4.2 emissores coerentes de radiaÇÃo (lasers) · esta que é responsável pela emissão nas...
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4.22 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
4.2 EMISSORES COERENTES DE RADIAÇÃO (LASERs)
O acrónimo LASER significa amplificação de luz por emissão estimulada da radiação1.
Actualmente existem lasers com formas e dimensões muito variadas, feitos de diferentes
materiais e com impacte em áreas tão diversas como a Engenharia, a Biologia e a Medicina.
As aplicações, quer científicas quer tecnológicas, são inúmeras: intervenções cirúrgicas,
processamento industrial de materiais, detecção de poluentes atmosféricos, comunicações
ópticas, microscopia, medições precisas de grandezas físicas, monitorização de reacções
químicas, estudo de sistemas biológicos, etc. Daremos especial ênfase aos lasers de
semicondutor também designados nos casos de corrente injectada através de junções por
díodos laser ou lasers de injecção.
Nos sistemas de comunicação óptica os emissores de luz mais vulgarmente utilizados
são os lasers, graças à elevada coerência, aos elevados ritmos de modulação e às potências
associadas à radiação emitida. Um dos objectivos primordiais na comunicação óptica é a
rapidez da transmissão de informação. Esta está limitada pela dispersão do sinal. A dispersão
intermodal foi resolvida com a passagem de fibras multimodais a monomodais. A dispersão
cromática, associada à dependência do comprimento de onda do índice de refracção da fibra e
à largura espectral da fonte óptica, foi minimizada pela utilização de fibras com um dado
perfil do índice de refracção ou com fibras de dispersão desviada e com sinais ópticos na
vizinhança de 1,55 μm.
Com o advento das fibras ópticas na década de 80, os sistemas ópticos de comunicação
sofreram um enorme incremento, permitindo que os ritmos de transmissão passassem de 40
Mb/s em 1980 para cerca de 2 Gb/s na década seguinte. Na realidade a procura incessante de
sistemas de transmissão de informação com capacidades cada vez maiores (Fig. 4.18) tem
obrigado à utilização de dispositivos electrónicos cada vez mais sofisticados, quer a nível do
sistema emissor quer do sistema receptor. A importância de um sistema de comunicações é
normalmente avaliada pela sua capacidade, ou seja o produto do ritmo de transmissão
B (bit/s) pela distância L (km).
Valores elevados da capacidade de um sistema estão associados à utilização de fontes
coerentes de radiação (LASER, após a década de 60) e meios de transmissão adequados
(fibras ópticas). A Fig. 4.19 representa de forma esquemática as vantagens da escolha de uma
fonte de luz dita coerente, como é a de um LASER, face a um díodo emissor de luz (LED). 1 Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation, na designação anglo-saxónica.
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4.23 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig. 4.18 - Variação da capacidade ao longo dos últimos anos,
sendo referenciados os vários sistemas de comunicação associados.
- Fig. 4.19 - LASER versus LED
4.2.1 Conceitos gerais. Resenha histórica
Numa estrutura laser o conjunto de fenómenos desencadeados, que passaremos a
designar pelo termo genérico de fenómeno laser, só é possível quando se verifica a ocorrência
das três seguintes condições (Fig 4.20):
1
103
106
109
1900 1950 2000
BL (bit/s)km
Telégrafo
TelefoneCabos coaxiais
S. Microondas
S. Ópticos
o
o
oo
o
LED
LASE
R
Espectro largo ~KT
Resposta no tempo limitada pela emissão espontânea
Selectividade aumentada pela cavidade
Ritmos de recombinação mais rápidos por emissão estimulada
50 a 100 nm 5 a 10 THz
3 a 6 nm 300 a 600 GHz
LED
FP DFB
<0,001 nm <100 MHz
SLM laser
λ
~ ~ ~ ~
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4.24 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
A existência de uma fonte bombeadora2 capaz de fornecer a energia necessária para
promover a inversão da população3;
A presença de uma zona de material, designada por zona activa, capaz de promover
um ganho óptico que suplante as perdas sempre presentes;
A existência de um mecanismo de retroacção óptica que permite a amplificação da luz
gerada, por sucessivas retro-reflexões através da cavidade ressonante.
No caso mais simples de um laser convencional de injecção, a fonte bombeadora é a
corrente eléctrica, que injecta, através de contactos, os portadores na zona activa, constituída
por material semicondutor adequado, localizada numa cavidade de Fabry-Pérot (Capítulo 2,
secção 2.2). Considerações estatísticas simples mostram que a inversão da população em
junções exige que a polarização directa aplicada V verifique a condição
(4.2.1)
o que para uma onda de λ= 830 nm exige uma polarização directa superior a 1,5 V.
- Fig. 4.20 - Acção laser
A cavidade óptica está limitada longitudinalmente por duas faces com reflectividades
não nulas, que obrigam a uma passagem múltipla da radiação na cavidade antes de ser emitida
(Fig. 4.21).
2 Pumping, na designação anglo-saxónica 3 Condição caracterizada por, contrariamente à distribuição clássica, existir uma maior densidade de electrões
nos níveis de energia mais elevados
g
bombeamento
luz
fN f fN N+ Δ
luz
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4.25 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig. 4.21 –
Perfil ( ),U x y do modo guiado na cavidade ressonante de comprimento ,L constituída por uma secção activa ,aL uma secção passiva pL e uma região activa de espessura .d
As condições para que o modo na cavidade adquira a mesma intensidade ao fim de uma
volta completa estão expressas no capítulo 2, secção 2.2 pelas equações (2.2.5-2.2.7).
