UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

PROGRAMA DE PÓS-GRADUÇÃO EM ENGENHARIA ELÉTRICA

ELETRODEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE Cu2O DOPADOS COM Co

Dissertação submetida à Universidade Federal de Santa Catarina

como parte dos requisitos para a obtenção do grau de Mestre em Engenharia Elétrica

IURI STEFANI BRANDT

Florianópolis, Julho de 2010.

ELETRODEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE Cu2O DOPADOS COM Co

IURI STEFANI BRANDT

Esta Dissertação foi julgada adequada para obtenção do Título de

Mestre em Engenharia Elétrica, Área de Concentração Materiais e Dispositivos Eletrônicos,

e aprovada em sua forma final pelo Programa de Pós-Graduação em Engenharia

Elétrica da Universidade Federal de Santa Catarina.

______________________________________ Carlo Requião da Cunha, Phd

Orientador

______________________________________ André Avelino Pasa, Dr

Co-Orientador

_____________________________________ Roberto de Souza Salgado, Dr

Coordenador do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica

Banca Examinadora:

______________________________________

Carlo Requião da Cunha, Phd Presidente

______________________________________

André Avelino Pasa, Dr

______________________________________ Carlos Renato Rambo, Dr

______________________________________

José Humberto Dias da Silva, Dr

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Dedico este trabalho aos meus avós, os quais sempre tive

como exemplos de grande sabedoria e caráter.

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Agradecimentos Aos meus avós, Werner, Gisela, Adolfo e Santa Irias, pelos

momentos mais felizes de minha infância e por me repassarem valiosos conhecimentos que foram de suma importância para minha formação pessoal e profissional.

Aos meus pais, Dalmar e Arlete, que sempre me incentivaram e se

dedicaram ao máximo em me ajudar e dar apoio em momentos de dificuldade.

Ao meu irmão, Igor, pelo constante apoio e por sua presença ser

sempre um motivo de alegria. À minha namorada, Bruna, que sempre esteve ao meu lado

demonstrando amor e afeto. Aos meus tios e primos, em especial ao Tio Arno, pelos quais

tenho profunda gratidão por todos os momentos de alegria e pelo grande apoio que me deram.

Ao meu professor e co-orientador André Avelino Pasa, que foi o

responsável pela minha formação científica, tendo paciência e dedicação em repassar seus conhecimentos. Agradeço também pela grande amizade e por ser uma pessoa com a qual sempre poderei contar.

Ao meu orientador Carlo Requião da Cunha, pela amizade,

incentivos e produtivas discussões científicas. Ao Prof. Alexandre Das Cas Viegas, pela prontidão em ajudar a

resolver os problemas que surgiram durante este trabalho, e pela amizade.

Ao pesquisador Enio Lima Júnior, pela realização das medidas de

SQUID.

v

Ao pesquisador José Javier Saez Acuña, pela ajuda na preparação das amostras para microscopia eletrônica de transmissão e pela obtenção das imagens.

Aos meus amigos Jeison e Milton, pela camaradagem desde os

tempos de graduação. Aos meus colegas de pesquisa distribuídos pelo GRUDE, LFFS e

LCME. Aos meus professores Cabral e Luiz, os quais a muito tempo

tenho como grandes amigos, agradeço pelas conversas e apoio aos meus primeiros trabalhos de pesquisa, principalmente ao audacioso Projeto Ema.

Aos meus amigos Bilk, Fraga, Guilherme, Marcel, Murilo,

Nanico, Pexe, Vonga e Wesley pelos grandes momentos de risadas, e rodadas de carteado acompanhadas de canecos de chope.

À coordenação do Curso de Pós-Graduação em Engenharia

Elétrica, pela oportunidade. Ao suporte financeiro fornecido pela CAPES.

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Resumo da Dissertação apresentada à UFSC como parte dos requisitos necessários para a obtenção do grau de Mestre em Engenharia Elétrica.

ELETRODEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE Cu2O DOPADOS

COM Co

Iuri Stefani Brandt Julho/2010

Orientador: Carlo Requião da Cunha, Phd. Co-Orientador: André Avelino Pasa, Dr. Área de Concentração: Materiais e Dispositivos Eletrônicos. Palavras-chave: Óxido de cobre, semicondutores magnéticos diluídos, eletrodeposição. Número de Páginas: 78.

Com o objetivo de se obter filmes finos do óxido de cobre (Cu2O)

com comportamento ferromagnético a temperatura ambiente, este trabalho se concentrou na investigação das propriedades de filmes finos de Cu2O dopados com Co. Material este que na forma intrínseca é um semicondutor do tipo-p e apresenta uma energia de gap de 2,1 eV. Recentemente materiais semicondutores têm atraído muita atenção para aplicação em dispositivos baseados no controle do spin eletrônico [1, 2], porém, para tal é necessário que apresentem uma alta temperatura de Curie [3]. Com o intuito de obter tal propriedade, foi criada uma nova classe de materiais, denominados de semicondutores magnéticos diluídos (diluted magnetic semiconductor – DMS), obtidos principalmente através da dopagem de semicondutores com metais de transição [4-6].

Neste trabalho os filmes foram obtidos através da técnica de eletrodeposição, com o emprego de um eletrólito contendo 0,4 M CuSO4 (sulfato de cobre), 3,0 M C3H6O3 (ácido lático) [7] e 0,004-0,016 M CoSO4 (sulfato de cobalto). Hidróxido de sódio numa concentração de 5,0 M foi adicionado ao eletrólito para se obter um valor de pH igual a 10. O substrato utilizado foi silício do tipo n (100), e a deposição foi realizada a temperatura ambiente aplicando um potencial constante de -0,5 V vs. SCE. A caracterização foi conduzida através de difratometria de raios X, espectroscopia óptica, microscopia eletrônica de transmissão

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e medidas de magnetometria utilizando um magnetômetro de amostra vibrante (MAV), um SQUID (superconducting quantum interference devices) e uma balança de Faraday.

Os resultados obtidos por difratometria de raios X mostraram que os filmes finos de Cu2O eletrodepositados apresentam uma orientação preferencial na direção (200), seguindo a do substrato, e somente picos referentes ao substrato e ao Cu2O foram encontrados. Além disso, o parâmetro de rede foi calculado e está de acordo com valores encontrados na literatura [8, 9], porém, apresenta uma dependência sutil com a quantidade de íons Co2+ incorporados. Foi também verificado que esta incorporação leva a um aumento da energia de gap do Cu2O, alcançado o valor de 2,27 eV.

A caracterização magnética revelou que estes filmes apresentam comportamento ferromagnético, com temperatura de Curie de aproximadamente 555 K. Análise realizada por microscopia eletrônica de transmissão indicou a não existência de partículas de segunda fase, que poderiam ser as responsáveis por este sinal.

Através destes resultados comprovamos que os filmes finos de Cu2O obtidos neste trabalho apresentam uma dopagem com átomos de Co e se caracterizam como um semicondutor ferromagnético diluído com comportamento ferromagnético a temperatura ambiente, alcançando assim o objetivo central deste trabalho.

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Abstract of Dissertation presented to UFSC as a partial fulfillment of the requirements for the degree of Master in Electrical Engineering.

ELECTRODEPOSITION OF Co-DOPED Cu2O THIN FILMS

Iuri Stefani Brandt

July /2010 Advisor: Carlo Requião da Cunha, Phd. Co-Advisor: André Avelino Pasa, Dr. Area of Concentration: Electronic Materials and Devices. Keywords: Cuprous oxide, diluted magnetic semiconductors, electrodeposition. Number of Pages: 78.

With the objective of obtaining thin films of cuprous oxide

(Cu2O) with ferromagnetic behavior at room temperature, this work was concerned with the investigation of the properties of Co-doped Cu2O thin films. This material in the intrinsic form is a semiconductor with p type conduction and presents a band gap energy of 2.1. Recently, semiconductors materials have attracted attention for the application in devices based on the control of the electronic spin [1, 2], nevertheless, for this application is necessary that these materials present a high Curie temperature [3]. With the intention of obtaining this property, was created a novel class of materials, called diluted magnetic semiconductors (DMSs), the mainly form to obtain these materials is by doping semiconductors with transition metals [4-6].

In this work, the thin films were obtained through the electrodeposition technique, from an electrolyte content 0.4 M CuSO4 (copper sulfate), 3.0 M C3H6O3 (lactic acid) [7] and 0.004-0.016 M CoSO4 (cobalt sulfate). Sodium hydroxide at 5.0 M was added to the electrolyte to adjust the pH value at 10.0. The substrate utilized was n-type silicon (100), and the electrodeposition was performed at room temperature with a constant potential of -0.5V vs SCE. The characterization was based on the techniques: X-ray diffractometry, optical spectroscopy, transmission electron microscopy, magnetometry measurements utilizing a vibrating sample magnetometer (VSM),

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SQUID (superconducting quantum interference devices) and a Faraday balance.

The results obtained by X-ray diffractometry showed that the electrodeposited Cu2O thin films present a preferential orientation of the direction (200), following the substrate orientation, and only peaks relatives to the substrate and to Cu2O were detected. Moreover, the lattice parameter was calculated and the value found is in concordance with the literature [8, 9], however, presents a subtle dependence on the amount of Co2+ ions incorporated. Was also verified that this incorporation leads to a increase in the Cu2O band gap energy, reaching the value of 2.27 eV.

The magnetic characterization reveled that these films presented ferromagnetic behavior, with a Curie temperature of approximately 555 K. Transmission electron microscopy analyses indicated the non existence of secondary phase particles, which could be responsible for this ferromagnetic signal.

Through these results we demonstrated that the thin films of Cu2O are doped with Co atoms and can be characterized as diluted magnetic semiconductors with ferromagnetic behavior at room temperature, reaching the central objective of this work.

