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PROTEO DE LINHAS DETRANSMISSO
TEORIA E PRTICA
Parte II: Sistema Automatizado de Teste
Cap 09 : Teste da FunoDistncia
Resumo
Este captulo aborda passo a passo montagem dos procedimentos de testeda funo distncia (21), utilizando omdulo de teste Distance ou AdvancedDistance da OMICRON So destacadostodas os itens de parametrizao doteste, mostrando as opes deconfigurao.
1. PARMETROS DA PROTEODE DISTNCIA
Iniciando o primeiro passo da Lei deOHM descrita no captulo 3 acessando ocone Parmetros do equipamento emteste, conforme mostra a figura 1.
Figura 1 - Parmetros do equipamentoem teste - localizao
So apresentados passo a passo ositens da telaAjuste do Dispositivo.
Esta uma tela de registro geraldos dados do ensaio, como asinformaes do rel, de sua localizao eclassificao, da funo a ser testada,dentre outros. Tambm so ajustados osvalores de tenses e correntes dosistema.
importante ressaltar que esta tela,de uso geral, sempre estar presente nosoutros mdulos de software.
1.1. Dispositivo
Entrada de dados do elemento
protegido
1.2. Subestao
Nome e endereo da subestaoonde o elemento esta localizado.
1.3. Bay
Entre com o endereo e o nome dobay onde o elemento esta localizado
1.4. Valores Nominais
Entre com os valores nominais(tenso, corrente, freqncia, correnteprimria e tenso primria e numero defases)
Para o teste de rels convencionais,a corrente nominal (1 ou 5 A) deve serajustada aqui.
1.5. Tenso Residual/Fator deCorrente
Esses parmetros somente sorelevantes se o rel tem transformadoresde potencial / corrente separados para atenso / corrente residual (para oaumento da sensibilidade).
A relao desses transformadoresseparados em relao relao dostransformadores das fases expressacom um fator que ser ajustado aqui.
O ajuste padro :
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3732,1=
N
LN
V
V
(1)
como a tenso de fase forma a tensoresidual na conexo delta aberto, e
1=nom
N
II
(2)
Esses fatores so suportados pelosmdulos de Distancia e DistanciaAvanado.
Figura 2 Ajustes do dispositivo
1.6. Limites
Neste item so ajustados osmximos valores de tenso e correnteque o dispositivo de teste capaz defornecer (mximos valores possveis sodeterminados pela configurao dehardware ajustada pelo usurio).
1.7. Filtros Debounce/Deglitch
Entre com os tempos de Debouncee Deglitch para o Teste Object nestescampos. Esses valores so usados ondeos sinais do algoritmo de suavizao soimplementados.
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1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal aps o filtro
Figura 3 Debounce ou Deglich time
2. AJUSTES DO SISTEMA
O sistema de teste precisa conheceralguns parmetros gerais do dispositivode proteo para efetuar o teste com
sucesso. Esses parmetros so vlidospara todas as zonas.
A figura 3 mostra a tela do Ajustedo Sistema, ou seja, as caractersticas dosistema.
Figura 4 Ajuste do Sistema
2.1. ngulo da Linha Aqui so definidos ngulo da linha
de transmisso, e as conexes do TP eTC.
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2.2. Conexo TP
2.2.1. Conexo do TP no lado dalinha
Tenso Ps Falta V = 0 V
Figura 5 TP do lado da linha
2.2.2. Conexo do TP no lado dabarra
Tenso Ps Falta V = VN
Figura 6 TP do lado da barra
2.3. Ponto neutro do TC
Em geral a corrente que flui emdireo ao objeto a ser protegido definida com direo para frente.
Para o rel de distncia estacorrente flui na direo da linha.
Para a corrente primria fluindo em
direo da linha e aterrando os TCs nolado da linha, a corrente secundria fluipara o rel.
Se os TCs so aterrados no lado dabarra, a corrente flui para fora do relpara a mesma corrente primria. Ela estafluindo na direo oposta ou tem 180graus de defasagem.
Figura 7 TC aterrado do lado da linha
Figura 8 TC aterrado do lado da barra
Especificando a direo doaterramento dos TCs, as correntes defalta so injetadas na direo correta.