As correntes de injecção necessárias para que o ganho do material atinja valores que
permitam satisfazer as condições de oscilação são designadas por correntes de limiar. São
valores típicos nos lasers: cavidades ressonantes de 300 a 1000 μm de comprimento e
densidades de correntes de limiar à temperatura ambiente da ordem de 1kA/cm2. Até à
corrente de limiar, da ordem da dezena de mA para as dimensões usuais de lasers em
aplicações na comunicação óptica, a emissão é do tipo espontânea e de valor desprezável. É
esta que é responsável pela emissão nas estruturas típicas dos LEDs. Acima do limiar os
portadores injectados desaparecem por recombinação originando a emissão estimulada de
fotões, que é responsável por um aumento acentuado da emissão de luz, que é bastante
coerente.
A ideia básica do funcionamento dos lasers assenta assim na emissão estimulada de
fotões através da transição de portadores de carga entre estados electrónicos num
semicondutor, induzida pela presença de fotões similares. A ideia foi proposta em 1957 [1]
aos quais se seguiram alguns trabalhos considerados hoje em dia pioneiros nesta área [2-4].
Desde o aparecimento do primeiro laser de estado sólido em 1960, o laser de rubi, as
estruturas e os materiais para os emissores coerentes têm vindo a ser alterados em busca de
desempenhos cada vez mais exigentes. As figuras de mérito dos lasers são inúmeras,
dependendo das aplicações, e, nem sempre a optimização de uma delas conduz à melhoria das
outras, pelo que muitas vezes é necessário encontrar uma situação de compromisso.
Iremos analisar apenas as fontes designadas por lasers de injecção, designação que tem
pLaL
L
1r 2r ( ),U x y
g d
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4.26 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
origem no facto de existir injecção de portadores através dos contactos para uma zona activa,
onde se manterão confinados juntamente com a radiação com a qual interagem, por acção de
heterojunções convenientes. Para um bom desempenho, os confinamentos, quer dos
portadores de carga quer dos fotões, são essenciais. O confinamento dá-se nas três direcções
do espaço: na direcção transversal, que é a direcção da injecção de portadores, na direcção
longitudinal, que é a direcção usual de emissão da luz e na direcção lateral. A estrutura
utilizada para o confinamento condiciona de tal modo as características do laser que é uma
das maneiras de identificar e classificar a fonte de luz. Quanto ao confinamento transversal
são especialmente citados os laser de poços quânticos4. Quanto ao confinamento longitudinal
são de referir os dispositivos que graças a uma variação periódica do índice de refracção5
obtêm uma melhoria assinalável da coerência do emissor6. É o caso dos lasers de retroacção
distribuída7 ou os reflectores de Bragg distribuídos8.
Especialmente interessante do ponto de vista pedagógico é o artigo de N. Holonyak9
que traça um resumo histórico dos últimos 35 anos de lasers de semicondutor e que foi
publicado como comunicação convidada no Proceeddings do IEEE.
Os primeiros lasers de semicondutor referenciados eram de homojunção de GaAs e
apresentavam ganho para densidades de correntes, ditas de limiar10, da ordem de 50 kA/cm2.
Este facto impedia-os de serem utilizados em modo contínuo à temperatura ambiente, devido
às elevadas potências postas em jogo, obrigando-os a um funcionamento em regime pulsado.
A corrente de limiar é uma das principais figuras de mérito da tecnologia de lasers de
semicondutor. De facto, uma corrente de limiar reduzida conduz a baixas perdas, permitindo a
operação do laser sem controlo de temperatura. A razão de tão elevadas correntes de limiar
nesses casos estava fundamentalmente associada ao fraco confinamento dos portadores
existente nas homojunções (Fig. 4.22).
4 Quantum Weel (QW) lasers, na designação anglo-saxónica 5 Grating ou corrugation, na designação anglo-saxónica 6 São valores típicos nos lasers com cavidades de Fabry-Pérot larguras espectrais de 5 [nm]. Nos lasers de
retroacção distribuída são típicos valores da ordem do picometro (10-12 m) 7 Distributed FeedBack (DFB) lasers, na designação anglo-saxónica 8 Distributed Bragg Reflector, na designação anglo-saxónica 9 N. Holonyak, The Semiconductor Laser: Athirty –Five-Year Perspective, Proceedings of the IEEE,
Vol.85,No11, pp. 1678-1692, Nov. 1997. 10 Threshold current density, na designação anglo-saxónica. Corresponde aos valores a partir dos quais a emissão
estimulada é apreciável, ou seja a potência de luz emitida é não desprezável.
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4.27 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig. 4.22 -
Confinamento de portadores com homojunções
Como já referido, os fenómenos de emissão de luz nos materiais semicondutores estão
associados a fotões de comprimentos de onda compatíveis com a altura da banda proibida do
material. Para que se promovam os mecanismos de recombinação correspondentes à emissão
de luz, as populações de electrões e buracos devem coexistir espacialmente e serem de
elevada concentração. Uma das soluções é o uso de junções. Em homojunções pn
directamente polarizadas, apenas numa zona muito restrita na zona vizinha à junção
metalúrgica é possível encontrar populações consideráveis de electrões e de buracos. Pelo
contrário, o uso de heterojunções conduz a descontinuidades nas bandas de condução e de
valência que podem permitir o confinamento dos electrões e dos buracos à mesma zona do
espaço. A Fig.4.23 mostra que o material onde os electrões e os buracos estão confinados
deve ser o que apresenta menor altura da banda proibida.
