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Determinación del grado de polarización circular de la radiación producida por la línea U11-PGM del LNLS. Becaria Danila Merino Estudiante de Licenciatura en Química de la Universidad Nacional de Mar del Plata Orientador Dr. Julio Criginski Cezar/ LNLS

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Determinación del grado de polarización circular de la radiación producida por la

línea U11-PGM del LNLS.

Becaria Danila Merino

Estudiante de Licenciatura en Química de la Universidad Nacional de Mar del Plata

Orientador Dr. Julio Criginski Cezar/ LNLS

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

1

Determinación del grado de polarización

circular de la radiación emitida por la

línea U11-PGM del LNLS

Becaria

Danila Merino

Estudiante de Licenciatura en Química en la

Universidad Nacional de Mar del Plata

Relatório técnico-científico apresentado como

requisito parcial exigido no

22º Programa Bolsas de Verão do CNPEM -

Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais.

Orientador

Dr. Julio Criginski Cezar / LNLS

Campinas, SP, 2013

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2

Agradecimientos

Agradezco de todo corazón a todos aquellos que me brindaron esta

oportunidad única: A mis padres por haberme dado la posibilidad de estudiar y

por haberme alentado y apoyado en esto tan importante para mí, al Comité gestor

del 22° Programa de Becas de Verano del CNPEM por su elección, a Vera

Álvarez y Alejandro Parise por brindarme su ayuda y apoyo en la inscripción a la

beca. Agradezco mucho a Julio C. Cezar, mi director durante estos dos meses,

quien es una persona excelente que me ayudó y enseñó muchísimas cosas, le

estoy muy agradecida por absolutamente todo.

Agradezco a todos aquellos que me brindaron su ayuda durante la

realización de la beca: Al Laboratorio de microfabricación del LNNano, en

especial a Angelo Gobbi y a Maria Helena de Oliveira Piazzetta, a Pedro Schio

por su ayuda en la preparación de las muestras, compañía y colaboración en las

mediciones de XMCD, a todo el equipo de la línea PGM, en especial a Dayane

de Souza Chaves y a Gustavo Rodrigues Lorencini quienes también fueron una

compañía excelente, con quienes me divertí mucho y estuvieron todo el tiempo

conmigo en las mediciones de XMCD.

Le estoy muy agradecida a Tatiane Madruga Morais y a Roberto Pereira

Medeiros por cuidarnos, y hacer que todo salga bien en estos dos meses.

Agradezco también a todos los que compartieron su tiempo conmigo y con

los que compartí momentos muy lindos durante mi estadía en Campinas: A

Jackson, Victoria, Cristiane y Vanessa, y a los becarios: Dulce, Fiona, Izabel,

Magaly, Paola, Patricio, Samuel y Thiago.

¡Muchas Gracias a todos!

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3

Resumen

La espectroscopia de Dicroísmo Circular Magnético de Rayos X (XMCD,

X Ray Magnetic Circular Dichroism) es una técnica fundamental a la hora de

estudiar materiales magnéticos ya que ofrece al investigador la posibilidad de

estudiar el magnetismo de un material a nivel atómico, ofrece una alta

especificidad química, inclusive es específica para cada capa electrónica y

fundamentalmente permite determinar de manera aislada los momentos

magnéticos de spin y orbitales de los componentes del material en estudio,

resultado que no podría obtenerse fácilmente por otro método. En adición a las

características mencionadas, cabe resaltar también que esta espectroscopia

permite obtener información tanto de la superficie de un material como de su

interior, es decir, estudiar las propiedades relacionadas al volumen del mismo.

Para su empleo en la caracterización de dichos materiales es necesario

disponer, entre otros requisitos, de una fuente de rayos X circularmente

polarizados. En la práctica, esto puede obtenerse únicamente mediante una fuente

de luz sincrotrón. La radiación que es emitida por ésta abarca un amplio rango de

energías de fotones, desde las microondas hasta los rayos X duros o inclusive

rayos gamma, por lo que provee radiación electromagnética en regiones

espectrales como UV- Rayos X blandos, con energías que van desde unos pocos

hasta 103 eV, y que poseen una gran importancia ya que permiten el estudio de

la estructura atómica de sólidos, moléculas e importantes estructuras biológicas.

Más aún, la intensidad de la radiación sincrotrón es lo suficientemente alta como

para superar a cualquier otra fuente y permite trabajar con distintas

polarizaciones, característica ampliamente utilizada por muchas técnicas para

explorar la simetría del sistema bajo investigación.

En consecuencia, surge la necesidad de caracterizar la radiación producida

por la fuente de luz sincrotrón del laboratorio en el cual se llevarán a cabo en el

futuro estudios mediante XMCD, el Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón

(LNLS) ubicado en Campinas, Brasil. En este sentido, el objetivo del trabajo es

determinar el grado de polarización circular de la radiación emitida por el

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4

ondulador de la línea U11-PGM del LNLS en el rango de energías de 500 a 1000

eV para lo cual se emplearán muestras de Fe, Co y Ni que han sido ampliamente

estudiadas. Finalmente, mediante la comparación de los momentos magnéticos

calculados utilizando dicha línea con los valores encontrados en bibliografía,

obtuvimos el grado de polarización circular que caracteriza esta radiación.

Keywords: XMCD, Ondulador, Luz Sincrotrón, Grado de polarización

circular.

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5

Resumo

A espectroscopia de Dicroísmo Circular Magnético de Raios X (XMCD,

X Ray Magnetic Circular Dichroism) é uma técnica fundamental para o estudo

dos materiais magnéticos já que permite ao pesquisador estudar o magnetismo de

um material a nível atômico, e é um método altamente específico para cada

elemento e orbital atômico. Fundamentalmente, permite obter de maneira isolada

os momentos magnéticos de spin e orbital dos componentes do material em

estudo, resultado que não poderia obter-se facilmente por outro método.

Ademais, esta espectroscopia permite obter informação tanto da superfície de um

material como de seu interior.

Para utilizar esta técnica na caracterização dos materiais mencionados é

necessário ter uma fonte de raios X circularmente polarizados. Na prática, isto

pode se obter unicamente mediante uma fonte de luz síncrotron. Estas fontes

emitem fótons com um amplo intervalo de energia, desde microondas até os raios

X duros ou inclusive raios γ, fornecendo desta maneira energias desde uns

poucos até 103 eV, que permitem o estudo da estrutura atômica dos sólidos,

moléculas e estruturas biológicas. Mas ainda, a intensidade da radiação

síncrotron é suficientemente alta para superar a qualquer outra fonte e permite

trabalhar com distintas polarizações, característica amplamente utilizada por

muitas técnicas para explorar a simetria do sistema em pesquisa.

Em consequência, surge a necessidade de caracterizar a radiação

produzida pela fonte de luz síncrotron do Laboratório Nacional de Luz

Síncrotron (LNLS) em Campinas, Brasil. O Objeto deste trabalho é determinar o

grau de polarização circular da radiação produzida pelo ondulador da linha U11-

PGM do LNLS no intervalo da energia de 700 até 900 eV para o que se usaram

amostras padrões de Fe, Co e Ni que já foram amplamente estudadas. Logo,

mediante a comparação dos momentos magnéticos calculados com os valores da

literatura, obtivemos o grau da polarização circular que caracteriza esta radiação.

