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ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
Concepção de Circuitos Integrados AnalógicosENG 04055
Eric Fabris
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
Informações Gerais
• Créditos semanais: 4
• Caráter: eletiva
• Professor:
– Eric Ericson Fabris (Teoria,
[email protected], sala 302)
• Atendimento: Segunda 14:30-17:30 – Sala 302
• Página da disciplina:
www.ece.ufrgs.br/~fabris
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Objetivos
• Capacitar os alunos para projetar de circuitos integrados empregando TJB e MOSFET.
• Introduzir conceitos vinculados com a tecnologia de fabricação planar.
• Apresentar os modelos elétricos dos dispositivos empregados no projeto de circuitos integrados analógicos e suas técnicas de simulação.
• Apresentar as características dos dispositivos passivos disponíveis.
• Analisar a estrutura interna de amplificadores operacionais e alguns sub-circuitos normalmente utilizados.
• Qualificar o aluno em projeto de circuitos analógicos, apresentando:– Topologias clássicas e específicas
– Técnicas de layout
– Estratégias de projeto
– Cuidados e pontos críticos no fluxo de projeto
• Introduzir algumas noções básicas de projetos para alta freqüência.
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Pré-requisitos
• Conhecimentos de circuitos elétricos
(linearidade, superposição, equivalentes
Thevenin e Norton, equacionamento de
nós e malhas, fontes controladas,
quadripolos)
• Conhecimentos básicos de física (estado
sólido) e matemática (sistemas de
equações e equações de segundo grau).
• Eletrônica fundamental (Eng04447)
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Metodologia de Ensino
• Aulas expositivas
• Atividades extra-classe
– É fundamental, que o aluno exercite fora de
aula o conteúdo desenvolvido.
– É igualmente importante que o aluno
complemente seu aprendizado através de
outras fontes de informação (livros, manuais,
periódicos, etc).
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Programa da Disciplina
1. Introdução e revisão de conceitos
2. Processos de fabricação CMOS e BiCMOS
3. Componentes ativos e passivos
4. Modelos elétricos de transistores MOS e BJT
e resposta em freqüência
5. Simulação elétrica – SPICE
6. Sub-Blocos básicos – Amplificadores,
referências e espelhos de corrente
7. Ruído em dispositivos integrados
8. Amplificadores (OTA) e compensação interna
9. Leiaute e implementação física
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Bibliografia
• CMOS Analog Circuit Design, Phillip E. Allen and Douglas R. Holberg, Jan 2002. OXFORD.
• MICROELETRÔNICA; SEDRA, ADEL S. & SMITH, KENNETH C.; Makron Books, 5ª edição (Bliblioteca da Engenharia)
• Analysis and Design of Analog Integrated Circuits (4th Edition); Gray, Hurst, Lewis and Meyer. 2001. Wiley.
• Analog Integrated Circuit Design; D. Johns and K. Martin, John Wiley and Sons,Inc., 1997
• The Art of Analog Layout – 2nd Ed.; A. Hastings, Prentice-Hall, Inc., 2005
• Notas de Aulas.
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• Está previsto a aplicação de duas provas teóricas cuja média MP será calculada da seguinte forma:
• (1)
• A média dos trabalhos teórico-práticos e projetos propostos em aula, denominado de TP, é determinada por:
• (2)
• onde Tm são as notas dos m trabalhos, seminários ou projeto.
• O conceito (MF) é então calculado através de:
• (3)
Sistema de Avaliação
2
21 PPMP
M
T
TP
M
i
M 1
3
*2 TPMPMF
9
Cronograma
Datas das Provas:
P1
15 de Outubro de 2010
P2
10 de Dezembro de 2010
EX
17 de Dezembro de 2010
Semana Tópico
01 11 Ago 1
02 18 Ago 2
03 25 Ago 3
04 01 SET 4
05 08 SET 4
06 15 SET 5
07 22 Set 6
08 29 Set 6
09 06 OUT 6
10 13 OUT Exercícios - P1 (15-OUT)
11 20 OUT Semana Acadêmica
12 27 Out 7
13 3 NOV 8
14 10 NOV 8
15 17 NOV 8
16 24 Nov 9
17 01 DEZ 9
18 08 DEZ Exercícios - P2 (10-DEZ)
19 15 Dez TCC – Exame
20 22 Dez Resultados Finais
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Ferramentas de EDA
• Simulação elétrica
– Spice OPUS
• Leiaute
– Magic
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Objetivo do Curso
• Ensinar os princípios básicos para projeto de
circuitos integrados analógicos empregando
tecnologia CMOS.