- Fig.4.23 -
Confinamento de portadores com heterojunções
Banda de valência
2 /Gf W h= 2GW
1GW 1GW
GaAlAs Banda de condução GaAlAs
GaAs
Banda de valência
Banda de condução
/Gf W h=
GW
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4.28 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
A emissão estimulada, necessária ao fenómeno laser, tem uma exigência adicional: a
população de fotões deve coexistir com os electrões e os buracos, para que os fotões emitidos
estejam correlacionados do ponto de vista de fase e a emissão se torne coerente. Esta
exigência não está presente, por exemplo, em outro tipo de emissores como sejam os díodos
emissores de luz, estudados na secção 4a, onde a emissão é, como já atrás referido, sobretudo
espontânea. As heterojunções podem também garantir um confinamento da radiação à custa
da descontinuidade que impõem nos índices de refracção dos materiais da junção, criando um
efeito idêntico ao dos guias de onda (Apêndice IV). Para tal, o material onde se confina a
radiação deverá estar associado ao maior índice de refracção (Fig. 4.24). Uma das soluções
possíveis que permite obter bons confinamentos de portadores e da radiação é o conjunto
GaAlAs/GaAs/GaAlAs, que apresenta a feliz coincidência do material composto binário
(GaAs) ter menor altura da banda proibida e maior índice de refracção que o material
composto ternário para alguns valores de composição de alumínio (Al).
Fig.4.24 -
Confinamento da radiação com heterojunções. Perfil do índice de refracção da estrutura e distribuição da intensidade luminosa
O passo seguinte foi pois a utilização de heterojunções de semicondutores compostos.
Resultou das facilidades já permitidas pela tecnologia já existente e foi simultaneamente um
factor determinante para o progresso nas técnicas de fabrico pelas solicitações que originou.
Com efeito, o controlo de crescimento epitaxial dos materiais e o fabrico de interfaces
praticamente isentas de imperfeições impuseram um nível de exigência que foi um dos
motores do desenvolvimento no sector do fabrico de dispositivos. No fim da década de 60
eram publicados resultados experimentais de lasers de dupla heterojunção de GaAs com
densidades de corrente de limiar de 0,5 kA/cm2, o que correspondia já a uma melhoria de
índice de refracção
intensidade luminosa
GaAlAs GaAs GaAlAs
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4.29 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
cerca de duas ordens de grandeza em relação aos lasers de homojunção do princípio da
década11.
Com o advento das fibras ópticas foi dada especial atenção aos comprimentos de onda
de 1,3 a 1,55 mm, tendo-se desenvolvido os lasers de longo comprimento de onda. Esta é a
designação genérica para os lasers que emitem acima de 1 μm. Merecem especial referência
os dispositivos lasers feitos de semicondutor da família do quaternário InGaAsP (capítulo 2),
que por variação das composições x e y permitem seleccionar qualquer comprimento de onda
da gama 1,1 a 1,6 μm.
Nas hetero-estruturas a zona activa será um quaternário, geralmente o Q-1.3 ou o Q-
1.55, e as bainhas podem ser o InP ou outro elemento quaternário da mesma família de menor
comprimento de onda que o da zona activa, por exemplo, o Q-1.07.
No sentido de diminuir a corrente de limiar, o desenho de estruturas laser evoluiu no
sentido de procurar diminuir a espessura da região activa.
Deste modo, usando técnicas de crescimento VPE12 e MBE13 aparecem na década de 70
os primeiros lasers em que a designada zona activa consiste na alternância de camadas de
materiais diferentes de espessuras muito finas (centena do Amgström ou menos). São
designados por lasers de poços quânticos múltiplos14, por contraposição aos lasers maciços15
onde as dimensões da região activa apresentam valores típicos entre 0,1 e 0,3 μm16 (Apêndice
VI)
A corrente de limiar nos lasers de poços quânticos é normalmente uma função complexa
do número de poços quânticos, da sua espessura e da distância entre eles (Fig. 4.25).
Os lasers de poços quânticos são estruturas especialmente importantes em lasers do tipo
DBR, onde a zona da corrugação periódica e a zona activa não coexistem.
11 Uma colecção representativa de artigos pioneiros nesta área podem ser encontrados no número especial que
lhe foi dedicado em Junho de 1987 no IEEE Journal of Quantum Elecronics 12 Vapour Phase Epitaxy, na designação anglo-saxónica 13 Molecular Beam Epitaxy, na designação anglo-saxónica 14 MQW, Multiple Quantum Wells, na designação anglo-saxónica 15 BL, Bulk Lasers, na designação anglo-saxónica. 16 Este comprimento é muito superior ao comprimento de onda de de Bröglie /h pλ = associado aos portadores
de carga, tornando os aspectos quânticos irrelevantes.
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4.30 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig.4.25 - Diagrama de bandas esquemático de um laser MQW com 4 poços quânticos
Os lasers de poços quânticos são os emissores coerentes que se apresentam mais
interessantes no domínio das comunicações ópticas, permitindo maiores valores da potência
óptica de emissão, melhor confinamento óptico e mais elevados valores para o ganho
diferencial17. É este último parâmetro que permite melhorar os valores de alguns factores de
mérito dos lasers nesta vasta área de aplicações, nomeadamente a corrente de limiar, a largura
de banda de modulação e a largura da linha espectral18.
As dimensões da zona activa num plano transversal à cavidade são responsáveis pelo
aparecimento de modos transversais ou laterais, conforme se trata do campo na direcção
perpendicular à junção ou paralela à junção.
Nos lasers de heterojunção o confinamento transversal (Apêndice IV) ocorre devido às
diferenças entre os índices de refracção das diferentes zonas. Este mecanismo é designado na
literatura da especialidade por efeito de guia por variação do índice de refracção19. Pode ser
fraco ou forte conforma a intensidade do confinamento. O confinamento lateral pode estar
associado a variações do índice de refracção ou a variações do ganho óptico20.