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6

Índice de Figuras

Figura 1.1 Trayectoria que describen los electrones en el anillo de

almacenamiento del sincrotrón del LNLS........................................................ 9

Figura 1.2 Esquema representativo de una fuente de luz sincrotrón típica..... 10

Figura 1.3 Distribución espectral de la radiación emitida por una fuente de

radiación sincrotrón típica................................................................................ 11

Figura 1.4 Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón........................................ 12

Figura 1.5 Diferencia fundamental entre un wiggler y un ondulador.............. 12

Figura 1.6 Movimiento del electrón a través del dispositivo de inserción...... 13

Figura 1.7 Ondulador elíptico APPLE II......................................................... 15

Figura 1.8 Espectro obtenido de la radiación producida por la línea PGM

del LNLS.......................................................................................................... 16

Figura 1.9 Principios básicos de XMCD……………...…………………….. 18

Figura 2.1 Métodos de cuantificación de la radiación absorbida……………. 21

Figura 2.2 Diseño Experimental…...………………………………………... 24

Figura 2.3 Espectros de XAS (espectroscopia de absorción de rayos X) y

XMCD para el borde L2, 3 de Hierro…………………………………………. 25

Figura 2.4 Función aproximada de la parte no resonante del espectro……… 27

Figura 2.5 Esquema representativo de un plasma…………………………... 27

Figura 2.6 Esquema representativo del proceso de sputtering……………… 28

Figura 3.1 Portamuestras con muestras y cristal YAG……………………… 30

Figura 3.2 Señal de transmisión normalizada vs Energía…………………… 44

Figura AI Líneas del LNLS……………………………………………………………… 50

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7

Índice de Tablas

Tabla 1.1 Parámetros del Ondulador de la línea U11-PGM del LNLS............ 15

Tabla 3.1 Parámetros empleados en el proceso de crecimiento de las

muestras por sputtering..................................................................................... 29

Tabla 3.2 Resultados de XMCD para los bordes L2,3 de Fe por transmisión y

rendimiento total de electrones para el 3° y 5° armónico................................. 36

Tabla 3.3 Resultados obtenidos a partir del análisis de los espectros de

XMCD para el Fe, Co y Ni utilizando el 5°armónico...................................... 41

Tabla 3.4 Comparación de los resultados obtenidos por el método de

transmisión con los de bibliografía y determinación del grado de

polarización circular de la radiación emitida en la línea U11-PGM del

LNLS para el 5° armónico en los bordes L2,3 de Fe, Co y Ni.......................... 41

Tabla 3.5 Comparación de los resultados obtenidos por el método de

rendimiento de electrones con los de bibliografía y determinación del grado

de polarización circular de la radiación emitida en la línea U11-PGM del

LNLS para el 5° armónico en los bordes L2,3 de Fe, Co y Ni.......................... 42

Tabla 3.6 Comparación de los resultados obtenidos por el método de

transmisión con los de bibliografía y determinación del grado de

polarización circular de la radiación emitida en la línea U11-PGM del

LNLS para el 3° y 5° armónico en el borde L2,3 de Fe..................................... 43

Tabla 3.7 Comparación de los resultados obtenidos por el método de

rendimiento de electrones con los de bibliografía y determinación del grado

de polarización circular de la radiación emitida en la línea U11-PGM del

LNLS para el 3° y 5° armónico en el borde L2,3 de Fe..................................... 43

Tabla 3.8 Resultados de % de polarización circular de la radiación emitida

en la línea U11-PGM del LNLS por dos métodos: transmisión y

rendimiento total de electrones en los bordes L2,3 de Fe, Co y Ni utilizando

el 3° y 5° armónico...........................................................................................

45

Tabla AI Técnicas experimentales empleadas en cada línea del LNLS……... 49

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8

Índice

Agradecimientos……………………………………………………………… 2

Resumen……………………………………………………………………… 3

Resumo………………………………………………………………………. 5

Índice de Figuras……………………………………………………………... 6

Índice de Tablas……………………………………………………………… 7

Capítulo 1: Introducción

1.1 Radiación sincrotrón………………………………………………. 9

1.1.1 Dispositivos de inserción y El ondulador de La línea

U11-PGM……………………………………………………… 12

1.2 Dicroísmo Circular Magnético de Rayos X (XMCD)…………….. 17

Capítulo 2: Consideraciones Experimentales

2.1 Sobre XMCD…………………………………………………..…. 19

2.1.1 Fuente de fotones circularmente polarizados……………. 19

2.1.2 Inversión de La polarización de la radiación o de la

magnetización de la muestra…………………………………... 19

2.1.3 Métodos de medición de la absorción de los fotones……. 20

2.2 Sobre el diseño experimental…………………………………….. 23

2.3 Sobre el diseño experimental y reglas de suma………………….. 24

2.4 Sobre la preparación de las muestras: Deposición por sputtering... 27

Capítulo 3: Trabajo Experimental

3.1 Preparación de las muestras………………………………………. 29

3.2 Medición del XMCD……………………………………………… 29

3.3 Resultados………………………………………………………… 31

3.3.1 Resultados obtenidos en función del armónico….………. 31

3.3.2 Resultados obtenidos en función de la energía…………... 36

3.4 Determinación del grado de polarización circular………………... 41

3.5 Conclusiones……………………………………………………… 45

Bibliografía………………………………………………………………….. 46

Anexo I: Líneas del LNLS…………………………………………………… 48

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Capítulo 1: Introducción

1.1 Radiación Sincrotrón

Este proyecto tiene la finalidad de caracterizar la radiación producida por

el ondulador de la línea U11-PGM del Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón

(LNLS) ubicado en Campinas, Brasil, para luego poder llevar a cabo mediciones

utilizando la radiación circularmente polarizada en la espectroscopia de

dicroísmo circular magnético de rayos X (XMCD).

La radiación sincrotrón es producida por una carga, en este caso

electrones, moviéndose en una trayectoria aproximadamente circular (Figura

1.1) a velocidad constante y cercana a la de la luz, bajo condiciones de ultra alto

vacío (~10-10

torr).

Figura 1.1 La trayectoria que describen los electrones está compuesta

de zonas lineales y curvadas alternadas. Para el caso particular del LNLS

el recorrido tiene la forma de un dodecágono.

Los electrones siguen una trayectoria lineal hasta que la misma es

desviada por un campo magnético. La carga en movimiento experimenta una

fuerza que lo acelera hacia el centro del radio de curvatura produciendo radiación

electromagnética que es emitida a lo largo de la tangente al punto de desviación.

Sin embargo, esta radiación, al menos en el plano del anillo, no es circularmente

polarizada, ya que por encima o por debajo del mismo la radiación tiene

polarización elíptica. Existen dispositivos llamados “dispositivos de inserción”

que consisten en arreglos periódicos de imanes que modifican la trayectoria de

los electrones en las zonas rectas del anillo de almacenamiento. En el LNLS

contamos con un ondulador que es un tipo de dispositivo de inserción y es el

responsable de que la radiación producida tenga polarización circular.