Especificações
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Por que Analógico?
• Circuito analógico:
– Dispositivos podem operar em qualquer
condição corrente-tensão fisicamente
atingível
– Lida com sinais em uma ampla faixa de
magnitudes e frequências
– Opera com sinais “contínuos” no tempo e na
amplitude
• Em última instância, TODO circuito é
analógico, mesmo os “digitais”!!!
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Por que CMOS?
• É a tecnologia que apresenta o melhor custo-benefício para os circuitos digitais:– Poucas etapas de fabricação
– Alta escala de integração
– Operação com baixo consumo
– Alta velocidade
– Escalabilidade (scaling)
• Como a maior parte dos circuitos atuais é digital, procura-se adequar as etapas analógicas a esta tecnologia
• BiCMOS é uma possibilidade quando as etapas analógicas necessitam um desempenho que a tecnologia CMOS não permite
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Metodologia de Desenvolvimento
• Pense primeiro, antes de sair projetando!
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O que é o Projeto Analógico?
• Definição de Projeto (Design)
– Criar ou executar algo de forma artística ou
empregando técnicas muito apuradas.
Análise versus Síntese (Projeto)
AnáliseSistema Propriedades
Fluxo do Processo de Análise
Sistema 1
Sistema 2
Sistema 3
Projeto(Síntese)
Propriedades
Fluxo do Processo de Projeto
Análise – Dado um sistema busca-se
encontrar suas propriedades. A solução é
única.
Projeto – Dado um conjunto de
especificações, busca-se encontrar um
sistema que as possua. A solução raramente
é única.
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O que é projeto elétrico
• É o processo pelo qual, a partir de um conjunto de especificações, encontra-se um circuito elétrico que as implementa.
Topologia
Correntes DC
Polarização
Dimensionamento
Projeto Integrado
AnalógicoConjunto de
Especificações
• O projeto elétrico requer modelos elétricos de dispositivos ativos e passivos para:– Desenvolver o projeto
– Verificar o projeto
– Testar a robustez do projeto
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Projeto Elétrico
• Seleção de uma topologia que a atenda funcionalidade desejada
• Avaliação da solução proposta– Pontos fortes e fracos
– Desempenho – teórico
• Modificar a solução proposta para atender as specs.
• Simulação empregando modelos precisos.
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Projeto Físico
• O projeto físico consiste em representar o projeto elétrico através de um leiaute composto por distintos retângulos em diversos níveis. Este leiaute, através do processo de fabricação, dará origem uma estrutura tridimensional que implementa o circuito integrado.
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Leiaute
• Tem como entrada o W–L e o esquema elétrico do sistema (normalmente o utilizado para simulação).
• Uma ferramenta de CAD é empregada para posicionar cada elemento geométrico (retângulo) na camada correta e posição correta.
• Durante o processo de leiaute o projetista precisa obedecer um conjunto de regras de desenho (Design rules) que são vinculadas ao processo de fabricação.
– As regras de desenho garantem a robustez e confiabilidade de fabricação.
• Acabado o leiaute, inicia-se o processo de verificação através da etapa inicial chamada LVS – Layout versus schematic
– O LVS busca verificar se o implementado fisicamente no leiaute representa o esquema elétrico do sistema.
• Findo o leiaute, tem-se a dimensão física do sistema que permite a extração de elementos parasitas que integrarão o circuito fabricado.
– Capacitância de um condutor para o terra
– Capacitâncias entre condutores
– Resistências de corpo, de conexão, etc.
• Os parasitas são extraídos e inseridos na base de dados do sistema para ressimulação.
– Verifica-se se os parasitas alteraram as características do circuito originalmente projetado fazendo cair fora do envelope de perfomance.