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Sumário

1. Introdução 1

2. Revisão Bibliográfica 3

2.1 Semicondutores Magnéticos Diluídos 4

2.2 Eletrodeposição 8

2.2.1 Transporte de Massa 10

2.2.2 Eletrodeposição Potenciostática 11

2.2.3 Eletrodeposição de Cu2O 15

2.3 Propriedades Magnéticas 16

2.3.1 Relaxação Magnética 18

2.3.2 Curvas de Magnetização de baixas temperaturas com campo (zero-field-cooled - ZFC) e com campo nulo (field-cooled - FC)

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2.3.3 Laço de Histerese Magnético 20

3. Procedimento Experimental 22

3.1 Eletroquímica 23

3.2 Difratometria de Raios X 25

3.3 Espectroscopia Óptica 27

3.3.1 Reflectância de Filmes Finos 29

3.4 Magnetometria 34

xi

3.4.1 Magnetômetro SQUID 34

3.4.2 Magnetômetro de Amostra Vibrante (MAV) 35

3.4.3 Balança de Faraday 35

3.5 Microscopia Eletrônica de Transmissão 37

3.5.1 Preparação de Amostras – Cross-section 39

4. Resultados e Discussões 41

4.1 Voltamogramas e Transientes de Corrente 42

4.2 Difratometria de Raios X 46

4.3 Espectroscopia Óptica 49

4.4 Magnetometria 53

4.5 Microscopia Eletrônica de Transmissão 56

5. Conclusão 58

6. Referências Bibliográficas 60

1

1 Introdução

Este trabalho concerne na obtenção de filmes finos

eletrodepositados de óxido de cobre do tipo I (Cu2O) dopados com cobalto (Co) que apresentem comportamento ferromagnético a temperatura ambiente. Além do estudo das propriedades magnéticas destes filmes, temos também como objetivo a análise das propriedades estruturais e ópticas.

Semicondutores magnéticos diluídos (diluted magnetic semiconductor – DMS) são materiais que tem atraído muita atenção principalmente por sua potencial aplicação em dispositivos baseados no controle do spin eletrônico [1, 2], comumente denominados de dispositivos spintrônicos. Porém, para que o emprego destes materiais seja viável é necessário que apresentem comportamento ferromagnético a temperatura ambiente [3]. Alguns trabalhos demonstram esta propriedade para materiais como ZnO [5] e GaN [10] dopados com Mn, estes dois sistemas apresentam uma alta temperatura de Curie, respectivamente da ordem de 980 e 940 K. Além destes exemplos, são relatados outros resultados empregando principalmente os óxidos ZnO [11] e TiO2 [12, 13].

A esta classe de materiais pertence também o Cu2O, que é um semicondutor não tóxico com baixo custo de produção, uma energia de gap igual a 2,1 eV e condução do tipo p [14-16]. Devido a estas propriedades tem sido estudada sua aplicação em células solares [17], fotocatalisadores [18], sensores de gás [19] e dispositivos microeletrônicos [20]. Em trabalhos recentes tem também sido enaltecida a possível aplicação do Cu2O dopado com metais de transição em dispositivos spintrônicos. Resultados relevantes são encontrados para dopagem com Co e Mn [3, 4, 6, 21-23]. No caso de filmes finos somente dois trabalhos, publicados por S. N. Kale [4] et. al e Y. L. Liu [6] et. al., relatam comportamento ferromagnético a temperatura ambiente, respectivamente para dopagem com Co e Mn. No entanto, S. N. Kale et. al somente obtiveram sucesso quando a dopagem com Co fora acompanhada de uma co-dopagem com Al.

Tem se empregado variadas técnicas para a obtenção de Cu2O dopado, entre elas se destacam reactive sputtering [22, 24, 25] e

2

deposição por laser pulsado [4, 26, 27]. Como mencionado anteriormente, nosso trabalho faz uso da técnica de eletrodeposição, através da qual é possível se obter filmes crescidos em temperatura ambiente, que alguns autores sugerem ser a melhor condição de crescimento para DMSs [11, 28, 29]. Além disto, esta é uma técnica de baixo custo e muito versátil, que permite um alto controle e reprodutibilidade dos filmes finos depositados.

3

2 Revisão Bibliográfica

4

2.1 Semicondutores Magnéticos Diluídos

A atual tecnologia de processadores e armazenamento de dados esta baseada em materiais semicondutores e ferromagnéticos, respectivamente. O processamento de informação é realizado por transistores e circuitos integrados utilizando a carga do elétron, enquanto que discos rígidos usados para armazenamento de informação fazem uso do spin do elétron. Com o objetivo de unir estas duas propriedades do elétron, carga e spin, em um só dispositivo, surgiu um novo ramo da física e nanotecnologia, chamado de magnetoeletrônica ou spintrônica.

Semicondutores são materiais com uma moderada concentração de cargas (107-1013 cm-3) e caracterizados por uma zona proibida (gap) entre as bandas de valência e condução. Através da dopagem destes materiais, substituindo os cátions por íons de metais de transição, é possível criar semicondutores com propriedades ferromagnéticas, chamados então de semicondutores magnéticos diluídos (diluted magnetic semiconductors – DMS). Este tipo de material nos permite estudar interessantes aspectos da interação entre carga e spin, utilizando ondas eletromagnéticas, campos elétricos e magnéticos como ferramentas para manipular as interações e para detectar mudanças causadas por esta manipulação [23, 30-32].

A princípio a propriedade ferromagnética surge nos DMSs através da interação de troca dos orbitais sp-d, referentes aos átomos do próprio semicondutor e da impureza inserida no material. Recentemente, principalmente em relação a óxidos semicondutores, tem se observado um consistente esforço no sentido de tornar mais claro quais são os mecanismos que propiciam as propriedades magnéticas a estes materiais na sua forma extrínseca e também intrínseca, e que alteram sua temperatura de Curie a ponto de alguns sistemas apresentarem comportamento ferromagnético à temperatura ambiente.

Em recente trabalho publicado por N. Sanchez et al. [1], é apresentado um estudo teórico sobre os estados magnéticos do ZnO intrínseco e dopado com Co. Neste artigo os autores afirmam que a existência de comportamento ferromagnético pode ser justificada por um aumento significativo do momento magnético dos átomos de

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oxigênio, devido à polarização do spin destes átomos pelos átomos de cobalto. Ou ainda, pela hibridização causada por buracos 2p existentes no material. Esta última justificativa pode esclarecer a observação de comportamento ferromagnético em filmes finos de ZnO intrínseco [33, 34], e ZnO dopado com elementos não magnéticos [35]. Apesar destes bons resultados teóricos, N. Sanchez et al. [1] não elucidaram a existência de altas temperaturas de Curie nestes sistemas.

M. Sieberer et al. [28], através do uso da teoria do funcional da densidade (density-functional theory – DFT), investigaram as propriedades magnéticas do Cu2O dopado com diferentes metais de transição. No caso da dopagem com Co, afirmam que a existência de vacâncias de oxigênio tem uma forte influência no comportamento magnético do Cu2O, porém faz com que o sinal magnético oscile entre ferromagnético (FM) e antiferromagnético (AFM). Enquanto que vacâncias de Cu estabilizam as interações ferromagnéticas. A figura 2.1 apresenta um gráfico retirado da referência 28 onde é possível notar os efeitos causados pela presença de defeitos no Cu2O dopado com Co, este gráfico representa a diferença de energia entre o acoplamento ferromagnético e antiferromagnético em função da distância entre um átomo de cobalto na posição (000) de uma estrutura fcc e seus vizinhos mais próximos. Estes resultados fazem crer que um sistema com uma quantidade razoável de vacâncias de Cu possa apresentar uma alta temperatura de Curie e que a falta de átomos de oxigênio leve a um comportamento magnético de vidro de spin (spin-glass).

6

FIG. 2.1. Diferença da energia em meV entre o acoplamento

ferromagnético e antiferromagnético (EAF-EFM) em função da distância entre um átomo de cobalto na posição (0,0,0) de uma estrutura fcc e outro na posição de primeiro vizinho, segundo e assim por diante. As linhas cheias são referentes à Cu2O dopado com Co sem a presença de defeitos, enquanto que as linhas pontilhadas levam em conta defeitos como vacâncias de Cu e de oxigênio. [Segundo M. Sieberer et al., Phys. Rev. B 75, 035203 (2007).]

Em suma, por apresentarem características semicondutoras e

ferromagnéticas simultaneamente, DMSs propiciam a fabricação de diferentes dispositivos, principalmente relacionados à spintrônica [36-39]. Além de propiciar aos semicondutores a propriedade ferromagnética, a dopagem com metais de transição pode alterar o parâmetro de rede e a estrutura de bandas de energia do material. Por exemplo, o sistema (MnxCd1-x)Te, que apresenta uma estrutura do tipo blenda de zinco, tem seu parâmetro de rede variado de 6.37 para 6.48 Å pela alteração do valor de x de 0 para 0.77 [40]. Isto favorece a aplicação deste material como substrato para dispositivos opto-

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eletrônicos. Outros tipos de dispositivos podem ser desenvolvidos explorando a presença de metais de transição inseridos na rede cristalina de semicondutores, por exemplo, Mn2+ pode conduzir a propriedades eletroluminescentes ao ser incorporado em semicondutores como o ZnSe e ZnS [41, 42].

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2.2 Eletrodeposição A partir de estudos realizados pelo professor italiano Luigi V.

Brugnatelii por volta de 1805, quando eletrodepositou um metal na superfície de um substrato metálico, se observou um crescente aumento de pesquisas nesta área para obtenção de variados materiais em diferentes superfícies [43]. Inicialmente materiais eletrodepositados eram empregados na produção de revestimentos metálicos, porém, com o advento de dispositivos eletrônicos formados por estruturas nanométricas, a técnica de eletrodeposição se tornou uma ótima alternativa para a fabricação destas estruturas, se destacando na obtenção de multicamadas magnéticas [44, 45] e na deposição sobre semicondutores amplamente empregados na indústria de eletrônica [20, 46].

Eletrodeposição é um método de crescimento de camadas a baixas temperaturas, em geral entre 25 e 70 °C, onde os filmes são depositados a partir de uma solução precursora. Como pontos positivos desta técnica podemos citar esta baixa temperatura de fabricação, a não necessidade de posteriores tratamentos térmicos dos materiais obtidos, o alto controle da deposição, e a possibilidade de controle da forma e da estrutura cristalográfica através do pH da solução ou de aditivos contidos nesta [47]. Podemos ressaltar também o baixo custo de produção desta técnica.