2.4. Simulao de Disjuntor
Na seqncia de trip CB, a injeodas quantidades para o teste estendidaaps a condio de trip ser recebida. Naseqncia de fechamento CB, o incio daquantidade de teste atrasado aps ocomando de fechamento CB ser emitido.Ambos tempos so sempre aplicados.
Os parmetros 52a% e 52b% sousados para a simulao de contatosauxiliares de CB para seqncias de trip e
close. As figuras mostradas abaixomostram a dependncia do tempo doscontatos 52a e 52b.
A simulao dos contatos auxiliaresCB somente aplicada se a simulao deCB selecionada na Vista do Teste e assadas binrias correspondentes soconfiguradas na configurao dohardware.
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Figura 9 CB Trip
Figura 10 CB Close
2.5. Tolerncias
Valores tpicos para o tempo etolerncia da impedncia para relsnumricos so de 5% para a impednciarelativa e 10% para o tempo relativo.
A tolerncia para a impedncia
absoluta deve ser ajustada para 50 ohmse a tolerncia de tempo deve ser ajustadapara 2.5 ciclos.
O tempo de trip uma quantidadeimportante quando compara valoresnominais e atuais. Para realizar isto, omximo valor derivado da tolerncia detempo absoluta ou relativa usado.
Para a tolerncia do tempo de trip,o maior entre cada tolerncia de tempo,valor positivo ou negativo, absoluto ourelativo usado. A tolerncia de temporelativa atual determinada para cada
tempo de trip gravado. Se a tolernciarelativa no requerida, especificar omenor valor (p.ex. 0.1 %).
Para a avaliao do tempo de trip, oteste deve ser feito e o tempo de tripnominal comparado. Se o desvioabaixar dentro da banda de tolernciaespecificada o teste classificado comoOK.
Para a tolerncia da impedncia omaior valor entre a tolerncia absoluta ourelativa usada. A faixa de tolernciarelativa atual determinada para cadazona sobre o angulo da linha.
Figura 11 Configurao das Tolerncias
relativas e absolutasA maior tolerncia de impedncia
aplicada uniformemente (p.ex. paralelo acada lado em toda direo ao redor dacaracterstica nominal) para produzir afaixa de tolerncia mostrada.
Figura 12 Configurao das Tolernciasdas zonas de proteo
2.6. Fator de Terra
O grounding factor (ou fator decompensao para falhas a terra)compensa a diferena entre impednciasde falha a terra e impedncia para falhasentre fases medida pelo rel.
Figura 13 Configurao do GroundingFactor
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Isto aplicado somente para falhasmonofsicas entre fase e terra.Vrios caminhos ou definies para
entrar com esse fator so disponveispara uma entrada simples do parmetrodiretamente do ajuste do rel.
Figura 14 Fator de Terra - Definies
O software fornece as opes:
== 1
3
1
1
0
Z
Z
Z
ZK
L
E
L
(3)
L
E
L
E
X
X
R
Re
(4)
1
0
Z
Z
(5)
Onde:
Z0 representa a impedncia deseqncia zero .
Z1 a impedncia de seqnciapositiva da LT.
ZE o alcance para falhas a terra(sem compensao). ZL o alcance para falha fase do
rel.
2.7. Separao de Resistncia deArco
Quando calculamos a impedncia apartir da tenso e corrente medidas,alguns rels consideram a resistncia dearco separadamente da poro da
impedncia da linha.O rel assume que qualquer valorde impedncia de falta que desvia do
angulo de impedncia da linha devido resistncia de arco puramente resistiva.Adicionalmente, estes rels
consideram a resistncia de arco comouma resistncia de loop (por exemplo, aresistncia de arco total no loop de falta),e no como uma resistncia de seqnciapositiva.
Usando o diagrama do circuitoequivalente para uma falha fase-terra,Temos :
FLLLtestRZKZZ ++=
(6)
Onde
Ztest a impedncia de loop.Porque o diagrama R/X umdiagrama de seqncia positiva,Ztest poder ser convertido numaimpedncia de seqncia positiva.