17 O ganho diferencial corresponde à variação do ganho óptico com a injecção de portadores associada à corrente
eléctrica, ou seja, a /g n∂ ∂ 18 Spectral linewidth, na designação anglo-saxónica 19 Index guiding, na designação anglo-saxónica 20 Gain guided, na designação anglo-saxónica
W
InGaAs InGaAsP InGaAsP InPInP
contacto ncontacto p Banda de Condução
Banda de Valência
Poços quânticos
Barreiras
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4.31 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
A Fig. 4.26 mostra esquemáticamente diferentes tipos de confinamento em guias.
- Fig.4.26 -
Estruturas de lasers para obtenção de confinamento no plano transversal à cavidade óptica
Um dos processos de confinamento lateral consiste em diminuir a área do contacto
óhmico a um espaço de 10-20 μm de espessura fazendo crescer camadas de óxido entre o
contacto óhmico e a zona activa, que são posteriormente removidos de forma selectiva. A
distribuição das linhas de corrente é mais esparsa longe dos contactos, estando mais afastadas
na periferia do que na vizinhança do eixo, devido aos mecanismos de difusão dos portadores.
Sendo os comprimentos de difusão da ordem de 2,5 a 4 μm, não é possível por este processo
confinar mais do que 5 a 8 μm. Corresponde a um confinamento por variação do ganho.
Noutros casos existe a combinação dos efeitos da temperatura e da variação do índice de
refracção com a concentração de portadores ( )rn n para produzir o confinamento da radiação.
Noutros casos ainda, o efeito lateral do guia é introduzido de forma deliberada por desenho da
≈ ≈
≈
≈ ≈
dieléctrico
InGaAsPp −
InPp −
InGaAsP(z.activa)
InPn −
substrato InPn −
InGaAsPp −
≈ substrato InPn −
InPn −
InPp −
zona activaInPn −
InPp −
( )a
( )b
( )c
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4.32 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
estrutura, correspondendo geralmente a um processo de fabrico mais complexo. São exemplos
a estrutura com o substrato em canal21 ou a hetero-estrutura cavada22, representadas nas
figuras 4.26b) e 4.26c), respectivamente. Na primeira o confinamento é, em geral, fraco. Na
segunda o confinamento é forte.
Entre a zona activa e as zonas vizinhas, denominadas bainhas, podem utilizar-se duas23
ou apenas uma heterojunção24. As bainhas que envolvem a zona activa têm simultaneamente
maior largura da banda proibida e menor índice de refracção que os da zona activa. Como
referido atrás, a descontinuidade na altura da banda proibida ajuda a confinar os electrões e os
buracos à zona activa onde se recombinam para produzir o ganho óptico (Fig.4.23). A
diferença entre os índices de refracção faz com que o conjunto dos materiais bainha/zona
activa/bainha funcione como um guia óptico, confinando a maioria da radiação à zona activa
(Fig. 4.24). Outras estruturas existem em que os confinamentos dos portadores e o da radiação
não coexistem em toda a sua extensão, designando-se essas estruturas por estruturas de
confinamento separado25. Apresentam vantagens embora estejam associadas a processos de
fabrico mais complexos.
No que diz respeito à cavidade, a oferta também é diversa. Os mais simples
correspondem aos já referidos lasers de Fabry-Perot. Nestes a retroacção é da
responsabilidade única dos espelhos colocados perpendicularmente à direcção de propagação
da luz, graças às diferentes reflectividades que possuem face ao material semicondutor da
zona activa. Uma vez que a curva de ganho do material é bastante larga em comprimentos de
onda, a selectividade associada às condições de ressonância é muito fraca, sendo a emissão
destes lasers do tipo multi-modal. Este aspecto constitui um grave inconveniente nas
aplicações em comunicação óptica onde um dos factores de mérito fundamental é a emissão
em modo único garantida por uma selectividade alta das estruturas laser. Um desempenho
mais adequado foi possível pela introdução de uma corrugação que constitui uma variação
periódica do índice de refracção e que é responsável por uma retroacção distribuída ao longo
da cavidade que se acrescenta às retroacções localizadas das terminações das cavidades
presentes nos lasers de Fabry-Perot. Desta maneira se garante uma selectividade
21 Channeled substrate, na designação anglo-saxónica 22 Buried heterostructure, na designação anglo-saxónica 23 Double heterojunction (DH), na designação anglo-saxónica 24 Single heterojunction (SH), na designação anglo-saxónica 25 Separate Confinement Heterostructure (SCH), na designação anglo-saxónica
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4.33 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
incomparavelmente superior nestes lasers, que têm a designação de laser de retroacção
distribuída, DFB, ou reflectores distribuídos de Bragg, DBR, conforma, respectivamente. a
zona de ganho e da corrugação coexistem espacialmente, ou não. Os DFB constituem
actualmente a versão mais popular de lasers na comunicação óptica. Finalmente, são de referir
os lasers em que a emissão de luz se dá na mesma direcção que a de injecção de portadores,
ou seja, com um eixo óptico perpendicular à zona activa, e que são designados por lasers de
emissão em superfície de cavidades verticais, VCSEL.