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10

Figura 1.2. Esquema representativo

de una fuente de Luz Sincrotrón

típica1. (1) Generador de electrones;

(2) acelerador lineal de los electrones;

(3) acelerador circular de electrones o

booster; (4) Anillo de

almacenamiento; (5) Líneas de luz;

(6) Cámara experimental

El funcionamiento del sincrotrón del LNLS puede describirse

sencillamente de la siguiente manera: Los electrones se desprenden de un metal

sometido a una alta tensión, luego son acelerados en una trayectoria rectilínea

alcanzando una energía de 80 KeV. A continuación pasan a un anillo de

aceleración también conocido como booster. En él, la energía de los electrones

aumenta a 500 MeV. Luego son inyectados dentro del anillo de almacenamiento

y continúan acelerándose hasta alcanzar una energía de 1.37 GeV y una corriente

máxima de 250 mA. Dentro del anillo de almacenamiento encontramos los

imanes de flexión que cumplen básicamente dos funciones: cambiar la

trayectoria de los electrones y forzarlos a emitir ondas electromagnéticas cuya

distribución espectral cubre un amplio rango de energías de fotones (Figura 1.3).

Existe además dentro del anillo de almacenamiento una cavidad encargada de

restaurar a los electrones la energía que pierden a lo largo de una vuelta debido a

la emisión de radiación sincrotrón. Este dispositivo se llama cavidad de

radiofrecuencia.

1 http://www.synchrotron.org.au/index.php/synchrotron-science/how-is-synchrotron-light-created,

28/01/2013.

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

11

Figura 1.3: Distribución espectral de la radiación

emitida por una fuente de radiación sincrotrón

típica2. La energía de los fotones se encuentra en el

rango de radiación IR y rayos X duros.

Además de los dispositivos previamente mencionados, el anillo de

almacenamiento contiene lentes magnéticas, también llamadas cuadrupolos cuya

función es la de focalizar y dar estabilidad al movimiento del haz de electrones

(en el anillo de almacenamiento del LNLS hay 36 cuadrupolos); computadoras

para control del equipamiento y dispositivos de inserción que, como mencioné

anteriormente, consisten en arreglos de imanes que causan oscilaciones en las

trayectorias de los electrones que de otro modo serían rectas. Dependiendo de la

magnitud de estas ondulaciones inducidas, los dispositivos se llaman wigglers u

onduladores y se encuentran ubicados en las zonas rectas del anillo de

almacenamiento. Sus características serán dadas en la próxima sección.

La radiación sincrotrón producida es dirigida dentro de las “Líneas de

Luz” donde se lleva a cabo la selección de la energía de los fotones. Las mismas

contienen un monocromador, espejos, sistemas de vacío, filtros, deflectores,

colimadores, bloqueadores del haz y computadoras de control, entre otros. Al

final de la línea hay una cámara experimental donde se llevan a cabo las

mediciones. Cada línea está designada para experimentos específicos (Ver Anexo

I).

Finalmente, como protección contra la radiación producida por el

acelerador de electrones, el mismo se encuentra cubierto de concreto y para

controlar eventuales exposiciones, los investigadores y demás trabajadores deben

utilizar un dosímetro o medidor de radiación personal.

2 Giorgio Margaritondo, Introduction to Synchrotron Radiation, Oxford University Press, 1998.

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12

Figura 1.4. Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón. Campinas, Sao Paulo, Brasil.

1.1.1 Dispositivos de inserción y el ondulador de la línea U11-PGM

Existen dos tipos de dispositivos de inserción que consisten de al menos

dos bloques de una serie de arreglos periódicos de imanes cada uno, de manera

tal que cuando el electrón pasa a través de los mismos se produce una desviación

de su trayectoria rectilínea dando como resultado un movimiento oscilatorio. De

acuerdo a la amplitud de este movimiento, el dispositivo puede denominarse

Wiggler u Ondulador.

Figura 1.5: Diferencia fundamental

entre un wiggler (a) y un ondulador

(b)3. En un wiggler la radiación emitida

no interfiere entre sí sino que se suma

dando como resultado en espectro de

mayor intensidad al obtenido con un

imán de flexión y en el caso de un

ondulador la radiación interfiere dando un espectro que presenta bandas de mayor intensidad a

las longitudes de onda donde la interferencia es constructiva.

3 Philip Willmott, An Introduction to Synchrotron Radiation: Techniques and applications, Wiley, 2011.

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13

Para diferenciar estos dispositivos de inserción es necesario definir en un

comienzo dos parámetros, ellos son la desviación angular del electrón de su

trayectoria recta, α, y el parámetro de energía relativista que es igual a

√ ( ⁄ ) donde es la velocidad de los electrones y representa la

divergencia o ángulo de apertura natural de la radiación sincrotrón emitida por

los electrones en el plano perpendicular al anillo, (Figura 1.6).

En un Wiggler, es mucho mayor que y la radiación producida en

cada desviación del electrón no se superpone, sino que sus intensidades se suman

dando como resultado un espectro similar al de un imán de flexión pero

multiplicado por 2N, ya que se producen dos conos de radiación por período,

donde N es el número total de períodos del wiggler.

En el caso de los onduladores, las desviaciones angulares son del orden de

y en consecuencia los conos de radiación emitidos por los electrones se

superponen e interfieren unos con otros dando un espectro resultante que consiste

en una serie de bandas delgadas separadas periódicamente a esas longitudes de

onda donde la interferencia es constructiva, es decir, la radiación emitida es

concentrada a frecuencias cercanas a la frecuencia fundamental y sus armónicos

superiores.

Figura 1.6: Movimiento del electrón

a través del dispositivo de inserción4.

representa el ángulo de desviación

máxima de la trayectoria del electrón y

el ángulo de abertura natural o

divergencia de la radiación emitida.

Cuándo el dispositivo de inserción es un ondulador y cuando es un

wiggler.

El mejor parámetro para determinar si el dispositivo de inserción actúa

como wiggler o como ondulador es el llamado parámetro adimensional K.

4 Giorgio Margaritondo, Introduction to Synchrotron Radiation, Oxford University Press, 1998.

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14

( ) ( )

Donde es la amplitud del campo magnético oscilante y es el período

del arreglo de imanes. El valor de K se corresponde además con , donde

es la desviación angular máxima de las oscilaciones del electrón a lo largo del

dispositivo de inserción y donde ya ha sido definido.

Generalmente, cuando se trata de un wiggler K toma valores entre 10 y 20,

mientras que para un ondulador los valores son cercanos a la unidad.

Para un ondulador con un gran número de períodos los efectos de

interferencia en la radiación emitida dan un espectro con picos casi

monocromáticos dados por:

[

]

Donde n es el número de armónico y los demás parámetros ya han sido

presentados.

En la línea U11-PGM del LNLS se encuentra el ondulador elíptico

APPLE II (Figura 1.7), el mismo consiste en cuatro bloques compuesto cada uno

de ellos por arreglos de imanes.

