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Grupo de Estudos em Qualidade da Energia Elétrica - UNIFEI

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Facultad de Ingenieria - Universidad de la RepúblicaFacultad de Ingenieria - Universidad de la República20 de Agosto de 200320 de Agosto de 2003

Huecos de TensiónHuecos de TensiónEstudio de CasoEstudio de Caso

Roberto Chouhy LeborgneRoberto Chouhy [email protected]@adinet.com.uy

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Exigencia legal sobre concesionárias;

Proyectos de P&D (investigacion y desarrollo);

Estudio de Caso

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Objetivos

• Métodos convencionales ??

• Formas alternativas de caracterización ??

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• Sistema de monitoreo;• Elección de los procesos;• Locales de monitoreo;• Período de monitoreo;• Metodologia para evaluar el impacto;• Caracterización de los huecos;• Formas de representación de la sensibilidad.

Metodologia para Caracterização da Sensibilidade

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• Tasa de discretización: 32 puntos /ciclo;

• Valor RMS: intervalo de 1 ciclo, calculado a cada 1/2 ciclo;

• Captura de la forma de onda;

• Exporta la señal de tensión discretizada;

• Memória de 4 Mb.

Sistema de Monitoreo

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• Próximo de la carga analisada;

• Instalación de varios monitores.

Locales de Monitoreo

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Locales de Monitoreo

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• Contempla sazonalidades;

• Número suficiente de paradas de processo;

• Mínimo 1 año.

Periodo de Estudo

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Elección de los Procesos

$ 30.000 /parada

$ 20.000 /parada

$ 40.000 /parada

10 paradas /ano

8 paradas /ano

13 paradas /ano

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Manufactura de cables de MT:• Extrusora 6”: motor CA, inversor, 250 CV;• Extrusora 3,5”: motor CC 65 Hp, conversor CA/CC;• Extrusora 2,5”: motor CC 40 Hp, conversor CA/CC.

Procesos Monitoreados

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• Análisis del producto (manufactura):

• Análisis del processo:

Impacto de los Huecos

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• Hueco severo;

• Hueco no severo;

• Hueco sin clasificación.

Clasificación de los Distúrbios

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• Caracterização clássica com agregação;

• Classificação segundo os tipos A, B, C e D;

• Métodos a um parâmetro;

• Cálculo de outros parâmetros.

Caracterización de los Huecos

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Data / horário dd/mm/aaaa @

hh:mm:ss

Perda de Tensão

[p.u. ms]

Perda de Energia

[p.u. ms]

Thallam [p.u. ms]

Heydt [p.u. ms]

Intensidade [pu]

Duração [ms]

Tipo

30/04/2002@17:47:12.591 1.37 2.55 0.20 0.02 0.87 9 C03/05/2002@19:59:21.234 192 357 26.00 2.75 0.88 817 C13/05/2002@11:44:51.002 6.10 11.02 1.17 0.18 0.87 32 C19/05/2002@10:15:08.242 2.37 4.35 0.38 0.05 0.87 15 C12/06/2002@05:10:26.696 37.0 70.1 3.83 0.29 0.86 358 D17/07/2002@07:35:07.258 6.22 11.3 1.13 0.16 0.85 34 C20/07/2002@12:23:48.423 3.14 5.53 0.75 0.15 0.75 10 C27/07/2002@07:58:27.605 12.40 22.9 1.97 0.24 0.86 24 A29/07/2002@14:50:01.377 162 239 84.30 42.10 0.40 166 C01/08/2002@23:10:17.671 39.2 70.8 7.49 1.14 0.85 205 C02/08/2002@12:55:39.611 35.8 65.2 6.50 0.93 0.85 198 C02/08/2002@23:17:39.387 24.5 44.4 4.62 0.69 0.85 130 C03/08/2002@10:59:22.340 2.94 5.17 0.71 0.14 0.76 10 C04/08/2002@06:40:08.108 5.62 10.14 1.11 0.18 0.83 15 D04/08/2002@13:26:20.592 47.70 85.10 10.30 1.79 0.83 222 C09/08/2002@15:03:46.426 321 569 72 14 0.73 514 A09/08/2002@19:11:07.781 15.70 29.32 2.09 0.21 0.85 119 D06/09/2002@19:29:12.294 10.74 19.67 1.81 0.27 0.71 28 C07/09/2002@03:57:08.902 313 465 162 79 0.40 230 A