ZL a impedncia de seqnciapositiva de ZL(1 + kL). A resistncia
de arco RF precisa ser convertidapara uma resistncia de seqnciapositiva usando a funoResistncia de arco separada:
( )L
F
F K
RR
+=
1
'
(7)
A impedncia de teste de seqnciapositiva Ztest igual ZL + RF, ou seja:
'
FLtest RZZ += (8)
que pode ser plotada no diagrama R/X.Ztest ento usada para calcular asquantidades para o teste, a sereminjetadas usando a impedncia normal dorel.
Para faltas fase-terra somam o valorRF/(1+kL) ao valor correspondente daimpedncia ZL. ZL derivado pelaprojeo da parte reativa de Ztest para o
angulo da linha.Finalmente Ztest usado em vez de Ztestpara calcular as quantidades do teste.
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Figura 15 Clculo de Ztest
2.8. Impedncia em ValoresPrimrios
Em adio as entradas comuns emvalores secundrios, s impednciaspodem tambm ser entradas com valoresprimrios. Isto feito selecionando acaixa Impedncia em Valores Primrios.
Selecione esta opo para entrarcom as impedncias em valoresprimrios. Estes valores so convertidospara valores secundrios aplicando aseguinte equao :
Zsec = ( CTratio / PTratio ) * Zprim
(9)
2.9. Correo da Impedncia 1 A/I nom
Se a corrente nominal do rel 5 A ,o clculo da impedncia tratadodiferentemente para alguns rels. Se aequao para o calculo da impednciausa mltiplos da corrente nominal paradeterminar a impedncia, esta opodever ser selecionada
nom
test
test
I
I
VZ=
(10)
Se a equao da impedncia calculaa impedncia independentemente da
corrente nominal, esta opo no deverser selecionada.
3. AJUSTE DE ZONA
3.1. Definies das Zonas deProteo
As Zonas de proteo,caracterizadas pela parametrizao dorel a ser testado, podem ser inseridas no
sistema de teste de duas formas: Importao do arquivo RIO Exportado do programa de
parametrizao do rel Gerado por outros meios
Entrada Manual de cada ZONA Formas predefinidas Linhas e arcos
3.2. Caractersticas das Zonas de
Proteo
Definies individuais para cadaZONA Nome, Label Tipo (starting, tripping, ) Loop de Falta Forma e Alcance
Editor de Caracterstica Trip time Tolerncias
As tolerncias para cada teste (fase-terra AN-BN-CN , fase-fase AB-AC-BC etrifsico A-B-C), devem ser ajustadasnesta tela.
Valores tpicos para o tempo etolerncia da impedncia para relsnumricos so de 5% para a impednciarelativa e 10% para o tempo relativo.
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Figura 16 Tela Ajustes de Zona
A tolerncia para a impednciaabsoluta deve ser ajustada para 50 ohmse a tolerncia de tempo deve ser ajustadapara 2,5 ciclos.
3.3. Editor de Caractersticas dasZonas de Proteo
Com o editor de caractersticas daszonas de proteo, o usurio pode inserirqualquer caracterstica, segundo qualquerparametrizao alocada no rel a ser
testado.O editor possui ferramentas com:
Caractersticas pr-definidas; Lista de elementos
Na tela Ajuste de Zona, bastaacionar o boto Editar... para entrar noeditor de caractersticas e ter acesso sferramentas de edio, conforme mostraa figura 17, a seguir.
Figura 17 Editor de Caractersticas
3.3.1. Caractersticas Pr-definidas
O editor possui caractersticas pr-definidas de forma a facilitar a elaboraoe registro das zonas de proteoparametrizadas em cada rel. Bastaalterar os dados, por exemplo, o ngulode inclinao de um blinder, e adequar os
valores padres parametrizao a sertestada.
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Figura 18 - Caracterstica Mho
Figura 19 - Caracterstica Lente ouTomate
Figura 20 - Caracterstica Quadrilateral
Figura 21 Lista de elementos para editorao das caractersticas de zona
4. AJUSTES DE TESTE PADRO
So includos na metodologia de
teste. Os test settings normalmente
no precisam ser redefinidos para cadanovo teste.
Estes ajustes so independentes
dos ajustes dos rels. Se os ajustes dosrels so importados/exportados, estesajustes no so afetados.
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Figura 21 Ajustes de Teste Padro
5. PARAMETRIZAO DOSTESTES
5.1. Ajustando o Trigger para oTeste
Na tela de visualizao do teste,selecione a opo Trigger.