Os componentes básicos necessários para eletrodeposição são um substrato sólido condutor ou semicondutor (eletrodo de trabalho – ET), um eletrólito que irá fornecer os íons necessários para as reações eletroquímicas que ocorrerão no eletrodo de trabalho, e um contra eletrodo (CE) inerte para fechar o circuito elétrico. As reações eletroquímicas que ocorrem na interface entre o ET e o eletrólito envolvem estímulo elétrico externo, que pode então gerar correntes catódicas ou anódicas, levando, respectivamente, a redução e oxidação das espécies.

Para a produção de filmes finos por eletrodeposição o arranjo experimental, vide figura 2.2, é composto por uma célula eletroquímica de três eletrodos e um aparelho para o controle da corrente e dos potenciais elétricos aplicados, chamado de potenciostato/galvanostato.

9

Neste caso, a polarização imposta pelo potenciostato entre o ET e o CE é monitorada entre o ET e um terceiro eletrodo denominado de eletrodo de referência (ER).

Este modo de monitoramento descrito acima é necessário quando se deseja realizar o processo de eletrodeposição a potencial constante, chamado de potenciostático. Para eletrodeposição sob corrente constante, galvanostático, o potenciostato/galvanostato tem como função aplicar a corrente desejada entre o ET e o CE. Realizando o monitoramento do potencial entre o ET e ER em função do tempo. Além destas duas técnicas, o potenciostato/galvanostato permite, por exemplo, a realização de eletrodeposição com pulsos de potencial ou corrente e medidas de capacitância (se tiver um analisador de resposta em frequência).

FIG. 2.2. Arranjo experimental para deposição de filmes finos de

Cu2O. Onde o potenciostato/galvanostato está conectado aos três eletrodos da célula eletroquímica.

O emprego do ER se deve a necessidade de controlar o potencial

sobre o ET, independentemente do eletrólito utilizado. Para desempenhar este papel esse eletrodo apresenta uma alta resistência

Transiente de Corrente

+

+

+

---

Potenciostato

CEET

EREletrólito

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interna, superior à de voltímetros, de tal forma que praticamente impossibilite a passagem de carga. Entre vários ER existentes, o eletrodo padrão de hidrogênio (normal hydrogen electrode – NHE) é definido como o que possui diferença de potencial igual a zero em relação a qualquer eletrólito.

Considerando que a reação eletroquímica que ocorre no ET seja descrita por RneO ⇔+ − , onde O é o íon de uma determinada espécie na forma oxidada e R na forma reduzida. Podemos afirmar que esta reação irá ocorrer somente se alguns passos básicos forem atendidos, como a presença de espécies a serem reduzidas na superfície do ET, e uma contínua transferência de elétrons nesta superfície. Estes dois pontos fundamentais para a eletrodeposição serão abordados nas próximas duas seções, transporte de massa (2.2.1) e deposição potenciostática (2.2.2).

2.2.1 Transporte de Massa Como mencionado anteriormente é necessário que na superfície

do ET estejam presentes as espécies envolvidas na reação eletroquímica de interesse. Para isto é preciso que existam mecanismos de transporte que levem estas espécies do eletrólito para a superfície do ET. Este transporte é então denominado de transporte de massa, e ele ocorre por difusão, migração ou convecção [48].

A difusão ocorre a partir do momento em que os íons da espécie a ser reduzida são consumidos, estabelecendo assim um gradiente de concentração próximo do ET. Este gradiente irá então gerar a difusão dos íons do eletrólito em direção ao ET.

O segundo modo de transporte é explicado pelo potencial elétrico aplicado aos eletrodos, que acaba por estabelecer um gradiente de potencial elétrico no eletrólito, que então promove o movimento dos íons, chamado de migração.

Por fim, a convecção está relacionada a flutuações na temperatura do eletrólito ou na sua agitação por forças mecânicas, que faz a solução se movimentar e assim deslocar as espécies de interesse.

Mesmo com a existência destes mecanismos de transporte, se a taxa de reação for muito elevada, a quantidade de íons na superfície do

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ET pode chegar à zero. Fazendo com que a deposição seja controlada pela eficiência destes mecanismos de transporte de massa. Do contrário, se tivermos uma lenta taxa de consumo, a cinética da reação é que irá controlar o processo de eletrodeposição [48].

A figura 2.3 descreve o processo de eletrodeposição [49], onde íons solvatados presentes na solução se deslocam até a superfície do ET, para então receberem elétrons deste eletrodo de forma que percam a esfera de solvatação, propiciando sua adsorção pela superfície. Após serem adsorvidos os íons são denominados de adátomos, e a difusão destes pela superfície irá levar a formação de aglomerados ou núcleos de crescimento que então constituirão o depósito.

FIG. 2.3. Descrição do processo de eletrodeposição, onde íons

solvatados presentes no eletrólito são atraídos até a superfície do eletrodo e então devido a transferência de elétrons perdem as moléculas de água ligadas a eles. Posteriormente existe a formação de ádatomos e a difusão destes pela superfície para então formarem aglomerados e na seqüência núcleos que constituirão o depósito.

2.2.2 Eletrodeposição Potenciostática Nesta seção iremos fazer uma abordagem de alguns aspectos que

envolvem a eletrodeposição potenciostática, já que este foi o modo de

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deposição escolhido para o crescimento dos filmes finos que serão estudados neste trabalho. Como descrito anteriormente, este modo consiste na aplicação de um potencial constante entre o ET e o CE, que irá determinar quais espécies serão reduzidas ou oxidadas, influenciando diretamente na cinética da reação. A evolução da corrente entre o ET e o CE em função do tempo é visualizada num gráfico chamado de transiente de corrente, como o apresentado na figura 2.4.

FIG. 2.4. Transiente de corrente típico de uma eletrodeposição

potenciostática. Informações a cerca do experimento podem ser retiradas deste

gráfico. Na figura 2.4 o acréscimo inicial da corrente em módulo é explicado pela formação dos núcleos de crescimento que acabam por aumentar a área eletroativa. Neste período a corrente, ou a deposição, é limitada pela cinética da reação. Porém o decréscimo de íons próximos do eletrodo faz com que a corrente diminua seguindo a lei de Cottrell (equação 2.1) [48]. No entanto, através dos mecanismos de transporte de massa em um determinado momento a quantidade de íons disponíveis para reação irá se tornar constante no tempo e por consequência também a corrente.

2/12/1

2/1

t

CnFDπ

∞

=Ι (Eq. 2.1)

t (s)i (A)

imax Pico de nucleação

t (s)i (A)

imax Pico de nucleação

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Na equação 2.1 n é o número de elétrons envolvidos na reação, F a constante de Faraday, D o coeficiente de difusão, C∞ a concentração das espécies no interior do eletrólito para tempo muito grande e t é o tempo.

Através do transiente de corrente é possível calcular o valor da carga depositada, para isto se deve obter a integral da curva I vs. t. Obtida a carga podemos encontrar o volume do material depositado, porém, este cálculo considera uma deposição com 100% de eficiência. Ou seja, que todos os íons reduzidos sejam incorporados no depósito e que não esteja ocorrendo outras reações de redução ou oxidação em paralelo, como a evolução de hidrogênio.

Portanto, com uso das expressões para densidade, ρ = m/V, e da carga, Q = Nne, onde N é o número de átomos, N = mNA/M, chegamos à seguinte relação para o volume (V),

ANenQMV.....

ρ= (Eq. 2.2)

onde M é o peso atômico, e a carga do elétron e NA o número de

Avogrado. Informações adicionais podem ser obtidas através de uma

varredura de potencial monitorando a corrente entre o ET e o CE, este tipo de medida é denominada de voltametria. Um modelo típico de voltamograma é apresentado na figura 2.5.

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FIG. 2.5. Comportamento da corrente durante uma varredura de

potencial sobre um substrato de material que difere da espécie química sendo reduzida. Esta medida é denominada de voltametria.

A voltametria permite encontrar os valores de potencial para os

quais reações eletroquímicas ocorrem, além de informações sobre a cinética de transferência de elétrons na interface formada entre o ET e o eletrólito.

Sempre que o material a ser depositado diferir do substrato, o voltamograma deverá apresentar um laço de nucleação, como indicado na figura 2.5. Este laço ocorre devido a um disparo retardado da corrente, em comparação ao caso em que o material é depositado sobre um substrato de material igual aos íons a serem reduzidos. Portanto este laço é proporcional a energia de nucleação, ou seja, a energia necessária para formar os primeiros núcleos de crescimento.

O pico de redução está relacionado com a taxa de variação do potencial, que acaba por definir o gradiente de concentração de íons a serem reduzidos no ET. A forma da variação da intensidade e da posição deste pico com a velocidade de varredura, está relacionada com o fato da reação que está ocorrendo ser reversível ou irreversível.

i (A)

E (V)

Pico de redução

Laço de nucleação

i (A)

E (V)

Pico de redução

Laço de nucleação

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2.2.3 Eletrodeposição de Cu2O O eletrólito para deposição de Cu2O deve ser composto por um

sal de cobre, que irá fornecer os íons metálicos para as reações eletroquímicas. A concentração deste sal e dos aditivos, assim como a escolha destes, deve ser feita de forma a maximizar as propriedades desejadas para o material depositado. É também importante que o eletrólito tenha uma alta condutividade, para que todo potencial aplicado seja despendido na deposição.

As reações eletroquímicas que devem ocorrer para formação de óxido de cobre estão descritas abaixo [50]:

+−+ ↔+ CueCu 222 2 (Eq. 2.3)

OHOCuOHCu 2222 +↓↔+ −+ (Eq. 2.4)

Se observa na literatura uma grande dependência das

propriedades morfológicas, estruturais e elétricas de filmes finos de Cu2O com o pH do eletrólito [51-53]. Uma importante característica encontrada em relação ao valor do pH é a relação deste com o tipo de portadores majoritários. Para valor de pH menor que 9 é observado a formação de Cu2O com condução do tipo-n e para valores maiores que este do tipo-p [17, 53]. Esta propriedade tem sua origem na estrutura cristalina do material, filmes do tipo-n são caracterizados por apresentarem vacâncias de oxigênio e Cu intersticial na rede cristalina que fazem com que existam elétrons livres na rede. Por outro lado, filmes com condução do tipo-p apresentam vacâncias de Cu e oxigênio intersticial, de modo que sejam criados buracos na rede.