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Encapsulamento – Packging
• Objetivo
– Proteção mecânica do CI
– Dissipara potência (calor)
– Prover a conexão elétrica e mecânica com o mundo exterior
• O encapsulamento tem impacto em:
– Parasitas (indutores e capacitores)
– Velocidade
Passos no processo de encapsulamento
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Etapa de Teste
• Realizar a caracterização de desempenho do
sistema projetado
– Performance real x Especificações
– Comparar resultados medidos com simulações e
predições de comportamento
• Tipos de testes:
– Funcionais – verificação de parâmetros nominais de
desempenho
– Paramétrico – busca caracterizar as tolerâncias
– Estático – Características estáticas DC e AC do
sistema
– Dinâmicos – Caracterização do sistema sob efeito de
transientes.
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Tecnologias de Fabricação de CI
Classificação das Tecnologias base Si
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Comparação Tecnologia Bipolar x MOS
• Comparação visando propriedades Analógicas
• Qual a melhor opção – Bipolar ou CMOS
– Quase todas a comparações são favoráveis ao BJT, mas se as comparações
forem feitas sob a ótica digital a tec CMOS se ressalta
– Volume de produção é guiado por demanda de sistemas digitais. Logo CMOS é a
opção.
• Adicionalmente
– O potencial de evolução tecnológico para CMOS é maior que para BJT
– CMOS – Aumento de performance vem com diminuição do comprimento do canal.
– BiCMOS é a opção para sistemas com sinais mistos.
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Processo de Fabricação
• Etapas de fabricação
– Oxidação
– Implantação Iônica
– Difusão térmica
– Decapagem – Etching
– Deposição
– Crescimento epitaxial
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Fotolitografia
• Emprego de Fotoresiste Positivo
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Fotolitrografia
• Emprego de Fotoresiste Negativo– Não muito utilizado
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Influência da Tecnologia no Projeto de CI Analógico
• Característica do Projeto Analógico
Integrado:
– Sinais de amplitude contínuo
– Tempo contínuo ou discreto
– O processamento de sinais depende:
• Resistências, condutâncias e capacitâncias
• Constantes de tempo – RxC
– Faixa dinâmica – Relação entre o menor e
maior sinal processado
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Influência da Tecnologia no Projeto de CI Analógico
• Influência da tecnologia de integração:– A precisão do processamento dos sinais depende a
razão de valores
– A faixa dinâmica depende basicamente da linearidade dos dispositivos e do ruído gerado por eles
– Os valores dos componentes são limitados pelo consumo de área ($$$)
– Introdução de elementos parasitas: resistores, capacitores e indutores
• Isto causa desvios do comportamento esperado
– Influência de circuitos adjacentes fabricados no mesmo substrato
• Crosstalk, ruído induzido, etc.
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Componentes das tecnologias modernas CMOS
• As tecnologias nos fornecem além dos xtores:– Poços profundos n que podem ser utilizados para
reduzir ruído de acoplamento
– Capacitores MOS variáveis (Varctors) – VCO
– Vários níveis de metal (>6)• Possibilitam construir capacitores, indutores e linhas de
transmissão
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Componentes das tecnologias modernas CMOS
• Frequência de
transição em função
de Vgs-Vt (0,13µm)
• Para NMOS entre
40GHz e 60 GHz
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Capacitores
• Os erros relativos são inversamente a área
(valor das capacitâncias) e a razão entre elas
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Resistores
• Tipos de resistores
– Resistores implantados e/ou difundidos
– Resistores de poço
– Resistores de polisilício
– Resistores de metal
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Indutores planares
• Implementados empregando as camadas metálicas– As camadas mais altas são recomendadas
– Mais de uma camada pode ser utilizada
– Simulação eletromagnética – maior exatidão
– Otimização requerida – freqüência auto-ressonante
– Valores típicos: L=1 – 8nH e Q = 3-6 em 2GHz
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Exemplo - Corte transversal
• Exemplo de um dispositivo acabado em uma
tecnologia moderna com vários níveis de metal
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Efeitos de Descargas Eletrostáticas – ESD
• O efeito de carga eletrostática ocorre quando 2 materiais são colocados em
contato e depois separados.
• O efeito de ESD ocorre quando a carga armazenada é descarregada.