De acuerdo a como estén acomodados espacialmente los mismos el

ondulador permite obtener radiación de distinta energía y con distinta

polarización. El parámetro que determina la energía de la radiación es el gap

(distancia entre los dos bloques superiores e inferiores). Cuanto mayor es éste,

mayor es la energía de los fotones.

La polarización circular se obtiene al desplazar uno de los bloques

superior e inferior dejando fijos los restantes (Figura 1.7), es decir, variando la

fase.

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

15

Figura 1.7. Ondulador elíptico

APPLE II5. Produce radiación

circularmente polarizada. La distancia

entre los dos bloques superior e inferior

se denomina gap. El desplazamiento

longitudinal de un bloque, superior o

inferior, con respecto a otro fijo se

denomina fase. La distancia entre

imanes que se repiten es el período y el

número de repeticiones es la cantidad

de veces que se repite un período.

Los parámetros del ondulador APPLE II son indicados en la Tabla 1.1. El

período de un ondulador, la distancia entre dos imanes idénticos dentro del

arreglo, determina en cierto grado la energía de la radiación producida. Cuanto

más pequeño su valor, menor es la energía que puede obtenerse. El número de

repeticiones es el número de veces que se repite un período, cuantas más

repeticiones, mayor es la intensidad. Sin embargo, estos parámetros están

limitados ya sea por la dificultad de fabricación del arreglo de imanes o por el

espacio disponible entre imanes de flexión (zonas rectas dentro del anillo de

almacenamiento).

Gap Mínimo: 22 mm

Máximo: 300 mm

Fase 0 – 25 mm.

Período 50 mm

N° de repeticiones 54

Longitud Total 2.7 m

Rango de Energía de los fotones

Lineal Horizontal: 103 – 1500 eV

Lineal Vertical: 127 – 1500 eV

Circular: 192 – 1500 eV

5 http://www.elettra.trieste.it/lightsources/fermi/fermi-machine/felundulator.html

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16

Campo magnético máximo

Lineal Horizontal: 0.3 T

Lineal Vertical: 0.5 T

Circular: 0.27 T

Valores de K máximos

Lineal Horizontal: 1.4

Lineal Vertical: 2.3

Circular: 1.3

Tabla 1.1: Parámetros del Ondulador elíptico APPLE II de la línea U11-PGM del LNLS6.

A continuación se muestra un espectro obtenido con el ondulador del la

línea U11-PGM del LNLS para un gap de 22 mm y polarización circular.

Figura 1.8. Espectro obtenido de

la radiación producida por la línea

PGM del LNLS midiendo la

corriente que circula hacia una rejilla

de Au (Rendimiento total de

electrones), utilizando un gap de 22

mm y polarización circular. En el

gráfico se indica el número de

armónico correspondiente a cada

pico.

La radiación correspondiente al 1° armónico posee un grado de

polarización circular del 100 % pero el rango de energías en el cual pretendemos

trabajar (donde se producen transiciones electrónicas desde estados p a d para Fe,

Co y Ni) implica utilizar los armónicos superiores de manera que el grado de

polarización circular ya no es conocido.

6 Cezar, J. C., et al, "The U11-PGM beam line at the LNLS", to appear in the proceedings of the SRI 2012

conference.

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17

1.2 Dicroísmo Circular Magnético de Rayos X (XMCD)

El dicroísmo circular magnético de rayos X (XMCD, por sus iniciales en

inglés, X-ray Magnetic Circular Dichroism) es la diferencia en la absorción de

rayos X por una muestra magnetizada cuando se usa radiación circularmente

polarizada a izquierda y a derecha. En el estudio de metales 3d, los rayos X

circularmente polarizados son utilizados para producir la excitación de electrones

de niveles 2p a niveles 3d. Debido al acoplamiento spin-órbita en la capa 2p el

borde de absorción L está dividido en dos. El momento angular total esta dado

por |l + s| y por lo tanto, para l=1 y s =±1/2, tenemos los orbitales 2p1/2 y 2p3/2,

denominados bordes L2 y L3 respectivamente.

Si existe un momento de spin u orbital neto en la banda de valencia, la

absorción de rayos X circularmente polarizados en una dirección diferirá de la

absorción de los mismos con polarización circular contraria. Esto se debe a que

los fotones circularmente polarizados transfieren su momento angular a los

fotoelectrones excitados produciendo en cada caso fotoelectrones con spin de

signo contrario. La integración de las áreas de la diferencia entre ambos espectros

de absorción, conocido como espectro de dicroísmo, puede ser directamente

correlacionada con los momentos magnéticos de spin y orbital permitiendo a esta

técnica la obtención de información del magnetismo específico de un elemento

dado en la muestra y más aún, como las transiciones espectroscópicas de cada

elemento están asociadas con un rango específico de energía de los rayos X

incidentes, ésta espectroscopia permite obtener información específica de cada

capa electrónica.

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18

Figura 1.9: Principios básicos de XMCD7. a) Si existe un momento neto de spin u

orbital en la capa 3d de valencia, la absorción de rayos X circularmente polarizados a izquierda

y a derecha será diferente, dando lugar a dos espectros de absorción distintos, ilustrados en la

figura b), donde la curva dada con línea continua representa el espectro de absorción de rayos X

con luz circularmente polarizada a derecha y la dada con línea punteada representa el espectro

obtenido con luz circularmente polarizada a izquierda para el caso del Fe. La figura c)

representa el espectro de dicroísmo obtenido de la resta de los espectros dados en b). La

integración de las áreas bajo la curva proporcionan los valores A y B, a partir de los cuales,

mediante determinadas combinaciones descriptas posteriormente se determinan los momentos

magnéticos de spin y orbital.

7 Nakajima R., Tesis de doctorado: X-Ray Magnetic Circular Dichroism Spectroscopy in Transition Metal

Thin Films, Stanford University, 1998.

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19

Capítulo 2: Consideraciones Experimentales

2.1 Sobre XMCD

Los requisitos fundamentales para llevar a cabo esta espectroscopia son:

disponer de una fuente de fotones circularmente polarizados, de un método para

invertir la polarización del fotón o la magnetización de la muestra y de un

método para medir la absorción del fotón. Cada uno estos requisitos

fundamentales serán ampliados a continuación.

2.1.1 Fuente de fotones circularmente polarizados

La fuente de rayos X es el sincrotrón, su funcionamiento y características

fueron descriptos en la sección 1.1.

2.1.2 Inversión de la polarización de la radiación o de la

magnetización de la muestra

El espectro de dicroísmo es calculado a partir de al menos dos espectros

de absorción de rayos X, uno obtenido con polarización circular izquierda y otro

a derecha. Para minimizar variaciones sistemáticas experimentales, es

recomendable llevar a cabo la medición de varios espectros de absorción a fin de

promediarlos entre sí para el cálculo del espectro de dicroísmo.

Para la medición de los espectros de absorción es necesario poder invertir

la polarización del haz, lo que es equivalente a invertir la dirección de la

magnetización de la muestra, de modo que ésta sea paralela o anti paralela a la

dirección del haz incidente. Las dos situaciones (conmutación de polarización de

la luz o la magnetización de la muestra) son completamente equivalentes.

