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Procedimento para o modelo capacitivo
A. Processo iterativo para determinao de Co e Cf
Para cada frequncia de medio previamente definido pelo usurio, Co e Cf devem ser
determinados, assim:
1. Faa Cf = 0;
2. Medir o coeficiente de reflexo de um material com suficientemente alta
propriedades dieltricas ( Ex: gua destilada).
3. A partir da equao 1 ,do coeficiente de reflexo medido no passo 2 e da conhecida
permissividade do respectivo material, calcule se um valor para Co.
4. Usando o valor de Co determinado no passo 3, coloca-se um material com baixas
propriedades dieltricas (Ex: ciclohexano) em contato com a sonda e mede-se o
respectivo coeficiente de reflexo.
5. A partir da equao 2, do coeficiente de reflexo medido no passo 4 e da conhecida
permissividade do respectivo material, calcula-se um valor para Cf.
6. Usando a equao 2 novamente, e o valor de Cf determinado no passo 5, calcula-
se um novo valor para Co com o dado de coeficiente de reflexo medido de um
material com alta constante dieltrica (Ex: gua destilada). Este novo Co
denominado Co1.
7. Para avaliar se os valores de Co e Cf so adequados, deve-se comparar os valores
de Co e Co1. Enquanto tais valores no forem iguais, o processo deve ser repetido
um nmero de vezes usando os ltimos valores calculados de Co ou (Co1) e Cf at
que as capacitncias convirjam.
8. Em altas frequncias, um novo termo deve ser adicionado a Co*r, sendo este (Co
+Af2)* r. No entanto, o termo A (que depende das dimenses da linha coaxial e da
constante dieltrica do material medido) torna-se significante apenas quando a
suposio
(1)
(2)
(3)
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NOTA: Tal suposio vlida em frequncia de at 3 GHz e considerando uma constante
de dieltrica de 1 . Conforme clculos para sonda Agilent, em 3 GHz ( ,
pelo menos 85 vezes maior.
B. Processo de determinao da permissividade do material medido
1. Considerando que a etapa de calibrao foi concluda (etapa no descrita neste
documento), o sistema torna-se hbil a execuo de medidas. Em cada ponto de
varredura em frequncia, o coeficiente de reflexo bruto capturado do analisador de
rede corrigido atravs da equao 4:
2. Aps o clculo do COR , o software determina a admitncia complexa a partir do
mesmo
3. Uma vez que as capacitncias Co e Cf foram determinadas uma nica vez para
uma quantidade mxima de frequncias, a soluo inversa empregada neste
mtodo simples e definida pela equao 6:
NOTA: Considerando que as capacitncias foram determinadas uma nica vez para o
mximo nmero de pontos de varredura em frequncia e que a quantidade de pontos de
varredura limitada no programa, os valores de Co e Cf iro cobrir qualquer quantidade
de pontos de varredura definida pelo usurio.
(4)
(5)
(6)
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Procedimento para o modelo da relao bilinear entre e
A. Clculo dos coeficientes A1, A2 e A3
Os coeficientes da equao da relao bilinear entre e so determinados como segue :
1. Calcule Co e Cf a partir do processo iterativo para determinao de Co e Cf
2. Cada uma das constantes complexas est relacionada aos parmetros de
espalhamento de respectivo material e tambm a Zo, Cf e Co. Logo definem-se trs
padres (ar, curto e um lquido) e mede-se os parmetros S de cada padro em
cada ponto de varredura em frequncia. Cada constante estar relacionado a um
material padro.
3. Considerando os dados pr-calculados, determine as constantes A1 (ar), A2(curto)
e A3 (lquido padro) a partir das equaes 7, 8 e 9.
B. Clculo do coeficiente de reflexo medido real
4. A partir da equao 10, determina-se a equao 11 a qual fornecer com base
nos parmetros S do material medido e no coeficiente de reflexo bruto do
analisador de rede
(7)
(8)
(9)
(10)
(11)
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C. Clculo da permissividade complexa
5. Usando a equao 12 e as constantes complexas A1, A2 e A3 determina-se a
permissividade complexa.
. NOTA:
Soluo direta
Soluo inversa
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