8/18/2019 Introduçãoacao

1/4

1- Introdução

Para entender e até prever o comportamento de muitos materiais, muitas vezes é

necessário realizar uma análise da microestrutura. A microscopia óptica (M.O) e a

microscopia eletrônica (M.E) são as duas técnicas mais utilizadas para realizar esse tipo

de análise.

Emora as duas técnicas se!am as mais utilizadas, elas t"m uma capacidade de

resolu#ão limitada pelo comprimento de onda da radia#ão utilizada. $a microscopia

óptica é poss%vel oservar detal&es de até ', m, aai*o de valor os o!etos não

apresentarão contraste.

 $a microscopia eletrônica, na re+ião a ser analisada ao invés de utilizar uma

irradia#ão de luz é utilizada uma irradia#ão por um ei*e ino de elétrons -ue a partir da%

uma serie de radia#es são emitidas (/aio0* caracter%sticos, elétrons au+er, ótons,

elétrons secundários, elétrons retroespal&ados, etc.) -ue -uando são captadas de maneira

correta, irão nos ornecer inorma#es sore a amostra com uma maior resolu#ão,

 possiilidade de aumento na ordem de 1'' ''' vezes a depender da amostra, mas

normalmente 2' ''' vezes é o aumento utilizado para a análise das amostras.

 

Figura 1: 3esen&o es-uemático para compara#ão entre microscópio óptico e

microscópio eletrônico de varredura

8/18/2019 Introduçãoacao

2/4

As duas principais ormas de caracteriza#ão por microscopia eletrônica são a

microscopia eletrônica de transmissão (ME4) e a microscopia eletrônica de varredura

(ME5). O -ue dierencia uma da outra é a orma em -ue as ima+ens serão apresentadas

ao usuário. $o ME4 &á uma capacidade maior de aumento, mas a ima+em é

 idimensional, no ME5 é e*aminada a super%cie da amostra, apresenta uma ima+em

tridimensional e o ei*e de elétrons não atravessa a amostra.

O princ%pio de uncionamento do microscópio eletrônico de varredura consiste

na utiliza#ão de um ei*e de elétrons -ue possui um pe-ueno di6metro para e*plorar 

 ponto a ponto da super%cie da amostra e transmitir o sinal do detector a uma tela

catódica onde a varredura está sincronizada com a-uela do ei*e incidente.

O sinal da ima+em resulta da intera#ão do ei*e incidente com a

super%cie da amostra. O sinal receido pelo detector é utilizado para modular o ril&o

do monitor, permitindo a oserva#ão.

O principal motivo de sua utilidade é a alta resolu#ão -ue pode ser otida para as

amostras em pes-uisa avan#ada, -ue são capazes de alcan#ar uma resolu#ão mel&or -ue

2 nm ($A7A4A$8 et al.,219:).

A maioria dos instrumentos utilizam um ilamento de tun+st"nio como onte de

elétrons. $a microscopia eletrônica de varredura, para a orma#ão da ima+em, os sinais

de maior interesse são os elétrons retroespal&ados (/;E) -ue nos ornece uma ima+em

caracter%stica de varia#ão de composi#ão. As ima+ens +eradas através desse tipo de sinal

 provem de intera#es elásticas, onde &á a mudan#a de dire#ão sem perda de ener+ia

entre os elétrons e a amostra e os sinais de elétrons secundários (;E) -ue nos ornecem

ima+ens topo+ráicas da super%cie da amostra e são responsáveis por oter ima+ens em

alta deini#ão. As amostras por elétrons secundários provem de intera#es inelásticas

onde &á a perda de ener+ia com pe-uena mudan#a de dire#ão entre os elétrons e a

amostra.

8/18/2019 Introduçãoacao

3/4

2- Objetivos

Esta pratica tem como o!etivo correlacionar as ima+ens otidas através do

ME5 com a varia#ão dos paramentos operacionais (dist6ncia de traal&o, spot size,

tensão e aumento) -ue podem ser modiicados durante uma análise.

3- Procedimento experimental

 $o presente estudo tr"s amostras oram analisadas (compósito com matriz

 polimérica constitu%do de PE, PE4 e ar+ila e duas li+as 4i0$i0;i).  As Microscopias

Eletrônicas de 5arreduras oram otidas através do microscópio e 2> ?v,

dist6ncias de traal&o de 22, @ e mm e spot size de > e B' mm

Para a primeira li+a oram utilizadas tenses de 2' e 2> ?v, dist6ncia de traal&o

de 2: mm e spot size de > e B' mm.

Para a se+unda li+a oi utilizada uma tensão de 2> ?v, dist6ncia de traal&o de

2: mm e spot size de > e B' mm.

4odos os materiais oram analisados com aumentos de @'*, ''*, >''*, 2'''*.

8/18/2019 Introduçãoacao

4/4

Cilio+raia

&ttpDFFF.pucrs.redipucrsonlinemicroscopia.pd 

&ttpDFFF.ea&.com.rcontentACAAAAc9cA3microscopio0eletronico0

varredura.

Goller, H.