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Espectroscopia de Emissão Ópticaem Descarga Luminescente:

Uma Ferramenta Poderosapara a Análise de Materiais e Processos

WAI IV - 2004

Laboratório de Tratamento e Análise de SuperfíciesDivisão: EFO-LResponsável: Vladimir Henrique Baggio Scheid

Colaboradores

Antônio Jorge AbdallaAudrey Moreira (doutorado)Bruna Carolina Ferreira (doutorado)Getúlio de VasconcelosJaime Watanuki

Roteiro

•Princípio

•Instrumentação•Aplicações

•Introdução

•Indicadores & Parcerias

•Objetivos

Objetivos

•Utilizar a EEODL na P&D (análise e desenvolvimento de materiais e processos) e na formação de RH

•Disponibilizar a EEODL como instrumento para análise de superfícies para o CTA e outras instituições

GDOES é uma técnica quantitativa utilizada para análise de superfícies, que combina sputtering e emissão atômica.

GDOES – glow discharge optical emission spectroscopy

Análise de elementos químicos em materiais sólidos homogêneos

Análise de elementos químicos em recobrimentos

Obtenção de perfis de profundidade de elementos químicos

Características:

Praticamente qualquer material sólido, compatível com vácuo, pode ser analisado (inclusive materiais isolantes)

Requer pouco trabalho na preparação das amostras

Tempo de amostragem curto (~30 min)

Princípio

anodoJanela

amostra

O-ring

catodo

Mecanismos básicos

Cathode

Potential distribution

Forma da cratera

Centro Borda

Cratera em uma amostra de titânio

Instrumentação

GDOES – Montagem experimental

GDOES – Detalhe do dispositivo

Análise de composição química

Medida por GDOES da concentração de elementos em uma amostra de aço inoxidável certificada.

Elemento linha Certificado Medido SD

Perfil de profundidade

Qualitativo Quantitativo

Tempo (s) Profundidade (µm)

Sina

l (u.

a.)

Con

cent

raçã

o (%

mas

sa)

Amostra de aço galvanizado

Análise de processos termoquímicos a plasma

•Identificar os elementos e moléculas presentes no plasma

•Identificar e quantificar as reações dominantes no plasma

•Identificar e quantificar os processos no substrato

•Correlacionar com os parâmetros de processo:

•O perfil e a rugosidade das amostras

•As propriedades físico-químicas das camadas de compostos e difusão

Indicadores (2003-2004)

Publicações:3 papers em revistas indexadas7 apresentações em congressos

Orientações:Um trabalho de Mestrado (em andamento)Dois trabalhos de Doutorado (em andamento)

Projetos em andamento:CT-infra 03 processo 00/13448-0

Parcerias:IEAv/LEVCTA / ITA, AMRINPECETEC – Belo HorizonteFEG-UNESPDEMAR-FAENQUILUniversity of California, Berkeley, USAUniversidade do Minho, Portugal