4.2.2 Geração e Recombinação de Portadores na Região Activa
Como referido a região activa está usualmente associada ao composto semicondutor de
menor altura da banda proibida e corresponde à região onde os portadores recombinados
contribuem para o ganho e a emissão de fotões. Podemos definir uma eficiência quântica
interna neste contexto, como a fracção de portadores injectados que geram portadores na
região activa. Como as regiões activas são fracamente dopadas ou mesmo intrínsecas e como
se consideram geralmente níveis de injecção elevados, as densidades de electrões e de buracos
são iguais. Designemo-la por N. A equação de ritmo para electrões corresponde a assumir que
a evolução do número de electrões (ou de buracos) no tempo resulta exclusivamente do
desequilíbrio existente entre os ritmos de geração G e e de recombinação R
dN G Rdt
= − (4.2.2)
sendo
/iG I qV= η (4.2.3)
onde V =wdL é o volume da zona activa e R uma parcela que entra em linha de conta com
todos os processos de recombinação, radiativos ou não
sp nr l stR R R R R= + + + (4.2.4)
Sendo:
Rsp o ritmo de recombinação espontânea
Rnr o ritmo de recombinação não radiativo
Rl é o ritmo de recombinação associado a perdas por correntes de fugas
Rst é o ritmo de recombinação estimulada.
Os 3 primeiros estão associados a processos naturais e podem relacionar-se com o tempo
de vida médio dos portadores τn através da equação
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4.34 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
/sp nr l nR R R N+ + = τ (4.2.5)
Onde
2spR BN= (4.2.6)
3l nrR R AN CN+ = + (4.2.7)
A é o coeficiente de recombinação não radiativa, B designa-se por coeficiente de
recombinação molecular e C é o coeficiente de Auger. Substituindo (4.2.3) e (4.2.5) em
(4.2.2) obtemos a equação de ritmo para portadores
ist
n
IdN N Rdt qV
η= − −
τ (4.2.8)
4.2.3 Geração de Fotões e Perdas nas Cavidades dos LASERs
Vamos analisar a influência do ritmo de recombinação estimulada na geração de fotões
e no efeito da cavidade ressonante na sua acção amplificadora. Para tal consideremos a
equação de ritmo correspondente à população de fotões, que designaremos por Np,
A principal diferença com os LEDs é que a análise de lasers é monomodal
normalmente, ou seja, apenas consideramos a população de fotões associada a um modo, que
é o modo principal seleccionado na cavidade laser. Uma vez que existem milhares de modos
possíveis na cavidade, somente uma percentagem muito pequena de Rsp contribui para a
geração de fotões de um modo particular. Este factor (βsp) designa-se por coeficiente de
emissão espontânea, e é tipicamente da ordem de 10-4 a 10-5. De referir que nos lasers de
cavidade vertical o número de modos existentes é bastante menor, o que aumenta o factor βsp
significativamente. Acima do limiar a geração de fotões tem a ver fundamentalmente com o
ritmo de emissão estimulada Rst. Por cada par de portadores recombinado de forma estimulada
por um fotão aparece um fotão com características idênticas. No entanto, uma vez que o
volume ocupado pelos fotões Vp é superior ao da região activa V, devemos substituir Rst por
Rst (V/Vp)= Rst Γ. O factor Γ representa o factor de confinamento associado à cavidade
(Capítulo IV) para os modos transversais.
Os fotões podem desaparecer por perdas ópticas no sistema ou por dispersão. O factor
associado a essa diminuição da população de fotões pode ser representado de forma idêntica
àquela que foi usada para os electrões na sua equação de ritmo, ou seja, através da definição
de um tempo de vida médio para fotões τp (que é usualmente da ordem dos pico-segundos, ou
seja, muito inferior ao dos electrões, que é da ordem dos nano-segundos). A equação de ritmo
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4.35 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
para a população de fotões fica dada por
p pst sp sp
p
dN NR R
dt= Γ − + β
τ (4.2.9)
Onde o ritmo de recombinação estimulada Rst é proporcional à própria população de
fotões de acordo com
st g pR v gN= (4.2.10)
sendo vg a velocidade de grupo e g o ganho material.
4.2.4 Ganho material
O ganho material depende da população de portadores podendo em primeira análise
tomar-se como uma função de 1ª ordem
( ) ( )0g N a N N= − (4.2.11)
Em (4.2.11) a é o ganho diferencial, dg/dN, e N0 á a concentração de portadores na
condição de transparência.
Consideremos a título de exemplo o quaternário da família do InGaAsP que
corresponde, de acordo com a equação (2.3.14), a um comprimento de onda de 1,3 μm. É
geralmente designado na literatura da especialidade por Q-1.3 (Apêndice III). A Fig. 4.27
representa o coeficiente de absorção deste material em função da energia, tomando como
parâmetro o nível de injecção de portadores. De salientar os seguintes aspectos:
Ao aumentar a concentração de portadores o coeficiente de absorção pode tomar
valores negativos, significando que o material passa a apresentar ganho. Corresponde
à situação em que os pseudo-níveis de Fermi se afastam em energia de um valor
mínimo ( )minW superior à altura da banda proibida, o que corresponde a níveis de
injecção muito elevados;
A partir de uma dada energia ( )maxW crescente com o nível de injecção, o material
apresenta de novo valores positivos para o coeficiente de absorção;
As curvas apresentam um valor máximo para o ganho ( )maxg . O seu valor é função
da injecção de portadores e da temperatura. É esta relação que de uma forma
aproximada se traduz pela equação (4.2.11) e representada na Fig. 4.27.
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4.36 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
Experimentalmente verifica-se que o efeito da injecção dos portadores se traduz numa
diminuição da altura da banda proibida26. O efeito do encurtamento da banda proibida é
visível na Fig. 4.27, traduzindo-se por uma diminuição dos valores de energia ( )minW a partir
dos quais o material apresenta ganho, isto é o coeficiente de absorção se torna negativo.
- Fig. 4.27 –
Variação da absorção com a energia no Q-1.3 da família InGaAsP (T=300K) para níveis de injecção que variam de n=1024 [m-3] a n=1,8×1024 [m-3] com acréscimos de 2×1023 [m-3].