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Data / horário dd/mm/aaaa @

hh:mm:ss

Perda de Tensão

[p.u. ms]

Perda de Energia

[p.u. ms]

Thallam [p.u. ms]

Heydt [p.u. ms]

Intensidade [pu]

Duração [ms]

Tipo

29/09/2002@23:30:37.502 5.45 10.18 0.73 0.07 0.83 11 A01/10/2002@11:35:23.464 3.40 6.23 0.56 0.07 0.82 21 C09/10/2002@09:03:31.669 1.95 3.54 0.35 0.05 0.79 11 C13/10/2002@06:43:59.351 247 326 168 112 0.21 133 C13/10/2002@06:47:22.817 25.9 42.8 9.00 2.95 0.54 42 C15/10/2002@11:43:48.323 11.94 21.71 2.17 0.34 0.77 37 C27/10/2002@23:38:50.843 2.33 4.33 0.34 0.04 0.82 7 C29/10/2002@08:47:47.810 264.06 338.67 189.45 132.04 0.09 369 D29/10/2002@23:29:00.810 42.58 63.96 21.20 10.76 0.33 41 C04/11/2002@15:14:38.663 4.72 8.91 0.53 0.05 0.86 42 C03/12/2002@20:38:22.899 4.03 7.30 0.75 0.11 0.79 20 C20/12/2002@13:08:10.515 4.25 7.75 0.76 0.11 0.79 25 D29/12/2002@16:53:11.239 123 190 55.9 23.2 0.47 141 C10/01/2003@20:19:44.261 1.23 2.29 0.17 0.02 0.84 9 C17/01/2003@19:26:25.721 5.18 9.50 0.86 0.12 0.81 29 C18/01/2003@11:02:35.406 15.16 28.48 1.84 0.17 0.81 74 D06/02/2003@18:00:28.965 21.5 37.1 5.94 1.48 0.64 43 C17/02/2003@16:07:34.160 4.87 9.15 0.59 0.05 0.86 41 D22/02/2003@13:08:53.457 20.6 36.0 5.13 1.13 0.67 47 C22/02/2003@13:36:10.259 292 444 139 61.2 0.44 208 A22/02/2003@13:40:28.369 0.79 1.49 0.08 0.01 0.88 5 C04/03/2003@15:57:16.821 9.50 16.5 2.45 0.53 0.71 38 D

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Sensibilidad del Proceso

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Distribuição de Causas

02UHE/16F414%

Transmissão3%

04UHE2% 14F4

5%

13F416%

Desconhecidos

38%

41F45%

15F417%

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Causa de AMTs severos

15F445%

14F411%

13F411%

Transmissão22%

02UHE/16F411%

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% / s 0,007<T<=0,050 0,050<T<=0,100 0,100<T<=0,500 0,500<T<=1,000 1,000<T<=60 Total70<V<=90 104 23 28 3 0 15840<V<=70 11 5 9 0 0 2510<V<=40 1 0 1 0 0 21<V<=10 0 0 3 0 0 3

Total 116 28 41 3 0 188

% / s 0,007- 0,050 0,05 - 0,10 0,1 - 0,5 0,5 - 1,0 1,0 - 60 Total70 - 90 22 1 6 2 0 3140 - 70 6 0 3 0 0 910 - 40 1 0 2 0 0 31 - 10 0 0 1 0 0 1Total 29 1 12 2 0 44

Tensiones LL, agregación de fases y de tiempo.

Tensiones FN, agregación de fases.

Huecos en 440 V

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13,8 kV, Tensiones FN, agregación de fases.

138 kV, Tensiones FN, agregación de fases.

Huecos en 138 kV y 13,8 kV

% / s 0,007<T<=0,050 0,050<T<=0,100 0,100<T<=0,500 0,500<T<=1,000 1,000<T<=60 Total70<V<=90 33 37 7 0 3 8040<V<=70 1 1 2 3 0 710<V<=40 0 0 0 0 0 01<V<=10 2 0 0 0 0 2

Total 36 38 9 3 3 89

% / s 0,007<T<=0,050 0,050<T<=0,100 0,100<T<=0,500 0,500<T<=1,000 1,000<T<=60 Total70<V<=90 182 26 27 4 1 24040<V<=70 15 1 15 1 0 3210<V<=40 1 0 6 1 0 81<V<=10 0 0 1 0 0 1

Total 198 27 49 6 1 281

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