Figura 22 Selecionando o Trigger
Iro aparecer nesta opo todos oscontatos que foram definidos naconfigurao do hardware doequipamento de teste, no item Entradasbinrias e analgicas.
Figura 23 Configurao de Trigger
A opo E faz com que para haversinal de entrada para a caixa sejanecessrio que todas as entradas sejamsatisfeitas conforme configurado.
A opo OU faz com que parahaver sinal de entrada para a caixa sejanecessrio que apenas uma entrada sejasatisfeitas conforme configurado.
Cada contato pode ser configuradoda seguinte forma:
1 Contato tipo NA
0 Contato tipo NFX desabilitado
Tabela 1 Opes de seleo de contatos
5.2. Selecionando os Ajustes parao Teste
Na tela de visualizao do teste,selecione a opoAjustes.
Figura 24 Selecionando os Ajustes
Alguns itens configurados nosAjustes de Teste Padro aparecem aquitambm para melhor acesso do usurio.
Figura 25 Tela de ConfiguraoAjustes
5.2.1. Ajuste do tipo de teste
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As opes incluem testes comcorrente, tenso ou impednciaconstante. Utilizaremos a opoCorrente Constante.
5.2.2. Ajuste da corrente de teste
Como a opo utilizada foi a decorrente constante, usaremos 2A
5.2.3. Ajuste do tempo de pr faltae ps falta
Pr falta = 0.5 s
Mximo tempo de falta = 4 s (garantirque o mximo tempo de falta sejaajustado por um tempo maior que oretardo do elemento de trip do rel).
Ps falta = 0.1 s (este ajuste deve seraumentado para rels eletromecnicospara permitir que o rel opere o resetcorretamente)
5.2.4. Ajuste do Incio da Falta
O ngulo de fase da tenso econseqentemente o angulo da correntede falha atravs da opo Incio da Faltapode ser especificado.
Alm da simulao da faltapermanente, possvel simular ocomportamento do transitrio de offsetDC que resulta da simulao do modeloespecifico RL.
Para isso necessrio selecionar o
checkbox Offset DC.O ngulo especificado em fIncio da
Falta definido em referencia tensode curto circuito. Isto depende do tipo dafalha selecionada (monofsica, bifsica,trifsica).
As seguintes opes sodisponveis :
AleatrioO ngulo do inicio da falta calculado para cada testealeatoriamente
ngulo Fixo
O angulo de inicio da falta pode serlivremente ajustado. Se a caixa DC-offset esta ativada, a simulao doDC-offset feita.
Maximo offsetO ngulo de inicio da falta escolhido tal que o mximo positivoe o mximo negativo DC offsetsso simulados para prevenir asaturao dos TCs de entrada dorel. O mximo offset positivopresente no angulo do inicio da
falta, igual ao angulo deimpedncia menos 90 graus. Omximo offset negativo presenteno angulo de inicio da falta igual aangulo de impedncia mais 90graus.
Sem offsetNeste modo o ngulo de inicio dafalta igual ao angulo deimpedncia. Nenhuma componenteDC esta presente, fora para faltastrifsicas, onde nenhuma offset DC
esta presente na fase A.
5.2.5. Permitir Reduo de ITEST
Se o modelo de teste com correnteconstante selecionado e a tenso deteste calculada exceda a tenso nominaldo rel, uma mensagem Fora de Faixa(Out of Range) sinalizada.
Igualmente se o teste com tensoconstante selecionado e a correntecalculada exceda o mximo valor de
corrente especificada para o rel amesma mensagem sinalizada.
Se esta alternativa selecionada,a tenso ou corrente de teste automaticamente adaptada de forma afazer o teste para qualquer ZTESTE possvel.A corrente ou tenso de teste usada mostrada no relatrio.
5.2.6. Referncia de Tempo
Os seguintes ajustes so possveis
Incio de Falta Iniciando
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Figura 26 Referncia de Tempo
O tempo de trip de um rel deproteo o tempo medido desde o inicioda falta at o comando de trip do rel serenviado. Este tempo registrado comoReferncia de Tempo = Incio da Falta.
Outro modo de medir o tempo doatraso dos elementos medir o tempodesde a partida do contato de pick-up ato comando de trip ser enviado.