A Fig. 4.2.8 mostra que para a mesma excitação o valor do ganho máximo se torna
maior à medida que a temperatura diminui. Uma explicação para este facto resulta da
influência dos factores de Fermi, que afecta a distribuição dos portadores em função da
energia. Com efeito, para temperaturas mais elevadas os portadores espraiam-se por um gama
mais vasta de energias, conduzindo deste modo a uma diminuição do ganho.
26 Shrinking, na designação anglo-saxónica
[cm-1]
0,92 0,94 0,96 [eV]
InGaAsP
λ=1,3 μm
n
200
100
0
-100
-200
Página 4.37
4.37 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig. 4.28 -
Ganho material máximo em função da injecção de portadores e da temperatura no composto quaternário Q-1.3 da família InGaAsP.
4.2.5 Situação de limiar
A situação de limiar é estacionária. Obtém-se de (4.2.8) igualando a equação a zero.
Uma vez que no limiar a recombinação estimulada é desprezável é-se conduzido a
thth
n i
NI qV=τ η
(4.2.12)
onde Nth é a concentração de portadores no limiar e é obtida de (4.2.12) fazendo g igual às
perdas totais na cavidade.
A equação (4.28) mostra que acima do limiar o aumento da corrente de injecção
contribui fundamentalmente para o aumento da densidade de fotões emitidos de forma
estimulada, mantendo-se a densidade de portadores na zona activa de valor praticamente
constante e igual a Nth.
A situação acima do limiar está representada na Fig. 4.29 usando a analogia com um
reservatório de água, onde um aumento do fluxo de água (corrente de injecção) contribui para
um aumento da saída de água (emissão estimulada) mas não aumenta o nível da água
(concentração de portadores), que já está no seu máximo.
350
100 K 150 200 250
300
200
100
0 0 0,5 1,0 1,5 2,0
n [×10-18 cm-3]
T = gmax [cm-1]
Página 4.38
4.38 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig. 4.29 -
Analogia entre o reservatório de água e a situação acima do limiar num LASER. .
4.2.6 Característica estacionária Potência-Corrente Pem(J)
A característica estacionária Pem(J) (Fig. 4.30) é obtida igualando a zero as equações
(4.2.8) e (4.2.9) e admitindo que a potência posta em jogo na emissão é proporcional ao
número de fotões na respectiva terminação da cavidade óptica. Para uma cavidade de Fabry-
Pérot com perdas nos espelhos αm, perdas internas ao longo da cavidade de valor médio αint e
tendo em conta que o número de fotões emitidos é desprezável até à situação de limiar, é fácil
mostrar que
( )
( )i m th
emm int
hf I IP
qwdη α −
=α + α
(4.2.13)
- Fig. 4.30 -
Característica potência de luz emitida versus injecçãopara emissões de modo único ou multimodo transversal.
A figura mostra duas situações: uma referente a emissão monomodo e outra a emissão
multimodo.
Rsp Rnr
Corrente de fugas
G=ηiI/(qV) I/(qV)
emP
Modo transversalúnico
Modos transversaismúltiplos
J
Nth
Página 4.39
4.39 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
4.2.7 Regime dinâmico. Resposta em frequência. Resposta a um escalão de corrente
A principal aplicação dos lasers não é em regime estacionário, mas em regime dinâmico
como resposta a correntes de injecção que se fazem variáveis no tempo. Assim se a corrente
de injecção além de uma componente contínua acima do limiar, que designaremos por Ibias,
tiver uma componente harmónica de frequência f e de muito baixa amplitude, é possível por
resolução das equações de ritmo na aproximação de pequenos sinais determinar a resposta em
frequência do laser (Fig. 4.31). A emissão de luz diz-se modulada pela corrente de frequência
f. As equações de ritmo permitem obter a resposta em frequência do laser, considerando
I=Ibias +Imsinωt e Im<< Ibias.
No eixo vertical a potência está normalizada para o valor a baixas frequências e usa-se
uma escala logarítmica. O valor do logaritmo da razão de potências é multiplicado pelo factor
20 porque a detecção no fotodetector é feita através de uma corrente que é proporcional ao
quadrado da potência óptica.
- Fig. 4.31 –
Resposta em frequência de um díodo laser ideal para diferentes potências de saída [L. Coldren, Diode Lasers and Photonic Integrated Circuits]
3 dB abaixo
f (GHz)
4.4
40 Optoe
O
obtida p
óptica d
De sali
caracter
impulso
4.2.8
Em
estável
varia co
frequên
influênc
com a te
U
caracter
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Outra situaçã
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ientar que
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Página 4.40
- Fig. 4.32 –er a um escalã
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do LASER
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0,1 nm/K).
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s baixas
e ainda a
refracção
mas pelas
e tipo de
Página 4.41
4.41 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
emissores. Assim, o efeito da temperatura é mais importante nos LASERs FP, que apresentam
uma variação Δ(T) cerca de 4 vezes superior à dos LASERs DFB. (Fig. 4.33)
- Fig 4.33 - (a) Desvio dos modos e da curva de ganho com a temperatura;
(b) Desvio no comprimento de onda de emissão com a temperatura.
4.2.9 Laser-FP versus Laser-DFB. Sistemas ópticos
O laser Fabry-Pérot (FP) constitui a cavidade ressonante óptica mais simples. A
retroacção é da responsabilidade dos espelhos existentes nas terminações da cavidade
(Fig. 4.34). Obtêm-se por clivagem de uma bolacha semicondutora, conseguindo-se espelhos
com reflectividades de 0,3 a 0,4 quando o semicondutor está em contacto com o ar. São
comprimentos típicos 150 μm a 1mm, dependendo da aplicação. As dimensões da cavidade
são importantes: d determina o factor de confinamento, w determina os modos transversais e
L determina o espaço modal.