Si designamos por µ+ y µ- a la radiación con polarización circular a

izquierda y a derecha respectivamente y a H + y H - a la magnetización de la

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

20

muestra en paralelo o anti-paralelo a la dirección del haz de rayos x

respectivamente, normalmente se llevan a cabo las siguientes mediciones:

Donde los colores iguales representan espectros obtenidos de manera

equivalente.

En los materiales ferromagnéticos, como el Fe, Co y Ni, los momentos

magnéticos individuales de grandes grupos de átomos se mantienen alineados

entre sí, aún en ausencia de campos externos, debido a un fuerte acoplamiento.

Estos grupos se denominan dominios. Cuando un material ferromagnético

originalmente desmagnetizado se coloca en una región del espacio donde hay un

campo magnético, el material se magnetiza. Este proceso comienza con la

rotación de los dominios magnéticos más pequeños e inestables alineándose con

el campo, luego, si éste es lo suficientemente grande todos los dominios se

alinearán con él dando como resultado la saturación de la magnetización. Es en

esta condición en la cual se deben llevar a cabo las medidas de dicroísmo ya que

cuando el haz de rayos X y la magnetización de la muestra tienen la misma

dirección, la absorción de la radiación cambia con el tipo de polarización circular

permitiendo así que se produzca el fenómeno de dicroísmo.

2.1.3 Métodos de medición de absorción de los fotones

Dado que XMCD es esencialmente una medida de coeficientes de

absorción relativa, obtenida a partir de dos espectros de absorción de rayos X,

pueden utilizarse para medir la absorción de los fotones métodos como

transmisión, fluorescencia o rendimiento de electrones que son los comúnmente

utilizados para esta clase de mediciones, (Figura 2.1).

H+ µ+

H+ µ-

H+ µ-

H+ µ+

H- µ+

H- µ-

H- µ-

H- µ+

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21

Figura 2.1. Métodos de cuantificación de la radiación absorbida8. a) Método de

transmisión. Los rayos X circularmente polarizados inciden sobre la muestra de espesor t con

una intensidad I0 y un fotodiodo detrás de la misma registra la radiación que la atraviesa, It, que

es de menor intensidad debido a la absorción de energía por parte de los electrones del material.

b) Método de Fluorescencia, un fotodetector que se encuentra delante de la muestra registra la

radiación emitida como resultado de la relajación de los electrones excitados. c) Método de

Rendimiento de electrones (Electron Yield). Mide la corriente de electrones que circulan desde

la tierra hacia la muestra para compensar la pérdida de electrones Auger.

El método de transmisión es un método directo y seguro para cuantificar

la absorción de rayos X. La intensidad del haz antes de atravesar la muestra (I0)

se mide a menudo usando el rendimiento de electrones o fotocorriente de una

rejilla de metal parcialmente transmisora, en este caso de oro. La intensidad de la

radiación que se obtiene después de atravesar la muestra (I) se puede medir

usando una segunda cuadrícula o rejilla, una placa de metal sólido, o un

fotodiodo de Si, siendo este último el método utilizado.

El coeficiente de absorción lineal, µ, se relaciona con la intensidad

transmitida a través de un material de espesor t y puede ser obtenido de:

8 Nakajima R., Tesis de doctorado: X-Ray Magnetic Circular Dichroism Spectroscopy in Transition Metal

Thin Films, Stanford University, 1998.

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22

La determinación de µ está limitada por la intensidad transmitida, I. Si la

muestra es muy gruesa o el grado de absorción es muy alto la señal puede

desaparecer. Por ese motivo, el espesor de la muestra debe ser escogido lo

suficientemente pequeño siempre y cuando se permitan los efectos de saturación.

En cuanto a la preparación de las muestras, es necesario escoger sustratos que

absorban poco o nada los rayos X en el rango de energías que se va a trabajar.

Por lo general las películas depositadas tienen un espesor de entre 50 y 70 Å ya

que se trata de un método de detección muy sensible al volumen de la muestra.

El método de rendimiento de electrones utiliza un proceso secundario, la

emisión de electrones Auger (Figura 2.1, c). El proceso consiste en la absorción

de un fotón por un átomo en su estado fundamental, a continuación un electrón es

promovido a un estado energético superior. Luego éste se relaja a su estado de

menor energía liberando un fotón que es absorbido por otro electrón que había

sido excitado previamente dando como resultado la expulsión de éste del átomo,

generando así un hueco que es llenado por los electrones que circulan a través de

un amperímetro desde la tierra hacia la muestra. Por lo tanto, este método da una

medida de la velocidad de producción de electrones Auger. En este caso, la

relación de la corriente con el coeficiente de absorción lineal está dada por:

Donde I representa la corriente detectada en la muestra, I0 la corriente

registrada en la rejilla de oro, G es un factor de multiplicación empírico y la

profundidad de escape de los electrones. Cuando <<1 se puede establecer una

relación lineal entre

y µ.

El efecto de saturación en este caso es determinado por la magnitud de

. Los efectos de saturación causan que la señal de rendimiento de electrones

se desvíe del verdadero comportamiento de pero es despreciable cuando

, entonces, I es aproximadamente proporcional al coeficiente de

absorción .

Este método permite emplear muestras de cualquier espesor y una gran

variedad de sustratos ya que los fotoelectrones que dan la señal son emitidos de

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23

la superficie de la muestra. La sensibilidad está limitada por la profundidad de

escape de los electrones, , de la superficie. El valor para Fe, Co y Ni en los

bordes L2, 3 es de alrededor de 25-50 Å.

En ambos casos las muestras deben ser protegidas con una capa delgada

de un material que no reaccione con la muestra, no absorba rayos X y además es

necesario, para el caso del método de rendimiento de electrones que el material o

la capa protectora sean eléctricamente conductoras para que no se acumule carga

sobre la superficie y se pueda medir la corriente I. Por lo general se utiliza una

capa de Au, Pt o Al de unos pocos nanómetros. Sin embargo, si el espesor de la

muestra es grande, no sería necesaria la capa de Al para las medidas en

transmisión, pues la señal de las capas "oxidadas" serian despreciables

comparadas con la señal de las capas internas.

Ya que los electrones sólo se emiten desde aproximadamente los primeros

25-50 Å de la superficie de una muestra, estos enfoques son muy sensibles a la

oxidación o a otra reactividad de la superficie.

Todos los métodos de detección son empleados para los bordes de

absorción L2, 3 de Fe, Co y Ni, aunque el rendimiento de fluorescencia constituya

menos de 1 % de la señal secundaria (el resto de la señal es el rendimiento total

de electrones) y por eso es empleada en medidas donde las muestras constituyen

sistemas diluidos.

2.2 Sobre el diseño experimental

El diseño empleado para llevar a cabo las mediciones por rendimiento

total de electrones se muestra en la Figura 2.2. Consiste en una cámara bajo alto

vacío (~10-7

torr) que contiene una sección para colocar la muestra entre imanes

superconductores para producir su magnetización. La muestra está conectada a

un medidor de corriente que registra el valor de I. El haz de rayos X atraviesa

primero una rejilla de oro también conectada a un amperímetro que registra el

valor de Io.