Este o tempo de atraso atual dotemporizador interno, excluindo-se otempo de pick-up do rel, este tempo registrado como Referncia de Tempo =Incio da Falta.
Selecionando a referncia detempo partida requer que um contato departida do rel seja conectado econfigurado no sistema de teste. Os
sinais seguintes na configurao dehardware so automaticamenteidentificados: START, START A, START B,START C.
Para rels de seleo de fase, apartida de fase correspondente usadapara faltas monofsicas e o contato departida mais rpido usado para faltaspolifsicas.
Figura 27 Referencia de Tempo
5.2.7. Ignorar CaractersticasNominal e Resoluo de Busca
No modo Busca, que ser abordadoa frente, a preciso e o nmero deshots durante o teste depende doajuste colocado em Resoluo de Busca.
Figura 28 Resoluo de Busca
A busca para o alcance de
impedncia atual parada, se a diferenada impedncia entre dois consecutivosdisparos, ambos identificados emdiferentes zonas, for menor que o ajustede Resoluo de Busca O maior de cadaum dos valores de Resoluo de Busca,(absoluto ou relativo) aplicado.
Trip em t2Trip em t1
Tolerance band
Z1 nominal
Z1 ACT
Max (Abs,rel)
Figura 29 Ajuste de resoluo
Quando estiver efetuando um testede busca em uma caracterstica nominalconhecida, o disparo inicial para buscados alcances de zona so colocados nolimite de tolerncia do alcance da zona.
Se a caracterstica no forconhecida, que seria o caso de nenhuma
zona ser definida para o rel, ento osdisparos iniciais so colocados emdistancias fixas, de acordo com o valordefinido no ajuste de Intervalo de Busca,na linha de busca.
Se o alcance da zona esperadaentre dois disparos, o teste feito acimado valor especificado de Intervalo deBusca.
Ainda que as zonas tenham sidodefinidas para o rel, a opo de ignorara caracterstica nominal pode ser usadapara realizar o mesmo procedimento da
caracterstica desconhecida.
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5.2.8. Zonas Estendidas Ativas
Inicialmente vamos definir o queso as zonas de proteo:
Zona de Trip o tipo mais comum, tem umtempo de trip correspondente a eleassociado.
Zona de Partida normalmente exterior a todas aszonas de trip, tem um tempo depickup associado. Se a zona departida for dividida em elementosno direcionais e direcionais(forward), necessrio entrar comduas zonas separadas.
Zona estendidaSimilares s zonas de trip,entretanto somente esto ativas sea opo Zonas Estendidas Ativasestiver selecionada.
Zona de no trip
Pode ser usada como zona deinformao (power-swing p.ex.), oupara definir sees de zonas de triponde o trip no permitido ( reade load encroachment).
Para testar as zonas desobrealcance ou estendidas, as zonasrelevantes devem primeiro ser definidascomo zonas estendidas na caixa dedialogo noAjustes de Zona, ver item 3.2.
Figura 30 Ajuste para Zona estendida
Selecionando Zonas EstendidasAtivas as zonas estendidas so mostradasno plano R-X ao lado da janela de ajustes.Os resultados do teste so tambmcomparados com as zonas definidas como
zonas estendidas.
Note que no rel, as zonasestendidas so normalmente ativassomente por um perodo limitado detempo (por exemplo durante oreligamento automtico) ou trabalhamem conjunto com um contato de entradado rel (por exemplo esquemas deteleproteo ou comando de fechamentomanual para o CB).
Se uma sada binria forconfigurada como Zonas EstendidasAtivas na configurao de hardware, estasada pode ser usada para simular aquele
contato do rel.A temporizao da sada binriapode ser ajustada na pagina deconfigurao do trigger.
A simulao do contato e ajustes dotempo podem somente ser acessados seas a seleo dasZonas Estendidas estiverativada.
5.3. Selecionando a opoDISPARO
Na tela de visualizao do teste,selecione a opo Disparo.
Figura 31 Selecionando Disparo
O objetivo deste teste checar osalcances das zonas individuais e seustempos de Trip usando quaisquer pontosde teste, de acordo com a escolha doresponsvel pelo teste.
A medio do tempo de trip mostrada como resultado.