TT’>TGanho
W
(a)
λ declive 0,4 nm/K
Fabry-Pérot
DFBdeclive 0,1 nm/K
(b)T
Página 4.42
4.42 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
- Fig.4.34 - Parâmetros geométricos de uma cavidade de FP. Representação esquemática dos modos laterais.
A estrutura DFB representou um passo importante no sentido da melhoria da
selectividade da cavidade óptica. A dificuldade no fabrico deste tipo de LASERs face aos
lasers FP é manifestada pelo preço (2 a 3 ordens de grandeza superior). É conhecido o efeito
especial produzido quando o comprimento de onda se aproxima do da estrutura ou é um
múltiplo inteiro.
Nos cristais semicondutores estes efeitos conduzem a descontinuidades energéticas e
reflexões de Bragg, tal como acontece nas ondas ópticas. São típicos valores de larguras
espectrais de 0,1 nm o que acarreta aumentos de capacidades de transmissão de cerca de 50
vezes face aos lasers FP (Tabela 4.2).
- Tabela 4.2 -
LASER D (ps/km×m) Δλ (nm) λ (μm) B (Mb/s) BL (GHz×km)
FP 17 5 1,55 100 10
DFB 17 0,1 1,55 5000 500
A Fig. 4.35 mostra a capacidade dos sistemas ópticos a partir dos anos 70, com
referência aos sistemas de 1ª geração, que operam na vizinhança de 0,8 μm e com base no
d
Lw
1º modo 2º modo 3º modo
Página 4.43
4.43 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
GaAs; 2ª geração, que operam na vizinhança de 1,3 μm e com base no InP; e de 3ª geração,
que operam próximo de 1,55 μm e com base no InP.
- Fig. 4.35 - Evolução da capacidade de sistemas ópticos nas últimas décadas do sec. XX
4.2.10 Características de lasers de injecção
As características dos lasers de injecção são muito variadas, dependendo do tipo de
estrutura, transversal, lateral e/ou longitudinal utilizada. Quando comparados com outros tipos
de emissores coerentes, os lasers de injecção apresentam as seguintes vantagens
Compacidade e baixo peso. Existem em chips de 1mm3 ou menos. Mesmo com uso de
dissipadores e alimentação, podem ser muito compactos.
Excitação por injecção. Com este tipo de bombeamento são possíveis funcionamentos
com emissão coerente associados a correntes da ordem dos mA e tensões de
alimentação de poucos Volt com conversões electro-ópticas de elevada eficiência.
Funcionamento em modo contínuo (CW) à temperatura ambiente graças a correntes de
limiar baixas-
Elevada gama de λ emitido, desde o infravermelho a toda a gama do visível, por
escolha conveniente de materiais compostos semicondutores (ver Apêndice III).
Modulação directa (DM27) até dezenas de GHz.
Alta coerência, o que lhes permite o funcionamento em modo único (SLM28) em
estruturas DFB ou DBR.
27 Direct Modulation, na designação anglo-saxónica. 28 Single Longitudinal Mode, na designação anglo-saxónica.
BL (Gb/s-km)
104 103 102 10 1
1975 1980 1985 1990
0,8 μm
1,3 μm
1,55 μm
Página 4.44
4.44 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
Geração de impulsos muito curtos, na gama de 0,1 ns a 1 ps com técnicas especiais29.
Possibilidade de produção em massa por uso de técnicas de litografia e planares.
Grande tempo de vida e elevada fiabilidade.
Integração monolítica de muitos dispositivos num mesmo substrato. Implementação
de detectores ópticos, moduladores ópticos e dispositivos electrónicos no mesmo
material semicondutor, permitindo a integração monolítica de dispositivos que
permitam realizar funções especiais
Pelo contrário, os lasers de injecção apresentam as seguintes desvantagens:
Grande sensibilidade à temperatura. Com efeito, o comprimento de onda de emissão,
a corrente de limiar e a potência emitida são fortemente dependentes das modificações
da temperatura ambiente (λ(T), Ith(T), Pem(T)).
Ruído. Uma vez que utilizam geralmente grandes densidades de portadores, as suas
flutuações terão repercussões nas variações da índice de refracção da região activa, o
que provoca diversos tipos de ruído associados e problemas de instabilidade.
Divergência óptica. O feixe de saída é divergente, obrigando à utilização de lentes
para obter uma colimação do feixe.
As principais características relacionadas com os emissores ópticos, relativamente aos
quais a União Internacional das Telecomunicações - Secção de Normalização (ITU-T)30 -
indica valores muito específicos para débitos binários acima dos 10Gbit/s, são: potência
óptica média de saída, razão de supressão de modos laterais31 e razão de extinção.
As áreas de aplicação dos lasers são diversas, principalmente como resultado da
multiplicidade de estruturas existentes, da versatilidade de funções executadas, das vantagens
económicas e dos elevados desempenhos assegurados. De realçar as aplicações nas seguintes
áreas
Comunicações ópticas. Altos desempenhos são requeridos em sistemas de
29 Mode locking é a designação da técnica que permite por interferência construtiva dos modos de uma cavidade
gerar impulsos ópticos de elevada frequência. 30 International Telecommunication Union- Telecommunication Standardization Sector. 31 SMSR, Side Mode Suppression Ratio, na designação anglo-saxónica. É dada pela razão entre a potência
associada ao modo principal e a potência associada ao modo lateral mais forte.
