testador de circuitos integrados - victor trucco · pdf fileic tester vtrucco 2015 testador de...

18
IC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015 http://www.victortrucco.com

Upload: nguyenanh

Post on 10-Feb-2018

235 views

Category:

Documents


12 download

TRANSCRIPT

Page 1: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

IC Tester

VTrucco 2015

Testador deCircuitos Integrados

Victor Trucco 2015http://www.victortrucco.com

Page 2: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015
Page 3: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

IC Tester

VTrucco 2015

CARACTERÍSTICAS

1 - Display de LCD

2 - Soquete Z.I.F.

3 - LED

4 - Botões de navegação

5 - Botão de seleção

6 - Chave liga-desliga

7 - Entrada de fonte de

alimentação

1

6 7

2

3

4 45

Page 4: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

FONTE DE ALIMENTAÇÃO

Plug P4

Positivo nopino central

A fonte a ser utilizada deve serregulada de 12 Volts com pelomenos 1 Ampere de corrente.O encaixe deve ser padrão "P4"tendo o positivo no pinocentral.

Para manter a portabilidade oequ ipamen to pode se roperado com uma bateriainterna de 9V, a "quadradinha"como alguns chamam.

Page 5: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

USO

Se você está utilizando sem uma fonte de alimentação, use achave liga-desliga (6) para utilizar o equipamento. Com umafonte, basta encaixar no conector (7), não sendo necessárioligar a chave.

Após 2 segundos de auto-teste, o equipamento está prontopara uso.

Não coloque qualquer componente no soquete z.i.f.antes de ligar o equipamento!

apagado

O LED (3) indica quando um CI pode ser inserido. Somentecoloque um componente para teste quando o LED estiver

. O mesmo é válido para testes de vários CIs emsequencia, troque o componente por outro apenas com o LEDapagado.

IC Tester

VTrucco 2015

Select type

TTL 74XX (3)

Page 6: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Testando memórias estáticas - SRAM

SR

AM

Select type

Salvo indicação contrária, coloque a memória estática em teste como semi-circulo para cima, alinhando a base da memoria, na base dosoquete z.i.f., conforme indicado na ilustração acima.

(Imagem do CI apenas ilustrativa. Ele vai variar em tamanho enúmero de pinos, de acordo com o componente sendo testado)

Com os botões de navegação (4) escolha o tipo de memória aser testado. Consulte a tabela no fim do manual para saber osmodelos suportados.

Select type

SRAM 6116

Select type

SRAM 2102

Page 7: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

SR

AM

Select type

Nestes dois casos a memória precisa ser alinhada pelo terceiro pinodo soquete z.i.f., conforme a ilustração acima.

ATENÇÃO: as memórias SRAM 2114 e 5101 requerem umalinhamento diferente. Repare que ambas tem a indicação donúmero "3" no display ao lado do seu nome.

Select type

SRAM 2114 (3)

Select type

SRAM 5101 (3)

Page 8: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Com a memória corretamente posicionada, pressione uma vezo botão de seleção (5) para iniciar os testes.

As memórias estáticas são testadas rapidamente em 4 padrõesde teste distintos.

1. teste (preenchimento) - Todas as posições de memória sãopreenchidas com FFh2. teste (limpeza) - Todas as posições são preenchidas com 00H3. teste (1. inversão) - Todas as posições com 55h4. teste (2. inversão) - Todas as posições com AAh5. teste (repetição) - Todos os quatro testes anteriores sãorepetidos uma segunda vez)

Cada passo do teste compreende em um ciclo de escrita e umciclo de leitura, para conferência dos valores escritos em cadaposição de memória e logicamente os componentes que temapenas 1 ou 4 bits tem seus valores de teste ajustados deacordo. No exemplo acima foi levado em conta uma memoriade 8 bits.

Select type

SRAM 6116

SRAM 6116

Testing...

Page 9: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Após 1 ou 2 segundos temos o resultado no display:

Estando o componente em perfeito estado, temos algo similarao mostrada na ilustração da esquerda, um "OK".

Em caso de falha, poderemos observar a informação doendereço que falhou (XXXX) o que foi escrito (ZZ) e o que foi lido(YY). Desse jeito podemos identificar exatamente onde ocorreuo erro. Se o defeito for por exemplo numa das linhas de dados,já irá falhar em 0000, mas se for numa linha de endereço podefalhar bem à frente, ou até mesmo somente a partir do meio damemória.