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24

Figura 2.2. Diseño Experimental. Imagen representativa del dispositivo donde se coloca la

muestra y se llevan a cabo las medidas9. Los componentes principales son: un portamuestras, un

electroimán, una rejilla de oro y bombas de vacío mecánicas e iónicas.

Para medir la radiación transmitida se utiliza un dispositivo idéntico, solo

que se coloca un fotodiodo de Si en la parte posterior a las muestras. En este

trabajo las medidas de rendimiento de electrones y transmisión se hacen

simultáneamente.

2.3 Sobre el análisis de espectros y reglas de suma

Los momentos magnéticos de spin y orbital son cantidades fundamentales

para comprender las propiedades magnéticas macroscópicas de la materia. El

dicroísmo circular magnético de rayos X proporciona un método para obtenerlos,

su espectro se obtiene a partir de espectros de absorción de rayos X, como se

mencionó en la sección 2.1.2. Una vez obtenidos los mismos su resta produce la

señal de dicroísmo. Luego, se pueden aplicar reglas que asocian los valores de las

9 Nakajima R., Tesis de doctorado: X-Ray Magnetic Circular Dichroism Spectroscopy in Transition Metal

Thin Films, Stanford University, 1998.

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25

integrales de la señal de XMCD con los momentos magnéticos de spin y orbital,

conforme describiremos a continuación.

Figura 2.3. Espectros de

XAS (espectroscopia de

absorción de rayos X) y

XMCD para el borde L2, 3

de Hierro10

. a) Espectro

de Absorción de rayos X

del Fe, con radiación

circularmente polarizada a

izquierda, µ+, (línea

continua) y a derecha, µ-

(línea discontinua) b)

Espectro de dicroísmo

(línea continua). Se

obtiene como resultado de

la resta de los espectros de

absorción. Se muestra

además la integración del

espectro (línea

discontinua). Los valores p

y q representan el área bajo el pico correspondiente a L3 y a L2 + L3 respectivamente. c) Suma

de los espectros de absorción (línea continua). La curva escalonada (línea punteada), representa

la parte no resonante del espectro y debe ser restada antes de realizar la integración (línea

discontinua). El valor de r representa el área total bajo el espectro suma de los espectros

obtenidos por XAS. Los parámetros p, q y r son integrales necesarias para obtener, mediante las

reglas de suma, los valores de los momentos magnéticos de spin y orbital.

De acuerdo con las reglas de suma del dicroísmo circular de rayos X, los

momentos magnéticos de spin y orbitales pueden ser determinados por los

espectros XAS y XMCD mediante las siguientes ecuaciones:

10

Chen C.T. et.al, Experimental Confirmation of the X-Ray Magnetic Circular Dichroism Sum Rules for Iron and Cobalt, Physical Review Letters, 75, (1995), 152.

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26

∫ ( )

∫ ( )

( )

∫ ( )

∫ ( )

∫ ( )

( ) (

)

Donde y son los momentos magnéticos orbital y de spin

respectivamente en unidades de ⁄ , es número de ocupación de

electrones 3d para un átomo de metal de transición específico. es el

valor esperado del operador dipolo magnético y es igual a la mitad del

momento de en unidades atómicas de Hartree.

Se ha demostrado que el valor de <Tz> se promedia a cero en el tipo de

muestras “powder” y por lo tanto puede despreciarse su contribución al momento

magnético de spin. En nuestro caso se ha demostrado por cálculos teóricos que

es despreciable comparado con 11.Reemplazando las integrales

por los valores de p, q y r, los momentos magnéticos se pueden calcular como:

( )

( )( )

Donde los valores de se obtienen de la literatura.

Los espectros de absorción de rayos X en los bordes L2, 3 de metales de

transición presentan un fondo debido a la absorción de radiación que no se

corresponde con estos bordes y debe ser eliminado a fin de cuantificar la

absorción neta de los mismos. Para ello se construye una función escalonada de

acuerdo con la degeneración cuántica 2j+1. Los límites para la función de dos 11

Ruqian Wu and A. J. Freeman, Limitation of the Magnetic-Circular-Dichroism Spin Sum Rule for Transition Metals and Importance of the Magnetic Dipole Term, Physical Review Letters, Vol 73, 1994, 1994.

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27

etapas se establecen en la posición del pico correspondiente a L3 y a L2 y la altura

en cada caso es de 2/3 y 1/3 del valor resultante de la diferencia entre la

intensidad al final y al comienzo del espectro.

Figura 2.4. Función aproximada de la parte no resonante del espectro.

2.4 Sobre la preparación de las muestras: Deposición por sputtering

La técnica de sputtering, también llamada de pulverización catódica

consiste básicamente en la deposición de átomos de un material, en este caso

metálico, en forma de una película delgada sobre un sustrato. El dispositivo se

compone de dos electrodos dentro de una cámara de vacío (donde el vacío es del

orden de 10-8

mtorr) en la cual se agrega un gas inerte, argón, con una presión

típica de 10-2

torr, los electrodos son conectados a una diferencia de tensión de

corriente continua del orden de miles de voltios, provocando que el gas argón se

ionice parcialmente formando lo que se conoce como plasma. Un plasma puede

considerarse como un medio eléctricamente neutro constituido de iones positivos

y electrones en un mar de átomos, como se ve representado en la figura X.

Figura 2.5. Esquema representativo

de un plasma12.

12

Soethe Viviane L., Tesis de Maestrado: Desposição de filmes metálicos sobre a poli(Tereflalato de etileno) via Triodo-Magnetron- Sputtering: influência da corrente e das voltagem nas propriedades do filmes, Universidade do Estado de Santa Catarina, 2004.

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28

De esta manera, como se representa en la Figura 2.6, los iones argonio

generados son acelerados hacia el electrodo negativo (cátodo) donde se encuentra

el blanco u objetivo que consiste en un disco del material del cual se pretende

hacer la deposición, por ejemplo, hierro. Cuando los iones argonio impactan con

él transfieren su momento y arrancan átomos de su superficie que son

dispersados en todas direcciones. Algunos de estos átomos luego llegan hacia el

sustrato, en este caso de nitruro de silicio, ubicado sobre el electrodo positivo u

ánodo y se condensan en él formando una película delgada. Esta técnica se aplica

casi a cualquier material, tanto metálicos como no metálicos, aleaciones,

cerámicos y polímeros. Las únicas desventajas que pueden mencionarse son que

en ocasiones, pueden encontrarse restos del gas de bombardeo en las películas de

recubrimiento y que cuando el objetivo no es un elemento puro puede producirse

un cambio en la estequiometria del depósito final.

Figura 2.6. Esquema representativo del proceso de sputtering. Los iones argonio generados

en la cámara son acelerados hacia el cátodo y los átomos desprendidos en la colisión se

depositan luego sobre un sustrato colocado en el ánodo.

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29

Capítulo 3: Trabajo Experimental

3.1 Preparación de las muestras

Mediante la deposición por sputtering se prepararon tres muestras, cada

una de un metal diferente: Fe, Co o Ni, depositados sobre un sustrato de Si de

5x5 mm2 con una ventana interior de 1.5x1.5 mm

2 de Si3N4, en el laboratorio de

microfabricación del LNNano.