Uma comparao automtica dosvalores nominais e resultados do testepode ser realizada se o mdulo conheceos parmetros do rel, ou seja, se foramintroduzidos no mdulo de teste ascaractersticas parametrizadas no rel.
O procedimento completo parateste descrito nos itens a seguir.
5.3.1. Definio dos pontos deteste
Primeiro defina o tipo de falta:
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Figura 32 Tipos de falta
tambm possvel definir os
pontos de teste como valores absolutosou realtivos de impedncia pelamarcao no checkbox Relativa.
Figura 32 Definio dos pontos de teste
Pontos de teste relativos estosituados na linha especificada peloangulo Phi e refere-se a interseco coma borda da zona nominal selecionada noZone drop down menu.
Figura 33 Pontos de teste relativos
Figura 34 Tela Teste Disparo
Para adicionar pontos de teste nalista de pontos de teste para o tipo defalha selecionada, clique emAdicionar.
Clicando emAdicionar ... pode-seadicionar pontos de teste para diversostipos de falta.
Para remover pontos de teste dalista, clique em Remover(para o tipo de
falha selecionado) ou Remove tudo...(para todos os tipos de falha).
Pode-se tambm selecionar ospontos de teste no plano de impedncia,com ajuda do mouse:
Acionando o botoesquerdo do mouse no plano de
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impedncia, a impednciadaquele ponto do plano selecionada e seu valorcorrespondente mostrado najanela Ponto de Teste.Pressionando-se Adicionar, estevalor registrado na lista depontos de teste.
Pressione a tecla Ctrl eclique com o boto esquerdo domouse no plano de impednciapara adicionar o pontoselecionado diretamente lista
de pontos de teste. Clicando no boto direito
do mouse no plano deimpedncias o menu contextualpara o grfico aberto.
Figura 35 Pop-up menu
5.3.2. Iniciando o teste deDISPARO
A premissa bsica para o sucessodo teste a correta configurao dohardware do dispositivo a ser testado e adefinio das corretas condies de
Trigger.
Teste com um Shot individual
As correntes e tensescorrespondentes ao tipo de faltaselecionada so aplicadas ao rel.
Para iniciar o teste acione ouselecione Teste Teste nico.
tambm possvel iniciar o testediretamente do plano de impedncias oudiagrama Z/t , pelo posicionamento domouse no plano de impedncias epressionando a tecla Shift juntamentecom o boto esquerdo do mouse.
Teste com uma lista de ShotsPara todos os tipos de faltas, as
correntes e tenses correspondentes paracada shot definido no ponto de teste aplicado ao rel.
Para iniciar o teste clique em ouselecione Teste Iniciar/continuar.
A execuo do teste pode ser pausadaclicando em ou selecionando Teste Pausa.
Clicando em ou selecionando
Teste Pararo teste interrompido. Paralimpar o resultado do teste e permitir umnovo teste clique em ou selecioneTeste Limpar.
Lembre-se: Antes de um novo teste seriniciado, os resultados dos testes antigosdevem ser limpos.
5.3.3. Avaliao do teste deShot
ANLISEDOTESTENATELA
A janela de resultados para o testede shot, contm informaes sobre otempo de trip medido para a corrente doponto de teste na lista de pontos de testee sobre o resultado da avaliaoautomtica.
aprovado reprovado no testado
fora de faixa (Zmin > |Z| > Zmax) sobrecarga
Figura 36 Resultados
Se o modelo de teste comcorrente constante selecionado e atenso calculada excede a tensonominal do rel, a mensagem mostradapara este teste Fora da Faixa.
Igualmente se a tenso de testeconstante selecionada e a correntecalculada excede a mxima corrente
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especificada para o rel, a mensagemmostrada para este teste Fora da Faixa.Se o checkbox selecionado, a
corrente de teste (ou tenso) automaticamente adaptada de forma afazer o teste para qualquer Ztestepossvel. A corrente de teste (ou tenso)usada mostrada no relatrio.
Quando o teste para grandesalcances for executado, a corrente deteste injetada dever sempre ser maiorque a mnima corrente de pick-up para orel. Se o rel utiliza a tenso
dependente da corrente de partida,assegure que a tenso de teste sejasempre menor que a tenso ajustada depick-up.
