microscópio eletrônico de varredura mev

MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA (MEV)

Cristiane Lyznik

Contexto Histórico

• Em 1925, De Broglie estabeleceu conceitos sobre o dualismo onda-partícula, que foram importantes para o desenvolvimento da microscopia eletrônica a partir da década de 1930;

Contexto Histórico

• A televisão e o radar também são dois eventos que ocorreram na década de 30 e foram de grande influência para o desenvolvimento da microscopia eletrônica no século XX;

Contexto Histórico• Em 1938, Von Ardenne, físico alemão, construiu um

microscópio eletrônico de varredura e transmissão;• O primeiro microscópio eletrônico de varredura para

observação de amostras espessas foi construído em 1942 nos laboratórios da RCA em Princeton, Nova Jersey, por Zworykin e colaboradores;

• Com o passar do tempo, os microscópios eletrônicos de varredura passaram por várias mudanças, hoje em dia são equipados com estrutura digital, que permite o armazenamento temporário da imagem para observação

Microscópio Eletrônico de Varredura

• Definição:• Este microscópio é um instrumento óptico

capaz de produzir imagens de alta ampliação, podendo chegar até a 300.000x e de altíssima resolução também. As imagens fornecidas são de caráter virtual, pois o que é visualizado no monitor do aparelho é a transcodificação da energia emitida pelos elétrons.

Princípio de Funcionamento

• O princípio de um microscópio eletrônico de varredura (MEV) consiste em utilizar um feixe de elétrons de pequeno diâmetro para explorar a superfície da amostra ponto a ponto, por linhas sucessivas e transmitir o sinal do detector a uma tela catódica, cuja varredura está perfeitamente sincronizada com aquela do feixe incidente, através de um sistema de bobinas de deflexão, o feixe pode ser guiado de modo a varrer a superfície da amostra.

Componentes do MEV

• Coluna óptico-eletrônica com canhão de elétrons e sistema de redução do diâmetro do feixe eletrônico;

• Unidade de varredura;• Câmara de amostra;• Sistema de detectores;• Sistema de visualização da imagem;

Canhão de Elétrons

Lente Eletromagnética

Demagnificação do feixe de elétrons

Defeitos que podem ocorrer nas imagens:

• Astigmatismo;• Aberração Esférica;• Aberração Cromática;

Aberração Esférica

Aberração Cromática

Sistema de Varredura

• É a incidência do feixe estacionário defletido pelo par de bobinas eletromagnéticas situadas numa depressão dentro da objetiva, acima da abertura final sobre a amostra, que faz com que estes feixes se espalhem na direção x e y da mesma realizando assim a varredura;

Sistema de Varredura

Imagens

REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS• Nussenzveig, Herch Moysés, “Curso de Física Básica”, V. 4, 1ª edição, São

Paulo, 1997.• Nussenzveig, Herch Moysés, “Curso de Física Básica”, V. 3, 1ª edição, São

Paulo, 1997.• Padilha, Ângelo Fernando, “Técnicas de Análise Microestrutural”, editora

Hemus• Dedavid, Berenice Anina, “Microscopia eletrônica de varredura :

aplicações e preparação de amostras : materiais poliméricos, metálicos e semicondutores”, Porto Alegre : EDIPUCRS, 2007.

• http://www.youtube.com/watch?v=1pzRHT54-4g• http://zitosloko.blogspot.com/2009/03/microscopica-imagens-do-

interior-do.html• http://pion.sbfisica.org.br/pdc/index.php/por/Multimidia/Imagens/Fisica-

e-outras-areas-da-Ciencia-e-da-Tecnologia/Formiga• http://materiaisufpr.blogspot.com/2008/11/microscopia-eletrnica-de-

varredura.html