A continuación se muestra un esquema representativo de las muestras:

Los parámetros utilizados para el crecimiento de las muestras se resumen

en la siguiente tabla:

Fe Co Ni

Presión de Ar (mtorr) 3 3 3

Potencia (W) 100 100 100

Espesor (nm) 8 8 8

Temperatura (°C) 28 28 28

Tiempo de deposición 3’ 05’’ 2’20’’ 2’27’’

Tabla 3.1. Parámetros empleados en el proceso de crecimiento de las muestras por sputtering.

Cada muestra posee una capa protectora de 4 nm de aluminio (Depositado

en las mismas condiciones que las mostradas en la tabla).

3.2 Medición de XMCD

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30

Las mediciones de XMCD en las muestras patrón descriptas en la sección

anterior se llevaron a cabo en la línea U11-PGM del LNLS bajo las siguientes

condiciones:

1. Temperatura: ambiente.

2. Muestras: las mismas fueron colocadas como se muestra en la figura

siguiente sobre un portamuestras de aluminio con agujeros que permiten la

realización de las medidas de transmisión. Las muestras fueron fijadas al

mismo con cinta de carbón de doble cara de manera de permitir el

contacto eléctrico entre las partes. En el extremo del portamuestras se

coloca un cristal de YAG (Yttrium Aluminum Garnet) para permitir

enfocar el haz correctamente.

Figura 3.1. Portamuestras con muestras y cristal

YAG.

3. Campo magnético: 3.5 T. De esta forma nos aseguramos la saturación de

las muestras. Para determinar este valor realizamos medidas de XMCD

utilizando una serie de campos aplicados de manera creciente y

observando la magnitud del dicroísmo para cada caso. Luego, se llevó a

cabo una curva donde se observa que a 3.5 T la muestra se encuentra

completamente magnetizada. A continuación se presentan estos

resultados.

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31

4. Metodología de las mediciones: Cada medida experimental se llevó a

cabo por dos métodos que serán comparados en este trabajo. Ellos son

Transmisión y Rendimiento total de electrones. A fin de minimizar los

errores sistemáticos experimentales realizamos mediciones utilizando

campos magnéticos de ± 3.5 T y midiendo en cada caso los espectros de

XMCD invirtiendo la polarización de haz. Con los datos obtenidos se

promediaron las curvas de absorción y a continuación se obtuvieron los

espectros de XMCD.

Las mediciones realizadas fueron llevadas a cabo acoplando la energía del

haz con el ondulador, de manera tal que para cada energía, se muda el gap

del mismo para ajustarse a ese nuevo valor. De esta manera se obtiene una

señal de I0 lineal con la energía.

Además de comparar los métodos de detección, para determinar el grado

de polarización circular de la radiación realizamos medidas en el borde

L2,3 de Fe en dos armónicos diferentes, 3° y 5°. Luego hicimos mediciones

para un mismo armónico, el 5°, midiendo de esta forma a distintas

energías, de acuerdo a los bordes L2,3 del Fe, Co y Ni.

3.3 Resultados

3.3.1 Resultados obtenidos en función del armónico

A continuación se muestran los resultados obtenidos para las mediciones

de XMCD del Fe en los bordes L2,3, por transmisión y rendimiento de electrones

para el 3° armónico (gap: 32mm) y 5° armónico (gap: 23 mm).

Se representan los coeficientes de absorción con sentido de la polarización

circular del haz incidente y magnetización de la muestra en paralelo y

antiparalelo como µ↑↑

y µ↑↓

, respectivamente.

Resultados para el borde L2,3 del Fe en el 3° armónico:

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32

Transmisión:

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33

Rendimiento total de electrones:

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34

Resultados para el borde L2,3 del Fe en el 5° armónico:

Método de transmisión:

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35

Método de rendimiento total de electrones:

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36

En la tabla presentada a continuación se expresan los valores obtenidos

necesarios para aplicar las reglas de suma y los valores de los momentos

magnéticos hallados para el Fe:

Método de

detección Armónico p q r morb mspin

Transmisión 3° 0.2183 0.0163 2.2702 0,03 1,83

5° 0.2413 0.0284 2.6424 0,05 1.69

Rendimiento

de electrones

3° 0.5630 0.1567 8.5892 0,08 1,07

5° 0.6202 0.2524 7.2339 0,16 1,25

Tabla 3.2. Resultados obtenidos de las mediciones de XMCD para los bordes L2,3 de Fe por

transmisión y rendimiento total de electrones para el 3° y 5° armónico. El nh utilizado para el Fe

fue de 3.3413

.

3.3.2 Resultados en función de la energía

A continuación se muestran los resultados obtenidos para las mediciones

de XMCD de Co y Ni en los bordes L2,3, por transmisión y rendimiento de

electrones para el 5° armónico (gap: variando de 24 a 26 mm).

Resultados para el borde L2,3 de Co:

13

Ruqian Wu and A. J. Freeman, Limitation of the Magnetic-Circular-Dichroism Spin Sum Rule for Transition Metals and Importance of the Magnetic Dipole Term, Physical Review Letters, Vol 73, 1994, 1994.

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37

Método de transmisión:

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38

Método de rendimiento de electrones:

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39

Resultados para el borde L2,3 de Ni:

Método de transmisión:

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

40

Método de rendimiento de electrones:

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

41

A continuación se presenta una tabla con el fin de comparar los valores

obtenidos para el Fe, Co y Ni en el 5° armónico:

Método de

detección Muestra p q r morb mspin

Transmisión

Fe 0.2413 0.0284 2.6424 0,05 1.69

Co 0.3271 0.1424 2.2903 0,21 1,55

Ni 0.1106 0.0308 1.3224 0,05 0,68

Rendimiento

de

electrones

Fe 0.6202 0.2524 7.2339 0,16 1,25

Co 3.5322 1.3363 27.0654 0,17 1,49

Ni 1.2123 0.6694 17.8133 0,08 0,43

Tabla 3.3. Resultados obtenidos a partir del análisis de los espectros de XMCD para el Fe, Co

y Ni obtenidos por transmisión y rendimiento total de electrones utilizando el 5° armónico. Los

nh utilizados para Fe, Co y Ni fueron de 3.34, 2.55 y 1.66 respectivamente14

.

3.4 Determinación del grado de polarización circular

Mediante la comparación de los valores obtenidos de momentos

magnéticos de spin y orbital para Fe, Co y Ni con los datos reportados por

Ruqian Wu et. al, se determina a continuación el grado de polarización circular

de la radiación emitida por la línea PGM del LNLS.

Método de transmisión, 5° armónico:

Fe Co Ni

morb 0,05 0,21 0,05

mspin 1.69 1,55 0,68

mspin, teórico 2.1 1.52 0.62

morb, teórico 0.063 0.078 0.051

14

Ruqian Wu and A. J. Freeman, Limitation of the Magnetic-Circular-Dichroism Spin Sum Rule for Transition Metals and Importance of the Magnetic Dipole Term, Physical Review Letters, Vol 73, 1994, 1994.