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2.3 Propriedades Magnéticas O comportamento magnético de um material pode ser dividido em

diferentes classes, são elas, diamagnetismo, paramagnetismo, superparamagnetismo, ferromagnetismo, antiferromagnetismo, ferrimagnetismo e vidro de spin.

A magnetização M é a grandeza que representa o estado magnético de um material e é definida como o momento de dipolo magnético por unidade de volume [54],

∑=→

iiV

M µ1 (Eq. 2.5)

onde o somatório é sobre todos os dipolos de momento iµ

contidos no volume V. O momento de dipolo magnético de um átomo tem origem no momento angular orbital e no momento angular de spin do elétron.

Os materiais ferromagnéticos são aqueles que possuem ordenamento magnético mesmo sem a aplicação de um campo magnético externo, porém a magnetização destes materiais sofre grande influência da temperatura. Pierre Curie verificou que a magnetização diminui com o aumento da temperatura e acima de um valor crítico ela se torna nula, esta temperatura é chamada então de temperatura de Curie, TC. Dizemos que acima desta temperatura o material se torna paramagnético, e sua magnetização é descrita pela equação de Langevin,

)(xLNM Aµ= (Eq. 2.6)

onde NA é o número de Avogadro e L(x) é a função de Langevin,

xxghxL 1)(cot)( −= ;

TkHxB

µ= (Eq. 2.7)

17

Na equação 2.7 kB é a constante de Boltzmann, T a temperatura absoluta e H o campo aplicado.

A magnetização espontânea abaixo da temperatura de Curie, para temperaturas próximas a esta, pode ser obtida utilizando um modelo simples de densidade de estados [55], a equação encontrada é dada por,

2

1

1.

−=

CTTAM (Eq. 2.8)

onde A é uma constante. Porém, resultados experimentais para o

níquel apresentados na referência 55, indicam que o expoente da equação 2.8 deva ser igual a 31 e não 21 .

Na tabela seguinte estão listadas as temperaturas de Curie de diferentes cristais ferromagnéticos [54].

Cristal Temperatura de Curie (K)

Fe 1043 Co 1388 Ni 627 Gd 292

CrO2 386 MnOFe2O3 573 FeOFe2O3 858 NiOFe2O3 858 CuOFe2O3 728 MgOFe2O3 713

Tab. 2.1: Temperatura de Curie para diferentes cristais ferromagnéticos. Estes valores foram retirados da referência 54.

18

2.3.1 Relaxação Magnética O estudo de sistemas magnéticos nanoestruturados requer o

entendimento dos efeitos da relaxação magnética nos materiais, que se tornam de grande importância nesta escala, estes efeitos são devidos as oscilações dos momentos magnéticos causados pela energia térmica. Iremos apresentar, a seguir, esta relação e fenômenos que estão relacionados com a relaxação magnética.

Para um único domínio magnético com volume V e anisotropia uniaxial, a magnetização VMM s=0 aponta para cima (up) ou para baixo (down) para campo externo igual a zero, se o eixo de fácil magnetização for ao longo do eixo z. A freqüência com que M0 se alterna entre up e down ou vice-versa, pode ser obtida pelo modelo de Néel e é dada pela seguinte equação [56],

−=Γ

TkU

B

expυ (Eq. 2.10)

onde ν é a frequência de precessão e é da ordem de 1010 a 1310

Hz, Bk a constante de Boltzmann, T a temperatura em Kelvin e KVU = é a energia de barreira anisotrópica. Nesta expressão K é a

constante anisotrópica e está relacionada com a forma e o tamanho das partículas de um determinado material. Através da equação 2.10 fica evidente a relação entre a relaxação magnética e a temperatura do sistema. Deste modo, para que possamos manter a informação magnética contida no material, durante um intervalo de tempo Γ= 1τ denominado de tempo de relaxação, devemos manter a temperatura abaixo de um determinado valor. Este valor pode ser obtido pela equação 2.10 e é de extrema importância, por exemplo, no desenvolvimento de discos rígidos de alta densidade.

Consideremos o caso em que se deseja medir o momento magnético de uma amostra com um equipamento que realiza as medidas em intervalos de tempo tm. Quando a temperatura for suficientemente alta, M0 irá mudar várias vezes sua direção durante o tempo tm. Porém,

19

existirá uma temperatura TB a qual o tempo de relaxação será igual a tm e veremos com a mesma probabilidade M0 nas direções up e down, e se a temperatura for menor que TB a direção de M0 será fixa. Esta temperatura TB é chamada de temperatura de bloqueio e pode ser facilmente derivada da equação 2.10,

( )B

mB k

tUT

νln−= (Eq. 2.11)

2.3.2 Curvas de Magnetização de baixas temperaturas com

campo (zero-field-cooled - ZFC) e com campo nulo (field-cooled - FC)

A dependência da magnetização com a temperatura é usualmente

verificada através de dois modos de medidas, zero-field-cooled (ZFC) e field-cooled (FC). Este tipo de análise é útil para obtenção de informações acerca da energia de barreira. Para a curva de magnetização ZFC, a amostra é primeiramente resfriada sem a aplicação de campo magnético externo, até uma temperatura bem abaixo de TB. Então um campo magnético é aplicado por um determinado tempo e em seguida retirado, após este procedimento a magnetização do sistema é monitorada em função do aumento da temperatura. A curva FC é obtida medindo a magnetização enquanto a amostra é resfriada com um campo magnético sendo aplicado. O campo magnético aplicado sobre a amostra nas medidas ZFC-FC deve ser muito pequeno em comparação ao campo anisotrópico, para que as curvas ZFC-FC reflitam apenas a distribuição intrínseca da energia de barreira.

Nas medidas ZFC, antes que um campo seja aplicado, a magnetização da amostra será zero se o sistema estiver no estado de equilíbrio. Após o campo ser aplicado o sistema se encontrará fora do equilíbrio devido à energia Zeeman. Com o aumento da temperatura a taxa de relaxação aumenta exponencialmente e com isso o número de momentos magnéticos alinhados com o campo irá aumentar cada vez mais. Para uma determinada temperatura a magnetização irá alcançar o valor do estado de equilíbrio, se aumentar ainda mais a temperatura o

20

valor da magnetização irá diminuir seguindo a lei de Curie. Portanto, existe um valor máximo da magnetização em função da temperatura na curva ZFC, esta temperatura é a temperatura de bloqueio TB. Sabendo o valor de TB através de uma curva ZFC e utilizando a equação 2.11, podemos encontrar a energia de barreira do sistema. A magnetização nas curvas ZFC é o resultado da acumulação dos processos de oscilação do momento, onde isto é uma distribuição de energia e ou uma interação dipolo-dipolo.

A curva FC apresenta um aumento da magnetização com a diminuição da temperatura, isto ocorre devido à diminuição da oscilação dos momentos magnéticos causada pela energia térmica.

2.3.3 Laço de Histerese Magnético A temperaturas bem inferiores a temperatura de bloqueio, é muito

difícil um sistema, submetido a um campo muito menor que o campo anisotrópico HK, encontrar o estado de equilíbrio termodinâmico, isto se deve ao fato do processo de relaxação ser muito lento. Com o aumento do campo aplicado, os momentos magnéticos irão se alinhando na direção do campo através do processo de relaxação até que a magnetização alcance um valor de saturação. O campo de saturação é sempre menor que o campo anisotrópico, e diminui com o aumento da temperatura. Isto se deve ao fato que para altas temperaturas, a taxa de relaxação aumenta exponencialmente e o sistema pode facilmente encontrar um estado de equilíbrio termodinâmico. Quando a temperatura for muito maior que a temperatura de bloqueio, a curva de magnetização poderá ser descrita pela função de Langevin, equação 2.11.

No caso em que T<TB e o campo aplicado decresce desde um valor maior que o campo de saturação, a curva de desmagnetização coincidirá com a curva de magnetização até o ponto relativo ao campo de saturação (HS). A partir deste ponto a curva de desmagnetização não segue mais a curva inicial de magnetização. Com isso mesmo o campo aplicado sendo nulo, iremos ter uma magnetização na amostra, que é denominada de magnetização remanente (Mr), é este o campo presente nos imãs permanentes. Para removê-lo é necessário inverter o campo aplicado e seguir com a curva até o campo coercitivo (Hc). Agora se

21

fecharmos o ciclo vamos ter a formação de uma curva de histerese, como apresentado na figura 2.7.

FIG. 2.7. Curva de histerese para um material abaixo da temperatura

de bloqueio. Os parâmetros Hc, Hs e Mr estão indicados na figura. É também apresentada a curva relativa a um material acima da temperatura de bloqueio, descrita pela equação de Langevin. Gráfico retirado da referência 56.

Os parâmetros Hc, Hs e Mr, são extremamente dependentes do

campo anisotrópico e da temperatura. Eles dependem também da taxa com que o campo aplicado é variado, o qual determina o tempo de relaxação do sistema.

22

3 Procedimento Experimental

23

3.1 Eletroquímica A eletrodeposição de filmes finos de Cu2O dopados com Co foi

conduzida através do aparato experimental descrito na seção 2.2. Sendo o eletrólito constituído de 0,4 M sulfato de cobre (CuSO4), 0,3 M de ácido lático (C3H6O3) e 0,004-0,016 M de sulfato de cobalto (CoSO4). Afim de obter um pH igual a 10,0, foi adicionado 5,0 M de hidróxido de sódio (NaOH). Durante a eletrodeposição o eletrólito foi mantido a uma temperatura de 25 °C, e o potencial aplicado no ET foi de -0,5 V vs. SCE. Estes parâmetros foram escolhidos por apresentarem uma melhor performance, com eficiência de deposição próxima de 100% [57].

