15.86o 23.86
100
Ignez
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Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
200 = 2 p
1+22
2 cos e2M
6. Calcular a intensidade
200 =11.59 105 u.a.
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Ignez
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FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Exemplo: Clculo da Intensidade I200 NaCl
6. Relacao I200/I220
200 =11.59 105 . .
220 = 6.88 105 . .
220
200
=6.88
11.59~ 0,60
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Ignez
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Indexao de Padres de
Difrao
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Ignez
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Informao em um padro de difrao
2 (o)
inte
nsi
dad
e
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Ignez
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Os dados de difrao de raio X de uma amostra policristalinapermitem determinar:
a composio da(s) fase(s) cristalina(s)(analise qualitativa e quantitativa);
os ndices dos picos de Bragg, as intensidades integradas e parmetros de cela muito precisos;
a distribuio dos tomos na cela unitria, a estrutura cristalina e, onde pertinente, molecular;
diversas caratersticas (micro)estruturais.
Difrao por p (2D)
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Ignez
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Objetivos
indexar um padro de difrao de raio X
identificar a rede de Bravais
calcular os parmetros de rede
106
Ignez
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FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Resulta de duas coisas:
1. Tamanho e forma das celas unitrias, que
determinam as posies relativas dos picos de
difrao .
2. Posies atmicas dentro da cela unitria,
determinam as intensidades relativas dos picos de
difrao.
Informao de um padro XRD
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Ignez
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Espaamento d
ortorrmbico
cbico
tetragonal
hexagonal
rombodrico
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Ignez
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monoclnico
triclnico
Para cristais triclnicos:
V volume da cela unitria
Espaamento d
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Ignez
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Espaamento d
()
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Ignez
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Indexar um padro de difrao de p significa que dadas as posies dos picos, utilizamos esa informao paradeterminar:
Os ndices hkl de cada pico,
As dimenses da cela unitria,
As ausncias sistemticas, que do informao sobre o grupo espacial
Indexao Manual
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Ignez
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Consiste dos seguintes passos
1. determinar o espaamento d de cada pico a partirdo valor de 2 (utilizando a Lei de Bragg)
2. criar uma tabela de 1/d para cada pico
3. procurar um fator comum (1/a2) que possa dividircada um dos valores de 1/d2
Indexao Manual
112
Ignez
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Cbica: 1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
Tetragonal: 1/d2 = {(h2 + k2)/a2} + (l2/c2)
Ortorrmbico: 1/d2 = (h2/a2) + (k2/b2) + (l2/c2)
Hexagonal: 1/d2 = (4/3){(h2 + hk + k2)/a2} + (l2/c2)
Monoclnico: 1/d2 = (1/sin2 ){(h2/a2) + (k2 sin2 /b2) + (l2/c2) (2hlcos /ac)}
Lei de Bragg: = 2 dhkl sen hkl
refelexo hkl dada pelas dimenses da celaunitria
Espaamento interplanar, d
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EXEMPLO: indexao - objetivos
ndices hkl de cada pico
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2-theta theta d 1000/d2
28.077 14.03932.533 16.26746.672 23.33655.355 27.67858.045 29.02368.140 34.07075.247 37.62477.559 38.780
EXEMPLO 2: como indexar?
Lei de Bragg: = 2 dhkl sen hkl
dhkl = /(2 sen hkl)
= 1.5406 Cbica:1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
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Ignez
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FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta theta d 1000/d2
28.077 14.039 3.175 99,232.533 16.267 2.750 132,246.672 23.336 1.945 264,355.355 27.678 1.658 363,858.045 29.023 1.588 396,668.140 34.070 1.375 528,975.247 37.624 1.262 627,977.559 38.780 1.230 661,0
EXEMPLO 2
= 1.5406
99,2 no o fator comum!
busca do fatorcomum
Cbica:1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
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Ignez
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2-theta theta d 1000/d2
28.077 14.039 3.175 99.232.533 16.267 2.750 132.246.672 23.336 1.945 264.355.355 27.678 1.658 363.858.045 29.023 1.588 396.668.140 34.070 1.375 528.975.247 37.624 1.262 627.977.559 38.780 1.230 661.0
EXEMPLO 2
= 1.5406
busca do fatorcomum
Mas 132.2 99.2 = 33 pode ser
()Cbica:1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
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2-theta theta d 1000/d2
28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=332.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=446.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=855.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=1158.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=1268.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=1675.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=1977.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20
EXEMPLO 2
= 1.5406
Mas 132.2 99.2 = 33 pode ser
Cbica:1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
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2-theta theta d 1000/d2 hkl28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=332.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=446.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=855.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=1158.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=1268.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=1675.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=1977.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20
EXEMPLO 2
= 1.5406
Cbica:1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
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Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta theta d 1000/d2 hkl28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=332.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=446.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=855.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=1158.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=1268.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=1675.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=1977.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20
= 1.5406
Cbica:1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2EXEMPLO 2
120
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta theta d 1000/d2 hkl28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=332.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=446.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=855.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=1158.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=1268.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=1675.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=1977.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20
EXEMPLO 2
= 1.5406
10/29/2017
61
121
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta theta d 1000/d2 hkl28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=332.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=446.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=855.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=1158.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=1268.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=1675.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=1977.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20
EXEMPLO 2
= 1.5406
122
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta theta d 1000/d2 h2 + k2 + l2 hkl28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=3 111
32.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=4 200
46.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=8 220
55.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=11 311
58.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=12 222
68.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=16 400
75.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=19 331
77.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20 420
= 1.5406
EXEMPLO 2
10/29/2017
62
123
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta theta d 1000/d2 h2 + k2 + l2 hkl28.077 14.039 3.175 99.2 99,2/33=3 111
32.533 16.267 2.750 132.2 132,2/33=4 200
46.672 23.336 1.945 264.3 264,3/33=8 220
55.355 27.678 1.658 363.8 363,8/33=11 311
58.045 29.023 1.588 396.6 396,6/33=12 222
68.140 34.070 1.375 528.9 528,9/33=16 400
75.247 37.624 1.262 627.9 627,9/33=19 331
77.559 38.780 1.230 661.0 661,0/33=20 420
EXEMPLO 2
= 1.5406
rede cbica de face centrada
124
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
Qual o parmetro da cela unitria?
EXEMPLO 2
Cbica: 1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2
10/29/2017
63
125
Ignez
Caracelli
FIS - 670 -Tpicos de Fsica Aplicada 1 Cristalografia Aplicada
2-theta d 1000/d2 h2 + k2 + l2 hkl a28.077 3.175 99.2 99,2/33=3 111 5.499
32.533 2.750 132.2 132,2/33=4 200 5.501
46.672 1.945 264.3 264,3/33=8 220 5.502
55.355 1.658 363.8 363,8/33=11 311 5.499
58.045 1.588 396.6 396,6/33=12 222 5.501
68.140 1.375 528.9 528,9/33=16 400 5.500
75.247 1.262 627.9 627,9/33=19 331 5.501
77.559 1.230 661.0 661,0/33=20 420 5.501a = 5.501
EXEMPLO 2
= 1.5406
rede cbica de face centrada 1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2