Página 4.45
4.45 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
comunicação de multiplexagem por divisão de λ (WDM32) ou em sistemas coerentes
de comunicação. Os lasers com estruturas DFB não convencionais permitem garantir
emissão em modo único com relações de rejeição de modo comum superiores a 40 dB.
As estruturas de poços quânticos (QW) permitem melhorar os desempenhos no que
toca à coerência e à influência da temperatura (Apêndice VII). Progressos nas técnicas
do mode locking tentam melhorar os desempenhos de fontes de luz rápidas para
aplicação em sistemas especiais de transmissão por fibra óptica.
Armazenamento e processamento de informação. O armazenamento em memórias
ópticas que requerem alta estabilidade e baixo ruído obriga à utilização de baixos λ,
para permitir uma alta densidade de gravação de dados e baixo custo. São exemplos os
lasers da família do composto semicondutor ternário AlGaAs como fontes de luz no
domínio de gravação de discos compactos ou os lasers da família do semicondutor
composto quaternário AlGaInP (ver Apêndice III) para emissão no vermelho no
domínio dos sistemas de DVDs. O processamento de informação é obtido, por
exemplo, nas impressoras laser e no scanner de imagens.
Na instrumentação óptica e sensores, por exemplo, no uso de sensores de fibra-óptica
e lasers de infravermelho em espectroscopia.
Em aplicações de potência, para bombeamento óptico na excitação dos amplificadores
ópticos em sistemas de comunicação ou nos lasers de estado sólido.
Finalmente, é de referir que uma extensa investigação tem sido feita no sentido de se
obterem dispositivos ópticos integrados monoliticamente usando semicondutores lasers como
componente nuclear. São exemplos os dispositivos integrados consistindo num laser e
elementos electrónicos, designados por circuitos optoelectrónicos integrados (OEIC33) e os
que consistem de elementos optoelectrónicos como lasers, moduladores e fotodetectores,
designados por circuitos integrados fotónicos (PIC34).
32 Wavelength Division Multiplexing, na designação anglo-saxónica. 33 Optoelectronic Integrated Circuits, na designação anglo-saxónica. 34 Photonic Integrated Circuits, na designação anglo-saxónica.
Página 4.46
4.46 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
PROBLEMAS PROPOSTOS
Exemplo 4.1
Apresente três vantagens e três desvantagens dos díodos LASER relativamente aos
LASER de gás ou de estado sólido.
Exemplo 4.2
Diga porque é que os materiais semicondutores III-V são melhores que o silício para
fabrico de LEDs ou LASERs.
Exemplo 4.3
Num díodo LASER, a corrente injectada é I, a corrente que circunda a zona activa é Ib,
a corrente devida a fugas é Il, a corrente que contribui para os processos não radiativos na
região activa é Inr, a corrente que contribui para a emissão espontânea na região activa é Isp, as
correntes que contribuem para a emissão espontânea e os processos não radiativos fora da
região activa são Ispo e Inro, respectivamente, e a corrente que contribui para a emissão
estimulada é Ist.
a) Qual é a eficiência interna?
b) Se a eficiência diferencial externa acima do limiar é ηd, qual a razão entre as perdas
nos espelhos e as perdas totais na cavidade?
c) Para a situação abaixo do limiar, qual é a eficiência radiativa?
Exemplo 4.4
Dê um valor aproximado para a frequência de corte intrínseca de um LED com uma
região activa de tipo p dopada com 6,3×1024 m-3.
Exemplo 4.5
O aumento percentual de fotões de um feixe de luz verificado ao passar pelo GaAs foi
de 1/Np × (dNp/dt) = 1013s-1. Calcule o ganho do material em cm-1.
Exemplo 4.6
Um díodo laser de λ=1.55 μm formado por uma cavidade de InGaAsP/InP apresenta
um ritmo de perdas ópticas de 4×1012 fotões/s. Determine:
a) O tempo de vida dos fotões.
b) O ganho de limiar.
Página 4.47
4.47 Optoelectrónica Aplicada Capítulo 4
Exemplo 4.7
Um laser de poços quânticos múltiplos 1.55 μm InGaAsP/InP de facetas clivadas com
400 μm de comprimento apresenta 80% de eficiência quântica interna e 10 cm-1 de perdas
internas. Calcule:
a) O ganho modal no limiar
b) A eficiência diferencial
c) O espaçamento modal axial.
Exemplo 4.8
Um laser de facetas clivadas de dupla heterojunção de GaAs tem uma zona activa de
espessura 0,1 μm, comprimento 300 μm e uma densidade de corrente de limiar de 1kA/cm2.
Admitindo que a eficiência interna é unitária, que as perdas internas são de 10 cm-1 e que só
existe recombinação radiativa, calcule:
a) A densidade de portadores no limiar.
b) A potência de luz emitida por faceta por micrómetro de espessura para uma
densidade de corrente de 2kA/cm2.
c) A densidade de fotões e de portadores a 2kA/cm2.
LEITURA ACONSELHADA
Coldren,L and Corzine,S, Diode Lasers and Photonic Integrated Circuits, Wiley
Series in Microwave and Optical Engineering, John Wiley & Sons, 1995.
Suhara,T, Semiconductor Laser Fundamentals, Marcel Ducker, N.Y., 1998.
Agrawall, G.P. and Dutta,N.K. Semiconductor Lasers, Kluwer Academic Publishers,
1993.
N. Holonyak, Jr., “The Semiconductir Laser: A Thirty-Five-Year Perspective”, Proc.
IEEE, Vol.85, No. 11, pp. 1678-1692, Nov. 1997.
José A.N.P.Morgado Sistemas de Comunicação Óptica com Modulação Directa, tese
de doutoramento, IST, 2006.