Como ET utilizamos uma pastilha de silício monocristalina (100) do tipo n com 1,0 cm2 de área, com resistividade entre 6 e 9 Ω.cm. Por ser monocristalino e apresentar uma superfície muito plana, definimos este substrato como sendo adequado para nossos experimentos. Além destas propriedades, resultados mostram que os filmes de Cu2O apresentam boa aderência quando depositados neste substrato. O CE deve ser um material inerte na faixa de potencial utilizada no experimento, respeitando a este requisito utilizamos uma folha de platina. O eletrodo de calomelano saturado (saturated calomel electrode – SCE), que apresenta um potencial de -0,24 V em relação ao eletrodo padrão de hidrogênio, foi empregado como ER.

Antes que o silício seja utilizado é necessário garantir que a superfície esteja livre de qualquer impureza, seja ela causada por partículas macroscópicas ou por óxido de silício (SiO2) existente na superfície. A remoção das partículas macroscópicas é feita com água destilada e deionizada, em seguida a pastilha de Si é mergulhada em uma solução diluída de HF (ácido fluorídrico), em concentração de 5% em volume, durante 20 segundos para que seja removido o óxido de silício.

A lâmina de silício é fixada a uma haste rígida de aço inoxidável e através desta haste é então feita a conexão elétrica com o potenciostato. Para garantir o contato ôhmico entre a haste e a face rugosa da pastilha de silício é utilizada uma liga de gálio-índio (GaIn).

24

O conjunto haste metálica (suporte) / pastilha de silício é eletricamente isolado do eletrólito devido o uso da fita dupla-face, deixando exposta apenas uma área de 0,5 cm2 da superfície do silício, onde será depositado o filme de Cu2O. Na Figura 3.1 é mostrado este arranjo.

Fig. 3.1: Eletrodo de trabalho. A área tracejada representa a área do

sílicio do tipo n que está sob a fita dupla face.

Máscara (0,5 cm2)

Haste metálica

Fita dupla face

Silício

25

3.2 Difratometria de Raios X

Esta técnica consiste na interação de ondas eletromagnéticas

(raios X) com a matéria e tem como objetivo o estudo das propriedades estruturais dos materiais, como orientação cristalográfica, tipo de célula unitária e parâmetro de rede. Se caracteriza ainda pela alta eficiência, simples aplicação e por não ser destrutiva.

Para a obtenção de raios X, elétrons são gerados e acelerados por uma diferença de potencial de 0,1 keV a 1 MeV contra um alvo metálico. Quando atingem o alvo, os elétrons acelerados conseguem arrancar elétrons das camadas internas do átomo metálico, deixando-o ionizado. Um átomo ionizado tende a voltar ao estado de mínima energia e por isso, um elétron da camada mais externa salta para ocupar esta posição vazia. Este salto é acompanhado da emissão de uma radiação característica, o raio X.

Os raios X possuem comprimento de onda entre 0,01 e 100 Å, ou seja, da ordem da distância entre os átomos de uma rede cristalina. Sendo assim, a interação desta radiação eletromagnética com o arranjo atômico ordenado da matéria poderá gerar padrões de interferência, através dos quais podemos obter informações acerca do material.

Em 1913 W. L. Bragg apresentou um modelo simples para a difração de raios X por um cristal [54], que supõe que cada plano atômico reflita especularmente as ondas incidentes, porém cada plano reflete apenas uma fração destas ondas, quando as reflexões geradas por planos paralelos produzirem interferência construtiva poderemos obter o sinal dos feixes difratados, como indicado na figura 3.2. Desta forma sendo d a distância entre os planos, θ o ângulo de incidência em relação à superfície do material e λ o comprimento de onda da radiação incidente, podemos deduzir a seguinte condição de interferência construtiva,

λθ mdsen =2 (Eq. 3.1)

onde m é um número inteiro. A equação 3.1 é conhecida como Lei de Bragg.

26

Fig. 3.2: Representação da difração de raios X por planos cristalinos

de mesma família. Através deste sinal difratado, advindo da interferência construtiva

nos planos atômicos regulares do material, é possível gerar um difratograma que representa a intensidade da radiação espalhada em função do ângulo 2θ. Neste difratograma pode se observar picos de intensidade referentes a ângulos de incidência em que a lei de Bragg é satisfeita, e utilizando a equação 3.1 podemos obter a distância entre planos de uma mesma família, sendo que cada pico se relaciona com um plano cristalográfico em específico.

O parâmetro de rede para um material com estrutura cúbica pode ser calculado através da equação 3.2, que relaciona as distâncias interplanares com os índices de Müller (h, k e l) e com o parâmetro de rede (a).

dlkha

222 ++= (Eq. 3.2)

θ

θ

θ

d

d.senθ

27

3.3 Espectroscopia Óptica A espectroscopia óptica consiste na obtenção dos sinais de

reflectância ou transmitância de uma amostra em função do comprimento de onda da radiação incidente sobre esta, neste trabalho o equipamento utilizado para este fim foi um espectrofotômetro Perkin-Elmer modelo Lambda 750, com esfera integradora. Através da análise dos sinais de transmissão e reflectância é possível calcular grandezas como índice de refração, coeficiente de absorção e gap de energia do semicondutor.

O espectrofotômetro é composto por uma ou mais lâmpadas que emitem radiação em uma faixa do espectro desejada. A partir de um conjunto de lentes, espelhos e fendas a radiação é direcionada em um feixe que incide sobre monocromadores que definem um determinado comprimento de onda ao feixe. Após passar pelos monocromadores este feixe entra na câmara da amostra. A figura 3.3 descreve o interior desta câmara para uma configuração utilizada em medidas de reflectância.

Na figura 3.3 vemos dois feixes, com um determinado comprimento de onda, que sofrem reflexões por espelhos até que um deles incida sobre a amostra de referência e o outro na amostra de interesse, é importante ressaltar que estes dois feixes entram alternadamente dentro da câmara. O material que compõe a amostra de referência é conhecido como spectralon e sua refletividade é tida como sendo de 100%. Estes feixes incidentes são refletidos pelas amostras para dentro de uma esfera denominada de esfera integradora, a qual tem a superfície revestida com spectralon. A esfera integradora tem como função capturar os feixes refletidos, fazendo com que ao incidir sobre sua superfície sejam novamente refletidos até que encontrem o detector posicionado em sua base. A comparação entre os sinais de reflectância da amostra de referência e da amostra de interesse, utilizando um sistema lock-in, que tem por referência a fase e a frequência do feixe de entrada, resulta no valor da reflectância para a amostra.

O espectro de reflectância é obtido pelo equipamento, o qual faz uma varredura automática de comprimento de onda dentro da faixa especificada. A figura 3.4 apresenta espectros padrão de reflectância para amostras voluméticas de prata, ouro e cobre, a diminuição no sinal

28

de reflectância é causada pela absorção da radiação incidente pelo material [58].

Fig. 3.3: Representação da câmara da amostra de um

espectrofotômetro, com um arranjo experimental para medidas de reflectância. O detector encontra-se abaixo do plano definido pela amostra e os feixes incidentes.

Espelho

Amostra de Referência

Amostra de Interesse

Detector

Esfera Integradora

Feixe de Radiação Monocromatizado

29

Fig. 3.4: Espectros de reflectância para incidência normal sobre a

superfície de amostras volumétricas de prata (linha continua), ouro (linha tracejada) e cobre (linha pontilhada). Retirado da referência 58.

3.3.1 Reflectância de Filmes Finos Nesta seção iremos apresentar os métodos utilizados para

determinação das propriedades ópticas de filmes finos através de medidas de reflectância.

O sistema em estudo consiste de um filme fino depositado sobre um substrato espesso, como apresentado na figura 3.5, onde uma onda eletromagnética incide sobre este filme formando um pequeno ângulo θ (~8°) com a reta normal a superfície. A figura 3.5 apresenta também as reflexões e refrações que esta onda pode sofrer após a incidência, através das quais são formados vários feixes que então constituirão o sinal de reflectância. Porém, quando o coeficiente de absorção do filme não for aproximadamente zero, serão basicamente os feixes A e B que contribuirão para a formação deste sinal.

CuAg

Au

30

Fig. 3.5: Representação do fenômeno de reflectância de uma onda

eletromagnética ao incidir sobre um filme fino depositado sobre um substrato espesso.

Tomando uma onda eletromagnética incidente sobre um filme

com espessura d e tendo respectivamente r1 e r2 como os coeficientes de reflexão da interface ar-filme e filme-substrato. Podemos obter a equação para a reflexão R formada pelos feixes A e B [59],

𝑅𝑅 =𝐴𝐴 + 2. 𝑟𝑟1. 𝑟𝑟2. 𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝐵𝐵 + 2. 𝑟𝑟1. 𝑟𝑟2. 𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐

(Eq. 3.3. a)

𝐴𝐴 = 𝑟𝑟12. exp(𝛼𝛼.𝑑𝑑) + 𝑟𝑟22. exp(−𝛼𝛼.𝑑𝑑) (Eq. 3.3. b)

𝐵𝐵 = exp(𝛼𝛼.𝑑𝑑) + 𝑟𝑟12. 𝑟𝑟22. exp(−𝛼𝛼.𝑑𝑑) (Eq. 3.3. c)

𝑐𝑐 =4.𝜋𝜋.𝑛𝑛1.𝑑𝑑

𝜆𝜆 (Eq. 3.3. d)

𝑟𝑟1 =1 − 𝑛𝑛1

1 + 𝑛𝑛1; 𝑟𝑟2 =

𝑛𝑛1 − 𝑛𝑛2

𝑛𝑛1 + 𝑛𝑛2 (Eq. 3.3. e)

Substrato

Ar

n1

n2

dFilme

θA B C

31

onde α é o coeficiente de absorção do filme, λ o comprimento de onda da radiação incidente, n1 e n2, respectivamente, índice de refração do filme e do substrato. Caso a espessura do filme seja da ordem do comprimento de onda, o sinal de reflectância terá uma oscilação dependente de 𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐𝑐, que surge devido à interferência entre os feixes A e B. Tendo máximos e mínimos que obedecem a relação,

4.𝜋𝜋.𝑛𝑛1.𝑑𝑑

𝜆𝜆𝑚𝑚= 𝑚𝑚𝜋𝜋 (Eq. 3.4)

onde m é a ordem da interferência, e pode ser determinada pelas

seguintes equações [60],

𝑚𝑚 ≅𝜆𝜆𝑚𝑚

𝜆𝜆𝑚𝑚+1 − 𝜆𝜆𝑚𝑚 (Eq. 3.5. a)

𝑚𝑚 ≅𝜆𝜆𝑚𝑚

𝜆𝜆𝑚𝑚 − 𝜆𝜆𝑚𝑚−1 (Eq. 3.5. b)

𝑚𝑚 ≅𝜆𝜆𝑚𝑚+1 + 𝜆𝜆𝑚𝑚−1

𝜆𝜆𝑚𝑚+1 − 𝜆𝜆𝑚𝑚−1 (Eq. 3.5. c)

Como exemplo, na figura 3.6 temos um espectro de reflectância

de um filme fino de SiO2 com 100 nm de espessura depositado sobre Si [59]. Devido à proximidade dos valores da espessura do filme e do comprimento de onda da radiação incidente notamos a existência de oscilações no espectro.

