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Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

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Page 1: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD

Ioshiaki DoiFEEC/UNICAMP

IE726 – Processos de Filmes Finos

Physical Vapor Deposition

Page 2: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

•PVD (Physical Vapor Deposition)PVD (Physical Vapor Deposition)

Vaporizando material sólidoAquecimento ou sputteringCondensando vapor sobre a superfície

do substratoProcesso: parte importante de

metalização.

Physical Vapor Deposition

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PVD vs. CVDPVD vs. CVD

PVD começa com P (physical vapor deposition)

CVD começa com C (chemical vapor deposition).

Physical Vapor Deposition

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PVD vs. CVD: fontesPVD vs. CVD: fontes

PVD materiais sólidosCVD gases ou vapor

Physical Vapor Deposition

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CVD vs. PVDCVD vs. PVD

Physical Vapor Deposition

CVD PVD

Page 6: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

Physical Vapor Deposition

CVD: usa gases ou precursores em estado vapor e o filme depositado a partir de reações químicas sobre superfície do substrato.

PVD: vaporiza o material sólido por calor ou sputtering e recondensa o vapor sobre a superfície do substrato para formar o filme fino sólido.

CVD vs. PVDCVD vs. PVD

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•Filmes Finos Metálicos são utilizados para:

- Interconexão dos diversos dispositivos

- Alimentação dos dispositivos com tensões

• Filmes CVD: melhor cobertura de degrau.

• Filmes PVD: melhor qualidade, baixa concentração de impurezas e baixa resistividade.

Physical Vapor Deposition

• Processos PVD : empregados em processos de metalização na manufatura de CIs.

CVD vs. PVDCVD vs. PVD

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Métodos de PVDMétodos de PVD

Evaporaçãosputtering

Physical Vapor Deposition

Page 9: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

Processo de Deposição PVD: Processo de Deposição PVD:

a) O material a ser depositado (fonte sólida) é convertido a fase vapor por processo físico.

b) O vapor é transportado da fonte até o substrato através de uma região de baixa pressão.

c) O vapor condensa sobre o substrato para formar o filme fino.

Physical Vapor Deposition

Page 10: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

a) Adição de Calor EVAPORAÇÃO. b) Pelo desalojamento dos átomos da

superfície do alvo através de transferência de momentum por bombardeio iônico – SPUTTERING.

Physical Vapor Deposition

Conversão para Fase Conversão para Fase GasosaGasosa

• A conversão para a fase gasosa pode ser feita por:

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Physical Vapor Deposition

MÉTODOS DE PVD:MÉTODOS DE PVD:

a) - Evaporação

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b) - SPUTTERINGb) - SPUTTERING

Physical Vapor Deposition

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PVDPVD

Physical Vapor Deposition

Fase Gasosa

Fase Condensada(sólido)

Fase Gasosa

Fase Condensada(filme sólido)

Evaporação

Transporte

Condensação

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Física de EvaporadorFísica de Evaporador

Physical Vapor Deposition

Pressão de vapor:

)(

0

)(2/12/312103 kT

E

NkT

H

e

a

ePeTxP

Onde:

é a tensão superficial do líquido;

N é o número de Avogadro;

H é a entalpia de evaporação (energia necessária para conversão da fase líquida-gás.

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•Pressão de Vapor de Pressão de Vapor de MetaisMetais

Para uma taxa prática: Pe > 10 mTorr

Al T = 1200 K

W T = 3230 K

Pressão de Vapor de Metais comumente depositados por

Evaporação.

Physical Vapor Deposition

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Taxa de DeposiçãoTaxa de Deposição

Admitindo:

– Líquido a temperatura constante;– Cadinho com área de abertura

constante;– Wafer localizado sobre a

superfície de uma esfera.

Physical Vapor Deposition

Page 17: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

Taxa de DeposiçãoTaxa de Deposição

22 42 r

Área

T

P

k

mR ed

Onde:

é a densidade de massa (kg/m2);

Área é a área do wafer;

r é o raio da esfera.

Physical Vapor Deposition

Page 18: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

Fonte VirtualFonte VirtualPhysical Vapor Deposition

Fluxo viscoso

Geometria arbitrária Superfície esférica ( = )

• Ponto no espaço livre onde P cai o suficiente para resultar em fluxo molecular.