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Simulação SPICE
Simulation Program with Integrated Circuit
Emphasis
Descrição textual do circuito
Vários formatos: Spectre, HSPICE, Eldo, Spice
Berkeley
O Simulador que utilizaremos chama-se Spice
Opus
Desenvolvido sobre o núcleo do SPICE Berkeley
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Sintaxe SPICE
Unidades
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
f 10-15
p 10-12
n 10-9
u 10-6
m 10-3
k 103
Meg 106
G 109
T 1012
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Sintaxe SPICE
Primeira linha pode ser usada
como título ou comentário
É ignorada pelo parser do
simulador
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Sintaxe SPICE
Comentários devem ser
precedidos de *
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Sintaxe SPICE
Diretiva .include permite a
inclusão de dispositivos como
transistores ou modelos de sub-
circuitos.
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Sintaxe SPICE
Diretiva .include permite a
inclusão de dispositivos como
transistores.
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Sintaxe SPICE
Dispositivos
Resistor: Rnome
Capacitor: Cnome
Indutor: Lnome
Transistor
MOS: Mnome
BJT: Qnome
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Arquivo de Parâmetros SPICE
* These parameters are extracted from the process corner wafers that are provided by AMI
* In this document slow-fast means: NMOS device slow and PMOS device fast.
* The fast-slow corner means: NMOS fast and PMOS slow.
* DATE: May 22/02
* Tech: AMI_C5N
* LOT: T22Y_TT (typical) WAF: 3104
* Temperature_parameters=Optimized
.MODEL CMOSN NMOS ( LEVEL = 53
+VERSION = 3.1 TNOM = 27 TOX = 1.39E-8
+XJ = 1.5E-7 NCH = 1.7E17 VTH0 = 0.6696061
+K1 = 0.8351612 K2 = -0.0839158 K3 = 23.1023856
+K3B = -7.6841108 W0 = 1E-8 NLX = 1E-9
+U0 = 458.439679 UA = 1E-13 UB = 1.485499E-18
(...)
+AGS = 0.1194608 B0 = 2.674756E-6 B1 = 5E-6
+KETA = -2.640681E-3 A1 = 8.219585E-5 A2 = 0.3564792
+AF = 1 KF = 0)
*
.MODEL CMOSP PMOS ( LEVEL = 53
+VERSION = 3.1 TNOM = 27 TOX = 1.39E-8
+XJ = 1.5E-7 NCH = 1.7E17 VTH0 = -0.9214347
+K1 = 0.5553722 K2 = 8.763328E-3 K3 = 6.3063558
+K3B = -0.6487362 W0 = 1.280703E-8 NLX = 2.593997E-8
(...)
+CDSCB = 0 ETA0 = 0.3251882 ETAB = -0.0580325
+CJ = 7.235528E-4 PB = 0.9527355 MJ = 0.4955293
+CJSW = 2.692786E-10 PBSW = 0.99 MJSW = 0.2958392
+AF = 1 KF = 0)
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Sintaxe SPICE
Fonte DC
Vnome
+ nodo1+
+ nodo2-
+ DC tensão
DC
nodo1+
nodo2-
AC
nodo1+
nodo2-
Fonte Senoidal
Vnome
+ nodo1+
+ nodo2-
+ sin(offset amplitude
+ freqüência tempo_inicio
+ )
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Fonte Pulso
Vnome
+ nodo1+
+ nodo2-
+ pulse(
+ tensão+
+ tensão-
+ atraso_inicial
+ tempo_subida
+ tempo_descida
+ largura_pulso
+ período
+ )
Sintaxe SPICE
t [s]
VSource
[V]
período
tensão+
tensão-
atr
aso
_in
icia
l
tem
po
_su
bid
a
tem
po
_d
escid
a
larg
ura
_p
uls
o
0
nodo1+
nodo2-
Pulse
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Fonte PWL (piece-wise linear)
Vnome
+ nodo1+
+ nodo2-
+ pwl(
+ t0 tensão0
+ t1 tensão1
+ t2 tensão2
+ t3 tensão3
+ t4 tensão4
...