32

Fig. 3.6: Representação do fenômeno de reflectância de uma onda

eletromagnética ao incidir sobre um filme fino de SiO2 depositado sobre um substrato espesso. Retirado da referência 59.

Portanto, através da equação 3.4 é possível obter o índice de

refração do filme para os comprimentos de onda referentes aos máximos e mínimos do espectro de reflectância e o coeficiente de extinção (k) é calculado levando em conta a diferença entre o valor do índice de refração entre um mínimo e um máximo e o coeficiente de extinção do máximo ou mínimo anterior, como vemos na equação 3.6.

𝑘𝑘𝑚𝑚2 = 𝑛𝑛𝑚𝑚2 − 𝑛𝑛𝑚𝑚−1

2 −𝑘𝑘𝑚𝑚−12 (Eq. 3.6)

O coeficiente de absorção é dado por 4𝜋𝜋𝑘𝑘/𝜆𝜆 e a relação entre o

coeficiente de absorção e a energia da radiação incidente (hv) para um semicondutor com gap direto é dada pela equação 3.7,

𝛼𝛼ℎ𝑣𝑣 = 𝐴𝐴(ℎ𝑣𝑣 − 𝐸𝐸𝑔𝑔)1

2 (Eq. 3.7) onde h é a constante de Planck, v a frequência da onda

eletromagnética incidente, A uma constante que reflete a qualidade cristalográfica do material e Eg é o gap de energia do semicondutor. Para encontrar Eg podemos utilizar o método de Tauc, que consiste em construir um gráfico de (𝛼𝛼ℎ𝑣𝑣)2 vs. ℎ𝑣𝑣 e extrapolá-lo a zero, como

Comprimento de onda (cm)

Ref

lect

ânci

a

33

mostrado na figura 3.7 [14]. Neste caso o valor de Eg é de aproximadamente 2,4 eV.

Fig. 3.7: Gráfico de (𝛼𝛼ℎ𝑣𝑣)2 vs. ℎ𝑣𝑣 para um filme de óxido de cobre

preparado por reactive magnetron sputtering. O valor encontrado para Eg é de aproximadamente 2,4 eV. Este gráfico foi retirado da referência 14.

34

3.4 Magnetometria A magnetometria abrange todas as técnicas que tem como

finalidade a caracterização das propriedades magnéticas de diferentes materiais. Estas se diferenciam pela sensibilidade, rapidez e precisão, sendo que cada experimento tem uma técnica de medida mais adequada. Nas seções seguintes serão descritas brevemente as técnicas que tiveram papel relevante nesta dissertação.

3.4.1 Magnetômetro SQUID Magnetometria por SQUID (superconducting quantum

interference device) é uma das técnicas mais sensíveis para medida de fluxo magnético, com sensibilidade da ordem de 10-9 emu, e baseia-se no efeito Josephson e na quantização do fluxo magnético em um circuito supercondutor fechado [61].

O efeito Josephson consiste na existência de uma corrente crítica (Ic) abaixo da qual uma barreira de potencial, ou junção, é supercondutor. O potencial elétrico entre os terminais desta junção é nulo no estado supercondutor e não-nulo no estado normal, comportamento este que permite encontrar o valor de Ic. No SQUID Ic é função do fluxo magnético aplicado, apresentando uma periodicidade equivalente ao quantum de fluxo eh 2 . Portanto, a medida da variação de Ic, permite determinar, com alta resolução, a variação do fluxo que atravessa o dispositivo.

O SQUID consiste basicamente em um anel supercondutor interrompido por uma junção de Josephson, denominado de SQUID RF, ou duas junções, que corresponde ao SQUID DC. A diferença entre estes dispositivos consiste no modo de detecção. Os SQUIDs RF exigem eletrônica de radio freqüência para detecção, o que pode gerar interferência nas amostras medidas, além de a operação ser relativamente complexa. No caso do SQUID DC é possível simplesmente aplicar uma corrente contínua de polarização e monitorar a variação de tensão nos terminais. A este sistema são incorporadas

35

ainda bobinas de modulação que permitem a realimentação do circuito e a detecção síncrona (lock-in).

Além de possibilitar a obtenção do valor de magnetização da amostra em função do campo aplicado sobre esta a uma temperatura fixa, em geral entre 5 e 300 K, o SQUID permite a aquisição das curvas ZFC e FC, as quais foram apresentadas na seção 2.3.2.

3.4.2 Magnetômetro de Amostra Vibrante (MAV) O magnetômetro de amostra vibrante (MAV) se destaca por seu

bom desempenho, baixo custo e simplicidade de funcionamento. Possuindo uma sensibilidade da ordem de 10-5 emu.

Neste magnetômetro a amostra é fixada na extremidade de uma haste rígida, que então oscila com uma frequência definida ω e amplitude constante. Perpendicularmente à direção de movimento da amostra é aplicado um campo magnético uniforme H

que induz a esta

um momento de dipolo magnético M

. A variação temporal deste momento gera um campo magnético dependente do tempo que acaba por induzir uma força eletromotriz nas bobinas indutoras de detecção, obedecendo a lei de Faraday-Lenz. A amplitude da tensão induzida é proporcional ao momento de dipolo magnético, o que torna possível a obtenção da magnetização da amostra em função do campo magnético aplicado.

A haste em que a amostra está fixa tem liberdade para girar em torno de seu eixo, permitindo variar o ângulo em que o campo é aplicando. Esta versatilidade se torna útil no estudo de anisotropia magnética.

3.4.3 Balança de Faraday A balança de Faraday é um equipamento para detecção de

momentos magnéticos através da medida da força gerada por um gradiente de campo magnético sobre uma amostra magnetizada. Esta força é descrita pela equação 3.3 e pode ser medida por uma

36

microbalança com alta resolução, em torno de 0,01 µg, na qual a amostra é suspensa. Portanto, se a amostra estiver posicionada em uma determinada região que o gradiente de campo é conhecido, o momento magnético poderá ser calculado.

HMF

∇= . (Eq. 3.3) Este equipamento permite medidas de magnetização em

temperaturas que variam de 300 a 1250 K. Sendo possível realizar experimentos em temperatura constante e variando o campo magnético aplicado ou numa varredura de temperatura com campo constante.

37

3.5 Microscopia Eletrônica de Transimissão A microscopia eletrônica de transmissão é uma técnica na qual

um feixe de elétrons é transmitido através de uma amostra ultra fina e a imagem que irá ser formada é resultado da interação entre este feixe e a amostra. Após esta interação, através do uso de lentes magnéticas, a imagem é aumentada e focalizada numa tela fluorescente ou num filme fotográfico [62]. Uma câmera CCD pode também ser utilizada.

Para pequenas magnificações o contraste nas imagens do microscópio eletrônico de transmissão (MET) é devido à absorção dos elétrons pelo material, que tem relação com a espessura do filme e com a composição do material. Para grandes magnificações complexas interações ondulatórias modulam a intensidade da imagem.

O feixe primário de elétrons é produzido por emissão termiônica em um filamento, acelerado entre o cátodo e o ânodo, e colimado por lentes magnéticas constituídas por bobinas de corrente contínua com núcleos de aço. A fonte de emissão pode ser um filamento de tungstênio, ou de LaB6. O interior do MET é mostrado na figura 3.8.

38

Fig. 3.8: Representação esquemática dos componentes do Microscópio

Eletrônico de Transmissão. O ângulo de convergência do feixe de elétrons é controlado pela

corrente que passa através das lentes, e este ângulo é que determina a magnificação do MET. Tipicamente um MET consiste de três estágios de lentes. Os estágios são formados respectivamente pelas lentes condensadoras, objetivas e projetoras. As lentes condensadoras são responsáveis pela formação do feixe primário, enquanto as lentes objetivas focam o feixe depois que ele passou pela amostra. A

Filamento

Cátodo

Ânodo

Condensadora

Amostra

Objetiva

Projetora

Tela Fluorescente

β

39

magnificação no MET está também relacionada com a distância entre a amostra e as lentes objetivas. As lentes projetoras são usadas para expandir o feixe sobre o dispositivo que irá formar a imagem.

A resolução do MET é dada teoricamente pela fórmula, βλ61,0=teóricor , onde λ é o comprimento de onda associado ao feixe

de elétrons e β o semi -ângulo de captura dos elétrons que irão formar a imagem. Porém esta resolução é limitada pelas aberrações das lentes e correções devem ser feitas ao valor teórico. Na prática a maioria dos microscópios opera com resolução entre 0,25 – 0,3 nm, os microscópios de alta resolução chegam a operar com resolução de 0,15nm.

As aberrações que podem ocorrer no MET estão listadas a baixo: i) Astigmatismo: Esta aberração é causada pela falta de

uniformidade do campo magnético das lentes. Pode ser corrigida por pequenos octopolos que introduzem um campo “balanceador” minimizando as imperfeições.

ii) Aberração Esférica: Ocorre devido à força de Lorentz que age sobre os elétrons, para diminuir este efeito se utiliza lentes com uma distância focal menor.

iii) Aberração cromática: Está relacionada com a diferença de energia dos elétrons que formam o feixe, ela pode ser minimizada utilizando filtros de energia.

3.5.1 Preparação de Amostras – Cross-section Existem diferentes técnicas de preparação de amostras para

microscopia de transmissão, cada qual mais adequada a determinado tipo de amostra. No caso de filmes finos depositados sobre substratos de relativa espessura, da ordem de milímetros, a técnica usual é a cross-section, que se destaca por permitir o estudo das interfaces deste tipo de amostra.