ANLISENALISTADEPONTOSDETESTE
Em adio aos parmetros deteste (R, X, Z, phi, I, V ...) os temposatuais e nominais de trip so mostrados.De maneira a obter uma vista especficado usurio diferente da vista standard,clique o boto direito do mouse na lista
de pontos de teste para abrir um menucontextual podendo as colunas sermostradas ou escondidas. A largura dascolunas pode tambm ser ajustada.
Figura 37 Resultados
Na primeira coluna o resultado mostrado imediatamente aps a testeusando diferentes smbolos. Essessmbolos so mostrados a seguir:
Figura 38 Simbologia da avaliao
ANLISE GRFICA
No plano de impedncias, os pontosde teste so mostrados usando osmesmos smbolos como nas colunas dalista dos pontos de teste. O progresso doteste pode ser facilmente monitorado.Clicando o boto direito do mouse noplano de impedncias o menu contextual aberto para o grfico que do acesso aosajustes do grfico do plano de
impedncias.
Figura 39 Anlise grfica
ANLISENORELATRIODOTESTE
O relatrio do teste mostradoclicando no boto ou selecionando aopo Vista Relatrio.
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TEORIA E PRTICA
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Figura 40 Exemplo de Resultados noRelatrio
O exemplo acima mostra como orelatrio de teste mostra os dados decada ponto de teste, os valores nominaise atuais dos tempos de trip e a avaliaoautomtica. O teste foi feito para falhasdo tipo A-B e falhas trifsicas A-B-C.
Devido ao usurio poder modificaro contedo do relatrio para quecontenha seus requisitos especiais,informaes adicionais podem tambmser mostradas aps o teste sercompletado.
5.4. Selecionar a opoVerificao
Na tela de visualizao do teste,selecione a opo Trigger.
Figura 41 Seleo de Check
O plano de impedncias usadocom vista para o teste. As tenses ecorrentes so calculadasautomaticamente.
O objetivo do teste checar osalcances e tempos de trip das zonasindividuais acima e abaixo do alcance.Isto feito usando dois disparos paracada zona. Esta a principal modificaono procedimento do teste de disparoonde os pontos de teste soautomaticamente ajustados na linha dechecagem.
O resultado mostra o temponominal e atual de trip bem como a suaavaliao. O teste somente possvel sea caracterstica nominal especificada.
5.4.1. Definio das Linhas deChecagem
Figura 42 Definio das linhas deChecagem
Deve-se selecionar o tipo de faltapara o qual o teste ser executado.
ENTRADASNUMRICAS
A linha de verificao definida porum ponto que consideramos ser suaorigem e ngulo. Note na figura 42 que aorigem pode ser definida em coordenadaspolares ou retangulares.
O comprimento da linha dechecagem pode ser definido at aimpedncia relativa ou absoluta(relacionada para uma das zonas).
Figura 43 Definio das linhas nas zonasde proteo
O teste ser executado ao longo devrias linhas de checagem. Assim,
mltiplas linhas de checagem podem ser
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adicionadas lista de linhas pela seleoda opoAdicionar.Observe que a adio das linhas de
checagem est relacionada com o tipo defalha selecionada.
Se a linha de checagem for usadapara vrios tipos de falhas, selecioneAdicionar ...
Para remover linhas de check dalista, clique em Remover(para o tipo defalha selecionada) ou Remover tudo (paravrios tipos de falhas).
A opo Seqncia permite a
entrada de vrias linhas de checagemcom passos de ngulos uniformes usandoo mesmo ponto de origem.
SELECIONANDONOPLANODEIMPEDNCIAS
Boto esquerdo + arrastar (enquanto oboto estiver pressionado) para definir alinha de verificao. (use Adicionar paraadicionar o item lista)
Ctrl + boto esquerdo + arrastar paraadicionar a linha de verificao
diretamente lista de linhas deverificao.
Clicando o boto direito do mouseno plano de impedncias o menucontextual aberto para o grfico que dacesso aos ajustes do grfico do plano deimpedncias.
5.4.2. Inicio do teste deVerificao
A premissa bsica para o sucessodo teste a correta configurao dohardware do dispositivo a ser testado e adefinio das corretas condies deTrigger.
TESTEAOLONGODALINHADECORRENTE
O teste executado para o tipo defalha selecionada e somente ao longo dalinha de verificao selecionada.