+ )
Sintaxe SPICE
t [s]
VSource
[V]
tensão2
tensão1
t0 t1 t2 t3 t4
nodo1+
nodo2-
PWL
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Sintaxe SPICE
Capacitor
Cnome
+ node1+
+ node2-
+ capacitância
Resistor
Rnome
+ node1+
+ node2-
+ resistência
nodo1+
nodo2-
nodo1+
nodo2-
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Transistor MOS
Mnome
+ dreno porta fonte
+ bulk modelo
+ W=valor L=valor
+ AS=valor PS=valor
+ AD=valor PD=valor
* Possíveis modelos geralmente se
encontram em um arquivo de
parâmetros SPICE.
Sintaxe SPICE
W Largura do canal
L Comprimento do canal
AS Área do terminal fonte (source)
PS Perímetro do terminal fonte
AD Área do terminal dreno (drain)
PD Perímetro do terminal dreno
porta
drenofonte
bulk
porta
drenofonte
bulk
L
W
Wcontato
A = Wcontato
x W
P = 2Wcontato
+ W
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Sintaxe SPICE
Diretivas de Simulação
No Spice OPUS, as diretivas de
simulação ficam delimitadas
pelo bloco .control/.endc.
Permite realizar análises sobre o
comportamento do circuito e
apresentação dos resultados na
forma gráfica.
Vamos realizar apenas análise
transiente (TRAN) e DC.
Outras análises como AC,
NOISE, TF, OP, etc. podem ser
feitas consultando o manual
SPICE.
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Sintaxe SPICE
Diretivas de Simulação
Análise DC
DC fonte1 inicio1 fim1 passo1
fonte2 inicio2 fim2 passo2
...
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 dc 0
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
dc v2 0 5 0.01
plot out
plot -i(v1)
.endc
.end
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Sintaxe SPICE
Diretivas de Simulação
Análise Transiente
TRAN passo tempo_simulação
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
Sintaxe SPICE
Diretivas de Simulação
Gerando Gráficos
PLOT v(nodo1) v(nodo2) ...
i(v1) i(v2) ...
Inversor CMOS
.include amis_c5n.txt
* Fontes de alimentação
V1 vdd 0 dc 5
V2 in 0 pulse(0 5 0 200p 200p 2n 4n)
* Transistores
M1 vdd in out vdd CMOSP l=0.5u w=2.4u
+ pd=5.4u ad=1.2p ps=5.4u as=1.2p
M2 out in 0 0 CMOSN l=0.5u w=1.2u
+ pd=4.2u ad=0.6p ps=4.2u as=0.6p
* Capacitor
C1 out 0 10f
* Diretivas de simulação
.control
tran 0.1p 5n
plot in out
.endc
.end
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Transistor de Efeito de
Campo de Porta Isolada
MOSFET - Revisão
75
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
Tipicamente:
• L = 0,065 até 10 mm,
• W = 0,1 atéo 100 mm
• Espessura da camada de óxido (tox) é na faixa
de 2 a 50 nm.
NMOS: estrutura física
• NMOS → substrato tipo P
• Dispositivo simétrico
• Dispositivo de 4 terminais
– Porta, Dreno, Fonte e
Substrato (gate, drain, source
e Bulk)
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TERMINAIS
G: porta (gate)
S: fonte (source)
D: dreno (drain)
B: substrato (bulk)
Simbologia e terminais do MOSFET
Símbolos NMOS
Símbolos PMOS
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
•as regiões de dreno e fonte (tipo N)
formam junções (diodos) com a
região de substrato (tipo P)
•envolvendo cada uma das junções
surgem zonas de depleção (elétrons
livres da região N atravessam a
interface e preenchem as lacunas
livres da região P, fazendo com que
não sobrem cargas livres nessa
região)
•como a concentração de dopantes
das regiões de dreno e fonte é muito
maior que a do substrato, a região de
depleção para dentro de dreno e
fonte é muito pequena
Sem potenciais aplicados (VGS = 0)
Funcionamento
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
•o potencial VGS aplicado entre porta
e substrato atrai elétrons livres e
afasta lacunas livres da interface
óxido-substrato: surge uma região
de depleção entre a interface e o
substrato, ligando as regiões de
depleção das junções
Pequeno potencial aplicado (VGS < Vt)
Funcionamento - depleção
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
•se o potencial VGS aumentar, a
concentração de elétrons livres
aumenta na interface óx-subs
•quando a concentração de elétrons
livres for maior que a de lacunas fixas
(dopantes) ocorre a condição de
INVERSÃO
•em inversão há o surgimento de um
“canal” de material tipo N induzido
entre dreno e fonte
•o valor de VGS em que ocorre a
inversão é chamado de potencial de
threshold (Vt)
Aumento do potencial aplicado (VGS > Vt): condição de inversão
Funcionamento - inversão
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Polarização de MOSFETs
• Regiões de operação:– Nível de inversão: tem relação com a densidade de
carga de inversão (portadores) que é formada na superfície do substrato e que compõe o “canal” entre dreno e fonte. Esta carga é induzida devido ao efeito “capacitor MOS”, estando relacionada à polarização VGS (ou VGB). Divide-se em 3 níveis: fraca (WI), moderada e forte (SI).