Posição do wafer.

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Evaporação de Al:Evaporação de Al:

a) Taxas são compatíveis (0.5 m/min.) ;

b) Átomos do metal impingem na lâmina com baixa energia

(~ 0.1 eV) sem danos;

c) Uso de alto vácuo baixa incorporação de gases;

d) Aquecimento não intencional deve-se apenas a :

- calor de condensação;

- radiação da fonte.

Physical Vapor Deposition

Page 20: Capítulo 6 - Técnicas de Deposição: Pt2 - PVD Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP IE726 – Processos de Filmes Finos Physical Vapor Deposition

•Limitações da Evaporação:Limitações da Evaporação:

Physical Vapor Deposition

a) Difícil controle na evaporação de ligas;

b) Com sputtering é mais fácil melhorar cobertura de degrau;

c) e-beam gera raio X quando os eletrons energéticos incidem sobre o metal alvo causan danos no dispositivo.

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Uniformidade do Uniformidade do Filme: Filme:

Physical Vapor Deposition

Fonte pontual resultaria num filme uniforme sobre uma esfera.

(, , r ) varia através da superfície do cadinho e do substrato.

Na prática : - fonte não é pontual.

- acima da fonte forma-se uma região viscosa.

uniformidade

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Solução:Solução:

Sistema planetário girante.

Superf. Esférica: =

Physical Vapor Deposition

•Deposição: taxa uniforme e monitorada com fonte pontual.

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Cobertura de DegrauCobertura de Degrau

Physical Vapor Deposition

Cobertura de degrau de filme evaporado é pobre devido a natureza direcional do material evaporado

(sombreamento). Maior limitação.

Aquecimento (resultando na difusão de superfície) e rotação do substrato (minimiza o sombreamento) auxilia a cobertura de degrau.

OK para AR < 0.5; marginal para 0.5 < AR < 1.

Pobre se AR > 1. Evaporação não forma filme contínuo para AR > 1.

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•Evaporação: Deposição de Ligas e CompostosEvaporação: Deposição de Ligas e Compostos

Physical Vapor Deposition

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Tipos de Evaporação:Tipos de Evaporação:

Aquecimento resistivo (filamentos)Feixe de eletrons (e-beam)Aquecimento indutivo.

Physical Vapor Deposition

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1) Aquecimento Resistivo :

• Material fonte em uma barquinha metálica suspensa por um filamento de W.

Al funde molha o fio de W evapora.

Physical Vapor Deposition

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Tipos de CadinhosTipos de Cadinhos

Physical Vapor Deposition

Limitações:

- elevado grau de contaminação (impurezas do filamento);

- não permite evaporaração de metais refratários;

- carga pequena espessura limitada;

- não consegue controlar com precisão a espessura do filme e

- difícil controle da composição de ligas difícil de formar filmes compostos.

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Sistema de Evaporação por e-beam. Fonte: arco de 270°, mais comum.

Physical Vapor Deposition

2) Evaporação por feixe de elétrons (e-beam) :2) Evaporação por feixe de elétrons (e-beam) :

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Características do e-Características do e-beambeam

Physical Vapor Deposition

- é livre de contaminação - aquecimento;

- evapora qualquer material - função da potência e-beam;

- produz raio X, maior problema danos de radiação recozimento.

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3) Aquecimento Indutivo :

Physical Vapor Deposition

• Vantagens :

- taxa e sem limite na espessura e

- não há raio X.

Desvantagens :

- há contato entre o Al fundido e o cadinho contaminação;

- complexidade do sistema RF e do processo.

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Physical Vapor Deposition

1. S. Wolf and R. N. Tauber; Silicon Processing for the VLSI Era, Vol.1 – Process Technology, Lattice Press, 1986.

2. J. D. Plummer, M. D. Deal and P. B. Griffin; Silicon VLSI Technology – Fundamentals, Practice and Modeling, Prentice Hall, 2000.

3. S. A. Campbell; The Science and Engineering of Microelectronic Fabrication, Oxford University Press, 1996.

4. S. M. Sze; VLSI Technology, McGraw-Hill, 1988.

Referências :