Durante todo o teste o LED permanece aceso, com exceção doda SRAM 61512 que tem uma de suas linhas de endereçocompartilhada com o LED. Neste caso específico o LED terá umcomportamente errático, piscando em alguns momentos,porém sempre apagando ao final.

SRAM 6116

Testing...OK!

ERROR in XXXX

read YY was ZZ

Page 10: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Testando memórias dinâmicas- DRAM

DR

AM

Select type

Posicione a memória com o semi-circulo para cima, alinhando abase com a base do soquete z.i.f., conforme indicado na ilustraçãoacima. No caso das memórias dinâmicas, todas são alinhadassempre pela base.

Com os botões de navegação (4) escolha o tipo de memória aser testado. Consulte a tabela no fim do manual para saber osmodelos suportados.

Select type

DRAM 4164

Select type

DRAM 4027

Page 11: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Com a memória corretamente posicionada, pressione uma vezo botão de seleção (5) para iniciar os testes.

As memórias dinâmicas são um pouco mais complexas de seremtestadas que as estáticas e o teste é substancialmente maisdemorado. Será de cerca de 10 segundos para as menores, atéalguns minutos para as de grande capacidade.

Aqui, temos os seguintes testes:

1. teste (matriz) - Todas os pinos são checados para conferir setodas as linhas e colunas estão respondendo.2. teste (preenchimento) - Todas as posições de memória sãopreenchidas com FFh3. teste (limpeza) - Todas as posições são preenchidas com 00H4. teste (1. inversão) - Todas as posições com 55h5. teste (2. inversão) - Todas as posições com AAh6. teste (repetição) - Todos os quatro testes anteriores sãorepetidos uma segunda vez)

Novamente, cada passo do teste compreende em um ciclo deescrita e um ciclo de leitura, e os valores são ajustados deacordo com a quantidade de bits do componente.

Select type

DRAM 4164

DRAM 4164

Pass: 1..

Page 12: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Após o término do teste, temos as seguintes possibilidades deresultado:

Na nossa primeira análise de resultado, no quadro superior àesquerda, temos um "OK", indicando que o componente estáem perfeito estado.

Na segunda ilustração, no alto à direita, temos a informaçãoque escrevemos o valor VV e foi lido ZZ na posição de memóriaindicado pela matriz em linha XX, coluna YY, o que significa quea memória está defeituosa.

Nos dois resultados de baixo, temos uma falha da matriz, antesmesmo de começarmos os testes de escrita. Na esquerda, temosa informação que a matriz falhou em XX, indicando falta decomunicação entre o pino e a matriz, enquanto que nailustração da direita temos a informação de um curto em duaslinhas da matriz. Ambos os casos desqualificam a memória,indicando defeito no componente.

DRAM 4164

Pass: 1..2..OK

read VV was ZZ

at XX YY - BAD!

Matrix failed

at XX 00

Matrix Corrupted

XX 00 to YY 00

Page 13: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Memórias Dinâmicas com três voltagens

Isso é necessário porque uma seleção equivocada desses testespode danificar o componente no soquete. Um segundo toque nobotão de seleção (5) executa o teste.

tenha certeza que o componente no soquete realmentesuporta as três voltagens antes de confirmar o teste!

Uma segunda observação quanto à este teste: esse tipo dememória tem um grande consumo de corrente e a bateria interna,mesmo testando outros componentes normalmente, pode nãofornecer a corrente necessária após algum tempo de uso (bateria àmeia-vida). Na dúvida, prefira sempre testar essas memóriasusando uma fonte de alimentação conectada no Testador deCircuito Integrados no conector apropriado (7).

ATENÇÃO:

Algumas memórias dinâmicas constam na tabela decomponentes suportados como Isso quer dizerque elas trabalham com +12V e -5V, além do tradicional +5Vdos outros componentes.

Um desses testes ao ser selecionado, pede uma confirmação.

"três voltagens".

WARNING!!!

DO YOU CONFIRM?

Page 14: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Testando CIs de lógica - TTL e CMOS

Todos os circuitos integrados de lógica TTL ou CMOS sãoposicionados a partir do pino 3 do soquete z.i.f, com o semi-circulopara cima. Observe a ilustração acima.

Com os botões de navegação (4) escolha o tipo de circuitointegrado de lógica a ser testado. Consulte a tabela no fim domanual para saber quais são suportados.