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Polarização de MOSFETs
• Regiões de operação:– Condição de saturação: tem relação com a
deformação do canal, provocada pela diferença de potencial aplicada entre dreno e fonte. Em SI, quando o potencial VDS for superior a VGS-VT, ocorre o estrangulamento do canal, o que provoca o aumento súbito da impedância entre dreno e fonte. Divide-se em 2 regiões: “linear” (ou ôhmica ou triodo) e saturação.
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• vGS > Vt
• vDS pequeno (vDS < vGS – Vt’ )
• Dispositivo funciona como
um resistor controlado por vGS
• A condutância do canal é
proporcional a vGS – Vt’
• A corrente iD é proporcional a
(vGS – Vt) vDS
Operação do Canal Induzido na Região Ôhmica
Funcionamento – região ôhmica
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Região ôhmica – iD x vDS
Resistor linear controlado por vGS
Condição: vDS deve ser mantido pequeno (vDS << vGS – Vt )
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• Aumentando vDS:o nível de inversão
varia ao longo do canal, como
resultado da diferença de potencial
entre a posição no canal e o terminal
de porta
• O canal assume uma forma gradual.
• A resistência do canal aumenta com
o aumento de vDS.
•o comportamento iD x vDS passa a ser
não-linear
(vGS é mantido constante em um valor
tal que vGS – vDS > Vt ))
Dependência de Rcanal em VDS
Região ôhmica – canal gradual
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Dependência de Rcanal em VDS
Região ôhmica – canal gradual
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Saturação do canal:
• Redução da condutividade local em função de vDS
• Quando vDS = vGS – Vt, o canal “descola-se” do dreno (pinch-
off)
• Aumento vDS acima de vGS – Vt tem pouco efeito na forma
do canal (corrente passa a ser independente de vGS )
Saturação do canal
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Curva completa iD x vDS : saturação do canal
Saturação - iD x vDS
vGS > Vt
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Polarização de MOSFETs
NMOS: comportamento iD x vDS
SI:
WI:
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Polarização de MOSFETs
NMOS: iD x vGS em saturação e inversão fraca (WI)
Id [A]
Vgs [V]
Vsub= 0 V Vsub= -2,5 V Vsub= -5 V
Vds= 2V
t
GSDD
n
V
L
WII
exp0
tDSV 4Saturação: qkTt /
)3,1.(;6,11,1 tipn
WI
SI
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Polarização de MOSFETs
NMOS: iD x vGS erros nas aproximações de WI e SI
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k’n (W/L) = 1.0 mA/V2.
NMOS: curva completa iD x vDS
Modelo Analítico Simples
2'
2
1DSDStGSnD VVVV
L
WkI
tGSDS VVV Triodo:
2'
2
1tGSnD VV
L
WkI
tGSDS VVV Saturação:
oxnn Ck m'
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
Vt = 1 V, k’n W/L = 1.0 mA/V2
NMOS: curva iD x vGS em saturação
NMOS em Saturação
2'
2
1tGSnD VV
L
WkI
tGSDS VVV Saturação:
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Transistor NMOS
Modelo para grandes sinais em saturação
Modelo para Grandes Sinais
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Transistor NMOS
Níveis relativos de tensão entre os terminais
Tensões nos Terminais
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Aumentando vDS além de vDSsat causa o distanciamento do ponto
de pinch-off em relação ao dreno, reduzindo o comprimento efetivo
do canal por ΔL.→ pequena variação de iD com vDS .