As etapas em que a técnica de cross-section é dividida estão ilustradas na figura 3.9, e cada etapa é esclarecida a seguir:

i) A amostra é cortada de modo a formar duas fatias, que então são coladas uma na outra, a estrutura formada é apresentada na figura 3.9. Esta estrutura é então colocada em um cilindro de latão, onde se encaixa perfeitamente.

40

ii) Com o uso de uma serra de fio são cortados discos de 500 µm de espessura deste cilindro, que então são lixados até uma espessura final de 100 µm.

iii) Posteriormente, no centro destes discos é formado um cone com o uso do equipamento chamado dimple, ao final desta etapa a parte central do disco tem espessura de 5 µm.

iv) A última etapa é o polimento iônico, realizado pelo equipamento denominado de Precision Ion Polishing System – PIPS, este polimento irá então diminuir a espessura central de tal forma que possibilite a passagem dos elétrons pela amostra quando for realizada a microscopia de transmissão.

Fig. 3.9: Descrição das etapas de preparação de amostra por cross-

section para microscopia de transmissão.

Substrato

1ª etapa

Cilindro de latão

Cola Filme Fino

2ª etapa

100 µm

3ª etapa

5 µm

4ª etapa

41

4 Resultados e Discussões

42

4.1 Voltamogramas e Transientes de Corrente Os experimentos eletroquímicos utilizados nesta dissertação tem

como objetivo: i) Estudo das reações químicas que ocorrem no eletrólito

quando este se encontra sob aplicação de um potencial elétrico através de voltamogramas.

ii) Obtenção, por eletrodeposição potenciostática, de filmes finos de Cu2O dopados com Co.

O aparato experimental utilizado para tais fins foi descrito na seção 3.1.

Voltamogramas realizados, utilizando o eletrólito descrito na seção 3.1, o qual foi preparado com diferentes quantidades de CoSO4, são apresentados na figura 4.1, assim como num eletrólito sem a adição deste reagente. Neste último o aumento abrupto de corrente em aproximadamente -0,8 V vs. SCE ocorre devido à redução de íons de cobre, segundo a reação representada abaixo:

↓↔+ −+ CueCu 22 .

A partir de -0,95 V vs. SCE a corrente diminui devido ao fato que

a reação passa a ser limitada pelo transporte de massa e não mais pela disponibilidade de cargas no eletrodo de trabalho.

Na figura 4.1 podemos notar que a adição de CoSO4 acaba por inibir a redução de íons de cobre. Porém, verificamos que o comportamento para potenciais menores em módulo que -0,7 V vs. SCE é idêntico para todos os eletrólitos, vide gráfico inserido na figura 4.1. A reação para formação de Cu2O ocorre para potenciais em torno de -0,5 V vs. SCE, portanto não sofre uma alteração apreciável quando adicionamos CoSO4. Indicando assim que mesmo adicionando um novo reagente, podemos eletrodepositar filmes de Cu2O com características semelhantes a dos filmes crescidos a partir de eletrólitos “puros”.

43

Fig. 4.1: Voltamogramas com velocidade de varredura de 10 mV/s

para eletrólitos com diferentes concentrações de CoSO4. Gráfico inserido apresenta uma ampliação da região em que ocorre a redução de Cu2O.

A figura 4.2 apresenta transientes de corrente obtidos durante

eletrodeposição potenciostática com potencial de -0,5 V vs. SCE, utilizando eletrólitos sem adição de CoSO4 e contendo 0,016 M CoSO4. Para ambos eletrólitos os valores de corrente são muito próximos, corroborando com os resultados obtidos pelos voltamogramas. Nos momentos iniciais dos transientes é observado um grande aumento de corrente que é resultado do aumento da área eletroativa.

44

Fig. 4.2: Transientes de corrente da deposição potenciostática nos

substrato silício tipo n, a escala de tempo está em log para uma melhor visualização. O potencial de deposição foi de – 0.50 V vs. SCE.

Os filmes obtidos por esta eletrodeposição potenciostática

demonstraram uma boa aderência com o substrato e aparência homogênea da superfície, independentemente da concentração de CoSO4. Estes fatos e resultados obtidos anteriormente por R. G. Delatorre [57] em sua tese de doutorado confirmam este procedimento como sendo adequado para obtenção de filmes finos de Cu2O.

Houve a tentativa de preparação de eletrólitos com concentrações de CoSO4 superiores a 0,016 M, porém, verificamos a formação de uma substância insolúvel. Uma imagem retirada de um eletrólito contendo 0,018M CoSO4 pode ser visualizada na figura 4.3.

45

Fig. 4.3: Foto retirada de um eletrólito contendo 0,018 M CoSO4.

Podemos notar o aparecimento de uma substância insolúvel.

46

4.2 Difratometria de Raios X

Para o estudo da estrutura cristalina dos filmes, foram realizadas

medidas de difração de raios X. A figura 4.4 mostra difratomogramas de raios X para amostras de Cu2O preparadas a partir de eletrólitos contendo diferentes concentrações de CoSO4, nestes difratogramas podemos identificar os picos referentes ao substrato e a Cu2O com estrutura cúbica de corpo centrado (bcc) [52, 63, 64].

Através destes difratomogramas notamos a existência de um crescimento preferencial na direção (200) seguindo a orientação do substrato e a largura a meia altura do pico (200) de 0,54° indica a boa cristalinidade do material. Propriedades estas que são de suma importância para a aplicação em dispositivos eletrônicos. Verificamos também que a adição de CoSO4 não implica na formação de uma fase relacionada a átomos de Co, fato este essencial para obtenção de um semicondutor magnético diluído.

Fig. 4.4: Difratometria de raios X realizada em um filme fino de Cu2O

eletrodepositado a partir de um eletrólito contendo 0,016 M CoSO4. A radiação utilizada é CuKα.

47

O parâmetro de rede dos filmes eletrodepositados através de eletrólitos com diferentes concentrações de CoSO4 foi calculado a partir do valor de 2θ para o qual se tem o máximo de intensidade do pico (200) e das equações 3.1 e 3.2. Os resultados obtidos são mostrados na figura 4.5 e inserido a esta figura é apresentado um aumento da região em torno do pico (200), onde então podemos notar um deslocamento do máximo de intensidade destes picos.

Fig. 4.5: Dependência do parâmetro de rede calculado a partir do pico

(200) com a concentração de CoSO4 no eletrólito. Gráfico inserido apresenta uma ampliação da região em torno do pico (200) do Cu2O, mostrando o deslocamento deste pico em função da concentração de CoSO4 no eletrólito.

O valor do parâmetro de rede para uma amostra volumétrica de

Cu2O é igual a 4,27 Å [65], valor muito próximo do encontrado para a amostra depositada a partir do eletrólito contendo 0,004 M CoSO4.

Concentração de CoSO4 (M)

Par

âmet

ro d

e re

de (

Å)

Pico (200)

48

Porém, devido a uma maior incorporação de íons Co2+ na rede do Cu2O que acaba por induzir a formação de vacâncias de cobre [66], notamos um decréscimo do parâmetro de rede com o aumento da concentração de CoSO4.

A redução do parâmetro de rede pode significar que a dopagem com íons Co2+ produza estresse nos filmes, e este aumento de estresse deve levar a uma variação do índice de refração do material, resultado este verificado por espectroscopia óptica e será apresentado na seção seguinte.

49

4.3 Espectroscopia Óptica Com o intuito de obter resultados acerca das propriedades ópticas

dos filmes de Cu2O dopados com Co, medidas de reflectância foram realizadas para comprimentos de onda entre 250 e 2000 nm. Os espectros obtidos para filmes depositados a partir de eletrólitos contendo diferentes concentrações de CoSO4 são apresentados na figura 4.6. Todos os filmes possuem espessura igual à 750 nm e devido a esta espessura verificamos a presença de ondulações provenientes da interferência entre o sinal refletido na interface ar-filme com o proveniente da interface filme-substrato.

Fig. 4.6: Espectros de reflectância de filmes finos de Cu2O dopados

com Co, todos os filmes possuem espessura de 750 nm. Na figura 4.6 a diminuição do sinal de reflectância em

aproximadamente 1200 nm é devido ao gap de energia do silício, um

50

espectro de reflectância do silício tipo n pode ser verificado na figura 4.7. A subsequente atenuação da amplitude de oscilação está relacionada com o gap de energia do Cu2O, que se encontra em torno de 600 nm. Os picos em 366 e 276 nm podem estar relacionados a transições entre bandas do Cu2O.

Fig. 4.7: Espectro de reflectância de silício do tipo n, utilizado como

substrato para eletrodeposição dos filmes finos de Cu2O. O índice de refração vs. comprimento de onda foi obtido através

dos espectros apresentados na figura 4.6 e das equações 3.4 e 3.5. Os resultados encontrados são mostrados na figura 4.8 e estão de acordo com a literatura [67-69]. Podemos notar que em todos os casos o índice de refração decresce com o aumento do comprimento de onda, mas para valores superiores a ~800 nm se mantém praticamente constante devido a ausência de dispersão causada por elétrons livres [70]. A abrupta diminuição do índice de refração que ocorre entre 500 e 600 nm é devido a borda de absorção do Cu2O, e a dispersão para comprimentos nesta faixa se deve aos elétrons ligados do Cu2O.

51

Podemos notar na figura 4.8 que os valores do índice de refração aumentam com a concentração de CoSO4 presente no eletrólito, como mencionado na seção anterior esta variação pode ser causada pelo aumento de estresse nos filmes, comportamento semelhante foi observado pela referência 61.

Fig. 4.8: Índice de refração de filmes finos de Cu2O dopados com Co

em função do comprimento de onda da radiação incidente sobre o filme. Filmes preparados com eletrólitos contendo uma maior concentração de CoSO4 apresentam valores mais elevados para o índice de refração.

Fazendo uso do método apresentado na seção 3.3.1, o valor de Eg

foi obtido para as mesmas amostras da figura 4.8. Estes valores apresentaram um aumento em função da concentração de CoSO4 no eletrólito e são apresentados na figura 4.9.