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42

morb/ mspin 0.03 0.14 0.07

morb/ mspin (Teórico) 0.030 0.051 0.082

morb + mspin 1.74 1.76 0.73

morb + mspin, (Teórico) 2.163 1.598 0.671

% de polarización

circular 80.44% 110.14% 108.79%

Tabla 3.4. Comparación de los resultados obtenidos por el método de transmisión con los de

bibliografía y determinación del grado de polarización circular de la radiación emitida en la

línea U11-PGM del LNLS para el 5° armónico en los bordes L2,3 de Fe, Co y Ni.

Método de rendimiento total de electrones, 5° armónico:

Fe Co Ni

morb 0.16 0.17 0.08

mspin 1.25 1.49 0.43

mspin, teórico 2.1 1.52 0.62

morb, teórico 0.063 0.078 0.051

morb/ mspin 0.13 0.11 0.19

morb/ mspin (Teórico) 0.03 0.051 0.082

morb + mspin 1.41 1.66 0.51

morb + mspin, teórico 2.163 1.598 0.671

% de polarización

circular 65.19% 103.88% 76.01%

Tabla 3.5. Comparación de los resultados obtenidos por el método de rendimiento de

electrones con los de bibliografía y determinación del grado de polarización circular de la

radiación emitida en la línea U11-PGM del LNLS para el 5° armónico en los bordes L2,3 de Fe,

Co y Ni.

Comparación de resultados en función del armónico empleado en la

determinación:

Método de transmisión:

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43

Fe 3° Armónico Fe 5° Armónico

morb 0.03 0,05

mspin 1.83 1.69

mspin, teórico 2.1 2.1

morb, teórico 0.063 0.063

morb/ mspin 0.02 0.03

morb/ mspin (Teórico) 0.03 0.03

morb + mspin 1.86 1.74

morb + mspin, teórico 2.163 2.163

% de polarización

circular 85.99% 80.44%

Tabla 3.6. Comparación de los resultados obtenidos por el método de transmisión con los de

bibliografía y determinación del grado de polarización circular de la radiación emitida en la

línea U11-PGM del LNLS para el 3° y 5° armónico en el borde L2,3 de Fe.

Método de rendimiento de electrones:

Fe 3° Armónico Fe 5° Armónico

morb 0.08 0.16

mspin 1.07 1.25

mspin, teórico 2.1 2.1

morb, teórico 0.063 0.063

morb/ mspin 0.07 0.13

morb/ mspin (Teórico) 0.03 0.03

morb + mspin 1.15 1.41

morb + mspin, teórico 2.163 2.163

% de polarización

circular 53.17 % 65.19 %

Tabla 3.7. Comparación de los resultados obtenidos por el método de rendimiento de

electrones con los de bibliografía y determinación del grado de polarización circular de la

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

44

radiación emitida en la línea U11-PGM del LNLS para el 3° y 5° armónico en el borde L2,3 de

Fe.

Comparación de las señales de transmisión:

Figura 3.2. Señal de transmisión normalizada vs Energía.

Aunque el tercer armónico presente una tasa de polarización mayor

(85.99 %, en comparación con 80.44 %) se nota que la intensidad

normalizada es más constante para el 5 armónico, hecho relacionado con

el comportamiento del ondulador. Sin embargo, para situaciones donde la

señal de XMCD es pequeña, puede ser ventajoso utilizar el 5 armónico,

que en principio debe resultar en señales de fondo (background) más

reproducibles.

RELATÓRIO FINAL DE BOLSISTA – 22º PROGRAMA BOLSAS DE VERÃO DO CNPEM

45

3.5 Conclusiones

Finalmente los resultados obtenidos fueron:

Fe

(3º arm.)

Fe

(5º arm.)

Co

(5º arm.)

Ni

(5º arm.)

% de polarización

(Transmisión) 85.99 80.44 110.14 108.79

% de polarización

(Rend. de electrones) 53.17 65.19 103.88 76.01

Tabla 3.8. Resultados de % de polarización circular de la radiación emitida en la línea U11-

PGM del LNLS por dos métodos: transmisión y rendimiento total de electrones en los bordes

L2, 3 de Fe, Co y Ni utilizando el 3° y 5° armónico.

Como se observa en la tabla los resultados obtenidos para Co y Ni fueron

muy grandes siendo este hecho sorpresivo y aún no comprendido, creemos que

puede deberse al espesor de las muestras preparadas ya que podría ser que las

mismas se comporten como películas delgadas. Si fuera posible tener más tiempo

podrían llevarse a cabo nuevos experimentos para tratar de interpretar esos

valores. Sin embargo, las mediciones llevadas a cabo con Fe arrojaron un % de

polarización aceptable que coincide con el valor esperado.

Comparando los armónicos 3° y 5° se observa que la intensidad de la

corriente transmitida por el 3° armónico si bien es mayor a bajas energías decae

rápidamente mientras que para el 5° armónico ésta tiene una pendiente mucho

menor y esto puede ser utilizado especialmente para medidas más sensibles que

requieran de una constancia en el valor de .

En cuanto a los métodos de detección empleados se percibe que los

resultados obtenidos por rendimiento total de electrones son en todos los casos

menores a los obtenidos por transmisión. Esto indica que los datos obtenidos de

esta manera requieren de una corrección debido a los efectos de saturación del

rendimiento de electrones15

.

15

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Anexo I: Líneas del LNLS (Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón)

Línea de Luz Técnicas Experimentales

DXAS (dispersive X-ray absorption

spectroscopy)

X-ray absorption fine structure

X-ray absorption near edge

structure

X-ray reflectivity

Magnetic circular dichroism

High-pressure diamond anvil

cell

XAFS1 X-ray absorption fine structure

X-ray Absorption near edge

structure

X-ray reflectivity

Fluorescence spectroscopy

XAFS2

XRF

XRF Fluorescence Mapping

X-ray Transmission and

Fluorescence Tomography

Local 3D Information with

Confocal Arrangement

Total Reflection X-ray

Fluorescence (TXRF)

Grazing incidence XRF

Spectroscopy (GI-XRF and GI-

XANES)

Grazing emission XRF Analysis

(GE-XRF)

Total Electron Yield (TEY)

XPD (X-ray powder diffraction

beamline)

X-Ray diffraction

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XRD1

XRD2

SXS (Soft X-rays Spectroscopy) X-ray Absorption Spectroscopy

(XAS)

X-ray Photoelectron

Spectroscopy (XPS)

X-ray Magnetic Circular

Dichroism (XMCD)

Mass spectroscopy (TOF)

Magnetic reflectivity (XRMS)

PGM (Planar Grating

Monochromator)

SGM (Spherical Grating

Monochromator)

TGM (Toroidal Grating

Monochromator)

X-ray Absorption Spectroscopy

(XAS)

X-ray Photoelectron

Spectroscopy (XPS)

Mass spectroscopy (TOF and

PDMS)

MX1 macromolecular crystallography

MX2

Single and Multiple-wavelength

Anomalous Diffraction

(SAD/MAD) for a

macromolecular crystallography

SAXS1 Small Angle X-ray Scattering

Wide-Angle X-ray Scattering SAXS2

Tabla AI: Técnicas experimentales empleadas en cada línea del Sincrotrón del LNLS

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Figura AI. Líneas del LNLS