Select type

TTL 74XX (3)

Select type

CMOS 45XX (3)

TT

L

Select type

(3)

Page 15: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Após pressionar o botão de seleção (5), temos o resultado doteste:

No primeiro caso, o CI está defeituoso ou não consta na tabelade componentes suportados (verifique a lista nas últimaspáginas deste manual).

Nesta ilustração, vemos que ele encontrou uma possibilidadepara o CI no soquete. O teste é feito por "Tabelas Verdade", ondetodas as entradas são alimentadas e verificamos os padrões dasaída. Caso haja uma igualdade o nome do CI é informado.

Vários CIs de lógica geram um mesmo padrão de "TabelaVerdade" e não temos como distinguir um de outro, nesse caso.Por exemplo, o 7400 gera exatamente o mesmo que um 7403,então a cada toque do botão de seleção (5), um novo padrão étestado. Se temos um 7400 em bom estado no soquete, aprimeira seleção irá mostrar 7400 - OK no display, um segundotoque irá para 7403 - OK e assim passando por todas aspossibilidades, até mostrar novamente o 7400 - OK no display.

. Apesar dastabelas-verdade serem iguais em alguns casos, ofuncionamento é diferente e dificilmente um componentepoderá ser usado no lugar de outro num reparo.

Isso não quer dizer que os CIs são compatíveis

Bad or

not supported!

74132

FOUND OK

Page 16: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

Os circuitos integrados da família 74 são amplamente utilizados até hoje em váriosequipamentos. Além da série padrão, sem letras (exemplo 7400), muitas outrasséries podem ser testadas. A lista abaixo, apesar de só indicar a série padrão, serveperfeitamente para qualquer outra série suportada.

Séries suportadas

LISTA - TTL 74

74007401740274037404740574067407740874097410741174127413741474157416741774187419742074217422742374247425742674277428743074317432

74337434743574377438743974407442744374447445744674477448744974507451745274537454745574587460746174627464746574707474748574867495

7410774109741127411374114741167412374125741267412874131741327413374134741357413674137741387413974140741457414774148741497415074151741527415374154741557415674157

7415874160741617416274163741647416574166741687417074173741747417574180741817418274183741907419174192741937419474195742377423874240742417424274243742447424574246

7424774248742497425174253742577425874259742607426574266742737427874279742807428374290742927429374294742957429874299743237434874351743527435374354743567436374364

7436574366743677436874373743747437574377743787438674390743937439974425744267444574465744667446774468744907451874519745207452174522745337453474540745417456374564

74573745747457574576745777458074589745957459774620746217462274623746387463974640746417464274643746447464574646746707468874689744020

74L74S74LS74AS74ALS74F74C

74FC74H74HC74HCT74AC74ACT74AHC

TTLs

Page 17: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

LISTA - CMOS 40

LISTA - CMOS 45

40004001400240064007400840094010401140124013401440154016401740184019402040214022402340244025402640274028402940304031

40324033403440354038404040414042404340444048404940504051405240534055405640604063406640674068406940704071407240734075

40764077407840814082408540864093409440954096409740994010140106401094014740160401614016240163401744017540192401934019440257

450145024503450445064508451045114512451445154518

45194520452945324543455345554556457245844585

Page 18: Testador de Circuitos Integrados - Victor Trucco · PDF fileIC Tester VTrucco 2015 Testador de Circuitos Integrados Victor Trucco 2015

MEMÓRIAS DRAM

MEMÓRIAS SRAM

TMS4027 (4K x 1 bit) (3 voltagens)4116 (16K x 1 bit) (3 voltagens)4164 (64K x 1 bit)41256 (256K x 1 bit)4416 (16K x 4 bit)4464 (64K x 4 bit)44256 (256K x 4 bit)4516 (16K x 1 bit)4517 (16K x 1 bit)5290 (16K x 1 bit) (3 voltagens)

As memórias estáticas existem de vários fabricantes e numerações diferentes.Mesmo que não estejam listada aqui, confira o datasheet do fabricante porque ascaracterísticas podem se encaixar em alguma das citadas abaixo.

2102 (1K x 1 bit)2114 (1K x 4 bits)5101 (256 bytes x 4 bits)6116 (2K x 8 bits) (outros nomes: 5116 e 8416)6264 (8K x 8 bits) (outro nome: 65764)62256 (32K x 8bits)61512 (64K x 8 bits)