500 750 1000 1250 1500 1750 20002,2

2,4

2,6

2,8

3,0

3,2

n

λ (nm)

0,004M CoSO4

0,012M CoSO4

0,014M CoSO4

0,016M CoSO4

52

Fig. 4.9: Dependência do gap de energia (Eg) com a concentração de

CoSO4 no eletrólito. O valor de Eg para a amostra crescida a partir do eletrólito

contendo 0,016 M CoSO4 é de 2,27 eV, valor este maior que o atribuído a uma amostra volumétrica de Cu2O. Este resultado permite uma possível aplicação deste material como um óxido condutor transparente (transparent conducting oxide - TCO). Para esta aplicação é necessário que o material apresente um gap de energia largo, de forma que não absorva radiação com comprimentos de onda na região do visível.

No caso do Cu2O, o “alargamento” do gap de energia pode ser obtido pela quebra das ligações O-Cu-O, que reduzem as interações Cu d-d e assim levam a maiores valores de Eg [8, 71, 72]. Portanto, nossos resultados indicam que a incorporação de íons Co2+ reduz significativamente as interações Cu d-d a ponto que o gap de energia se torne mais largo. Deste modo, a eletrodeposição de Cu2O dopado com Co pode ser um promissor processo para fabricação de TCOs.

0,004 0,008 0,012 0,016

2,22

2,24

2,26

2,28

E g (eV)

Concentração de CoSO4 (M)

53

4.4 Magnetometria Ciclos de histerese para amostras depositadas a partir dos

eletrólitos contendo 0,014 (amostra I) e 0,016 M CoSO4 (amostra II), apresentados na figura 4.10.a), demonstram comportamento ferromagnético à 5 K para um campo magnético aplicado paralelamente ao plano da amostra. No entanto, o sinal ferromagnético da amostra I é menor que o da amostra II, seguindo assim o comportamento de incorporação de íons Co2+ visto na figura 4.5. O valor da magnetização de saturação é respectivamente 1,3 e 4,0 emu/cm3 para as amostras I e II, e o campo coercivo é ~130 Oe para ambas.

A figura 4.10.b) mostra curvas FC e ZFC da amostra II, para esta medida o campo magnético foi aplicado paralelamente a superfície da amostra e a intensidade foi de 100 Oe. No intervalo de temperatura investigado (5–300 K), não foi possível detectar sinal superparamagnético, corroborando com a não existência de partículas de segunda fase na forma de aglomerados que poderiam ser responsáveis pelo sinal ferromagnético. Além disto, medidas de EPR (electron paramagnetic ressonance) não indicaram a presença de contaminantes.

Fig. 4.10: (a) Ciclos de histerese medidos com SQUID à 5 K para um

campo magnético aplicado paralelamente ao plano da amostra. (b) Curvas ZFC e FC do filme eletrodepositado a partir do eletrólito contendo 0,016 M, um campo magnético de 100 Oe foi aplicado paralelamente a superfície da amostra.

b)a)a) b)

Campo Magnético (kOe)

Mag

netiz

ação

(em

u/cm

³)

Mag

netiz

ação

(em

u/cm

³)

Temperatura (K)

54

Com o intuito de investigar a existência de anisotropia magnética nos filmes de Cu2O dopados com Co, ciclos de histerese foram realizados utilizando um MAV, pois este equipamento permite variar o ângulo entre a superfície da amostra e o campo magnético aplicado. As medidas se deram à 300 K e a amostra II foi utilizada para este fim. Os resultados obtidos são apresentados na figura 4.11.a) e podemos notar uma pequena anisotropia, onde o eixo de fácil magnetização é perpendicular à superfície da amostra. A magnetização para um campo aplicado de 10 kOe varia de 3,25 a 3,83 emu/cm3, respectivamente, para ângulos em relação à superfície da amostra de 0° e 90°. Para os mesmos ângulos o campo coercivo varia de 72 para 85 Oe.

Fig. 4.11: (a) Magnetização a temperatura ambiente vs. campo

magnético aplicado em diferentes ângulos em relação à superfície da amostra (0° - 90°), este filme foi depositado com o uso de um eletrólito contendo 0,016M CoSO4 e o equipamento utilizado para as medidas foi um MAV. (b) Para este mesmo filme, com o intuito de encontrar a temperatura de Curie, obtemos uma curva da magnetização vs. temperatura através de uma balança de Faraday. A curva experimental (preta) foi ajustada pela equação 2.8, a curva que representa o ajuste (vermelha) indica uma temperatura de Curie de 555 K.

Através do uso de uma balança de Faraday, obtemos uma curva

de magnetização em função da temperatura para a amostra II. Com o objetivo de encontrar o valor da temperatura de Curie, esta curva foi

a)a)

Mag

netiz

ação

3(e

mu/

cm3 )3

Mag

netiz

ação

(em

u/cm

³)

Campo Magnético (kOe) Temperatura (K)

b)

55

ajustada seguindo a equação 2.8. O valor encontrado foi de 555 K, temperatura esta da ordem, ou até superior, aos valores referentes a cristais ferromagnéticos citados na tabela 2.1. Este alto valor está em boa concordância com a geração de vacâncias de cobre pela dopagem com Co, visto anteriormente na seção 4.2. M. Sieberer [28] et al. publicaram em recente trabalho que vacâncias do cobre aumentam o sinal ferromagnético criado pelos átomos de Co, e são também responsáveis por elevar a temperatura de Curie.

Este valor de TC é mais um resultado que pode provar a inexistência de uma relação entre o sinal ferromagnético encontrado e a presença de aglomerados de Co, através da relação KV ~ 25kBTC podemos calcular o suposto volume (V) das partículas de Co, onde K é a constante anisotrópica e para o Co é igual a 4,1 x 105 J.m-3 [73]. Então, tomando TC igual a 600 K encontramos V ~ 505 nm3, o que resulta num diâmetro de ~ 10 nm. Partículas com este diâmetro podem ser encontradas por microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução, esta análise foi realizada e é apresentada na seção seguinte.

56

4.5 Microscopia Eletrônica de Transmissão

A figura 4.12 apresenta imagens obtidas por microscopia de transmissão para uma amostra crescida com o uso do eletrólito contendo 0,016 M CoSO4. O modo de preparação da amostra é conhecido como cross-section e foi descrito na seção 3.5.1. No sentido de se caracterizar o aspecto geral deste tipo de filme, é mostrado na figura 4.12.a) uma imagem de baixa resolução, onde podemos notar uma baixa rugosidade da superfície, constante espessura do filme e que a forma de crescimento é colunar.

Imagens de alta resolução foram obtidas com o intuito de provar a não existência de partículas de Co na forma de aglomerados, segundo estimativa obtida na seção anterior estas partículas teriam diâmetro da ordem de 10 nm. Na figura 4.12.b), podemos ver uma imagem de alta resolução onde três regiões distintas são identificadas, uma relacionada ao substrato de silício, outra ao filme fino de Cu2O dopado com Co e a terceira região, entre estas outras duas, é uma fina camada de SiO2 amorfo que cresce no momento em que o silício é mergulhado no eletrólito. A presença deste óxido foi previamente relatada por J. A. Switzer [74]. Os planos atômicos presentes na região referente ao filme de Cu2O indicam a boa cristalinidade, já verificada por difratometria de raios X, destes filmes. Diferentes imagens desta região foram analisadas e como esperado não foram encontradas partículas de segunda fase.

57

FIG. 4.12. (a) Imagem obtida por microscopia de transmissão de baixa

resolução da amostra de Cu2O dopado com Co através do eletrólito contendo 0,016 M CoSO4. (b) Imagem de alta resolução da mesma amostra. O modo de preparação da amostra foi cross-section.

SiO2

Si

b)

Si

Cu2O

a)

Cu2O

58

5 Conclusões Através da técnica de difratometria de raios X notamos que a

adição de CoSO4 ao eletrólito não implica em segregação nos filmes finos de Cu2O eletrodepositados, ou seja, os filmes são formados apenas por fases cristalinas relacionadas à Cu2O com estrutura bcc. Porém, o parâmetro de rede destes filmes apresenta um decréscimo em função da concentração de CoSO4, indicando que a incorporação de íons Co2+ ao filme de Cu2O é proporcional à concentração de CoSO4 no eletrólito. Além destes resultados, a existência de um pico de maior intensidade na direção (200) indica que o crescimento do filme segue a orientação do substrato, sendo a pequena largura deste pico um indicativo da boa cristalinidade do material. Estas propriedades somadas a baixa rugosidade da superfície e a uniformidade da espessura dos filmes, verificadas por microscopia de transmissão, fazem com que este material tenha boas condições de ser empregado em dispositivos eletrônicos.

Resultados obtidos por espectroscopia óptica demonstram uma variação positiva do índice de refração e do gap de energia em função da incorporação de íons Co2+, sendo a variação do índice de refração justificada pelo aumento de estresse dos filmes e do gap de energia pelo enfraquecimento das interações Cu d-d. Este “alargamento” do gap de energia possibilita uma futura aplicação deste material como um TCO.

A caracterização magnética comprovou os resultados referentes à incorporação de íons Co2+, ao comparar ciclos de histerese de amostras eletrodepositadas a partir de eletrólitos contendo, respectivamente, 0,014 e 0,016 M CoSO4 se evidenciou um maior valor de magnetização para a amostra relacionada com o último eletrólito, indicando uma maior incorporação de íons Co2+. Foi também verificado que o comportamento ferromagnético destes filmes persiste a temperaturas acima da ambiente, com temperatura de Curie de 555 K. Valor este considerado elevado para um DMS e até então não verificado na literatura para filmes finos de Cu2O dopados.

Curvas ZFC e FC, juntamente com imagens de alta resolução obtidas por microscopia de transmissão, rechaçaram a possibilidade do

59

sinal ferromagnético ser devido a existência de partículas de segunda fase na forma de aglomerados.

Portanto, este trabalho demonstrou a viabilidade da obtenção de filmes finos de Cu2O dopados com Co pelo método de eletrodeposição potenciostática, tendo este material propriedades que o caracterizam como sendo um DMS e que o credenciam para aplicação em dispositivos spintrônicos.

60

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