Efeito de modulação do comprimento efetivo do canal
em função de vDS , em saturação
Condutância de Saída
ENG04055 – Concepção de CI Analógicos – Eric Fabris
• O parâmetro VA depende da tecnologia de processo.
• VA é proporcional ao comprimento do canal L.
• Quanto maior o L maior a impedância de saída.
VA: tensão de Early
DQ
Ao
I
Vr
Dependência de iD com vDS: o efeito Early
Condutância de Saída
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NMOS: modelo para grandes sinais em saturação,
incluindo o efeito Early
Condutância de Saída
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PMOS: níveis relativos de tensão entre os terminais
Transistor PMOS
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SSDSGS VIRV
2'
2
1tGSnD VV
L
WkI
oxnn Ck m'
tGSDS VVV
2'
2
1DSDStGSnD VVVV
L
WkI
tGSDS VVV
DSDSSDDDS IRRVVV
Região de Saturação:
Região de Triodo:
SSDSGS VIRV
Polarização
tGSOVD VVV
Tensão de Overdrive
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2'
2
1tGSnD VV
L
WkI
Região de Saturação:
GSDS VV tGSDS VVV
DDDGS VRIV
Autopolarização
O transistor está sempre em
Saturação!
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12 GSGS VV 12 DD II
Desde que ambos estejam saturados!
Espelho de corrente
Necessita transistores IDÊNTICOS!!!
A corrente de dreno de Q2 é resultado da
corrente de dreno de Q1.
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DDGS VV
DDDDDS IRVV
2'
2
1DSDStGSnD VVVV
L
WkI
tGSDS VVV
Região de Triodo:
VVDS 1,0
Supondo: VVt 1
DDGS VV
Polarização na região de triodo
Dados:
Calcular ID e RD . Estime rds.
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O inversor CMOS – push-pull
Nível lógico “1” na entrada
Nível lógico “0” na entrada
Tensão intermediária na entrada
PMOS – ON
NMOS – OFF
PMOS – OFF
NMOS – ON
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Amplificador Básico
Amplificador Fonte Comum
Topologia Básica
Representação Gráfica da Reta de Carga
Determinação da Curva de Transferência
triodovvfi
saturadovfi
iRVvv
DSGSD
GSD
DDDDDSO
),(
)(
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Curva de Transferência
Determinação da Curva de Transferência
A curva de transferência
mostra a operação como
amplificador, com o
MOST polarizado no
Ponto Q.
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Reta de Carga
Influência da Reta de Carga na Excursão de Sinal
Ponto Q1 não deixa espaço
suficiente para excursão
positiva do sinal, muito
próximo de VDD
Ponto Q2 não deixa
espaço suficiente para
excursão negativa do
sinal, muito próximo
da região de Triodo.
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Pequenos Sinais
Circuito conceitual para estudo do modelo de pequenos sinais
Fonte de Polarização
Fonte de Sinal
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Pequenos Sinais
Aplicação de um sinal de entrada de 150 mVpp
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Pequenos Sinais
2'
2
1tGSnD VV
L
WkI
OVntGSnm
GS
Dm
VL
WkVV
L
Wkg
dV
dIg
''
VOV – Tensão de overdrive
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Pequenos Sinais
Resposta de saída do amplificador Fonte Comum
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Tensões instantâneas vGS e vD no
circuito abaixo.
Pequenos Sinais
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Modelo para Pequenos Sinais
Modelo Simplificado Modelo Extendido
Considerando o efeito de modulação do
comprimento do canal (EARLY) que é
modelado por ro = |VA| /ID
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Análise de um Amplificador MOS
• Considere o amplificador Fonte
Comum – FC ao lado cujo
transistor possui o seguintes
características:
– k’n(W/L) = 0,25 mA/V2
– Vt = 1,5 V
– VA = 50 V
– RD = 18kΩ
– VDD = 10V
• Suponha que os capacitores são
praticamente curto circuitos para
sinal.
• Calcule:
– O ganho de pequenos sinais
– A resistência de entrada
– O maior sinal de entrada para
operação em saturação.