Para iniciar este teste clique emou seleciona Teste Teste nico no menu.
tambm possvel para iniciar oteste diretamente do plano de
impedncias pelo posicionamento domouse no plano de impedncia epressionando-se a. tecla Shiftjuntamentecom o boto esquerdo do mouse.
TESTEAOLONGODEVRIASLINHAS
Para todas as linhas especificadas,os tempos de trip para cada ponto deteste so medidos um aps o outro ecomparados com os valores nominais eatuais.
Para iniciar o teste clique em ou
selecione Teste Iniciar/continuar.A execuo do teste pode ser pausada
clicando em ou selecionando Teste Pausa.
Clicando em ou selecionandoTeste Pararo teste interrompido. Paralimpar o resultado do teste e permitir umnovo teste clique em ou selecioneTeste Limpar.
Lembre-se: Antes de um novo teste ser
iniciado, os resultados dos testes antigosdevem ser limpos.
5.4.3. Avaliao do teste deVerificao
Anlise da lista de linhas de check
Devido a cada linha incluir vriostestes de shots em diferentes zonas, no possvel mostrar resultados detalhadosaqui. Em vez disso, a origem e o angulo
de busca so usados para identificar oteste.A largura das colunas pode ser
ajustada. Colunas podem tambm serescondidas pela seleo da mesma epelo boto direito do mouse. Um menucontextual aberto que mostra as vriasopes.
As colunas de estado mostram osresultados da avaliao de um especficoteste de check com diferentes smbolos,mostrados abaixo.
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Figura 44 Simbologia da avaliao
ANLISEGRFICA
No plano de impedncias ospontos de teste so mostrados usando osmesmos smbolos como no teste de shot.O progresso do teste pode sermonitorado pela visualizao do testecorrente em destaque.
Para a analise detalhada, diferenteopes so disponveis. Clicando no botodireito do mouse no plano de
impedncias um menu contextual aberto para o grfico, permitindo, porexemplo, a mudana da vista.
Figura 47 Anlise grfica
ANLISENORELATRIODOTESTE
O relatrio do teste mostradoclicando no boto ou selecionando aopo Vista Relatrio.
Figura 48 Exemplo de relatrio
Na opo Relatrio tem-se osresultados detalhados do teste. Como ousurio pode especificar a informaoque o relatrio ir conter, tambmpossvel mostrar informaes adicionaisaps o teste ser completado.
5.5. Selecionando a opo Busca
Na tela de visualizao do teste,selecione a opo Busca.
Figura 49 Selecionando Busca
5.5.1. Determinao dos shots.
O objetivo deste teste determinaro exato alcance das zonas individuaisaplicando shots ao longo de uma linha debusca.
O nmero de shots calculadoautomaticamente usando o valorparametrizado em Resoluo da Busca.
Os valores de impednciaencontrados das zonas so mostrados.Comparaes automticas dos valoresnominais e atuais podem ser feitas se omdulo de teste informado dosparmetros do rel.
5.5.2. Utilizando a Seqncia deTeste
A seguir so definidos os passos para arealizao de um teste em seqncia.
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a) Definir os valores do ngulo deinicio e do ngulo final. Ver figura50.
Figura 50 Selecionando Buscab) Definir o nmero de passos ou o
Passo ngulo. Esses dados definem
a quantidade de linhas de buscaque sero realizadas.
c) Definir o valor de Comprimento dalinha de teste. Este comprimentodeve ultrapassar somente uma veza zona testada. Recomendamos oajuste relativo ao comprimento dazona a ser testada, preenchendo-seo valor de percentagem de zonacomo 140% de Zona a ser testada,de forma a ultrapassarcompletamente a tolerncia
externa.
d) No campo tipos de falta escolher aopo desejada. No caso de umteste completo, basta assinalartodos.
e) Pressionar o boto OK
f) Os pontos a serem testados para ostipos de faltas com as respectivastolerncias so definidos segundo oespecificado. A figura a seguir
apresenta um exemplo do resultadoda aplicao desses procedimentos,com um arquivo de teste ponto paraser utiizado.
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Figura 51 Tela de Busca pronto para teste
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Figura 51 Tela de Busca teste finalizado
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