7-CONTROLE ESTATISTICO DA QUALIDADE-OVERVIEW.pdf

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<ul><li><p>Engenharia da Qualidade e </p><p>Normalizao Prof. Enildo Dias </p><p>Aula: CONTROLE ESTATISTICO DA QUALIDADE </p><p>ENGENHARIA MECATRNICA </p></li><li><p>1)QUALIDADE TOTAL </p><p> Controle Estatstico da Qualidade Limites naturais, de especificao e de controle ndices de capacidade do processo </p><p> Grficos de Controle por Variveis </p><p> Construo e Analises dos grficos </p><p> Grficos de Controle para Processos </p><p> Grficos de controle com limites e atributos </p><p> Inspeo de Qualidade </p><p> Determinao do plano de amostragem </p><p> Inspeo retificadora </p><p> Planos de amostragem da norma brasileira NBR </p><p>5426 </p></li><li><p>1-INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS </p><p>Juran(1999) </p><p>Qualidade significa adequao ao uso. </p><p>Deming(2000) </p><p>Qualidade significa atender e, se possvel, exceder as expectatiivas </p><p>do consumidor. </p><p>Crosby(1995) </p><p>Qualidade significa atender as especificao. </p><p>Taguchi(1999) </p><p>A produo ,o uso e o descarte de um produto sempre acarretaram </p><p>prejuzos (perdas) para a sociedade. Quanto menos, melhor. </p></li><li><p>1-INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS </p><p>Custos de preveno </p><p>Determinao de condies timas dos parmetros de processo antecede a produo; Custos </p><p>com o treinamento de pessoal ou com o monitoramento de processos. </p><p>Custos de avaliao </p><p>Custos de atividades estabelecidas com o propsito de avaliar a observncia das </p><p>especificaes. </p><p>Empresa que no se engajaram em um programa de melhoria contnua. </p><p>Falhas internas+externas&gt;70% </p></li><li><p>2-FUNDAMENTOS DO CEP </p><p>Causas da Variabilidade do Processo (Aleatrias e Especiais) </p><p>Processo isento de causas </p><p>especiais </p><p>Causa especial altera a </p><p>mdia do processo </p><p>Causa especial altera a </p><p>mdia e a disperso </p></li><li><p>2-FUNDAMENTOS DO CEP </p><p>Causas da Variabilidade do Processo. </p><p>Processo sujeito somente a causas Aleatrias est em controle. </p><p>Causas Aleatrias + Causas especiais = fora do controle </p><p>Distribuio aleatria </p><p>em torno da linha </p><p>mdia. </p><p>Shewhart-leave the process alone </p><p>15valor fora do LSC-</p><p>deve se intervir no </p><p>processo </p></li><li><p>2-CEP-VARIABILIDADE DO PROCESSO </p><p>Mdia X Desvio padro </p><p>amostral S </p><p>Amplitude(maior</p><p>- menor valor) </p><p>(992,9-1001,2)^2+.....+ (998,3-1001,2)^2 </p><p> 5-1 </p></li><li><p>2-CEP </p></li><li><p>2-CEP </p></li><li><p>3-GRFICO DE CONTROLE POR VARIVEIS( X-R-S) </p><p>LC mdia =Mdia + 3 desvios padro </p><p>Amplitude amostral R: </p><p>Diferena em mdulo, entre o menor e o maior valor </p><p>da amostra </p><p>Os limites de controle com 3 </p><p>desvios-padro so afastados </p><p>em relao a linha mdia . </p><p>Shewhart -Se o processo estiver em controle ,evite </p><p>ajustes desnecessrios, que </p><p>s tendem a aumentar a sua </p><p>variabilidade </p><p>Os limites de controle para o </p><p>grafico de R tambm so </p><p>situados usualmente com 3 </p><p>desvios-padro de </p><p>afastamento da mdia. </p><p>Amplitude amostral R </p><p>LC Amplitude R = MdiaR + 3 desvios padro </p></li><li><p>3-PODER DO GRFICO DE Xmdio </p><p>De um modo geral se &gt;1,5 ento rapidamente um valor de Xmdio cair fora dos limites de controle. </p><p>Poder do grfico Xmdio: a velocidade com qual o grfico </p><p>identifica as perturbaes no processo. </p></li><li><p>3-PODER DO GRFICO DE Xmdio </p><p>Exerccio: Para analisar a capacidade de um micrmetro </p><p>25peas foram medidas por 4 operadores, cada pea foi medida </p><p>3 vezes por operador. Obtiveram os seguintes resultados. </p><p> Op 1 Op 2 Op 3 Op 4 </p><p>Xmediana 20,07545 20,07935 20,0714 20,0768 </p><p>R 0,0039 0,0017 0,0038 0,0027 </p><p>Pelas especificaes ,a dimenso da pea deve estar </p><p>compreendida em 19,78 e 20,36.A capacidade do sistema de </p><p>medio satisfatrio? </p></li><li><p>4-CAPACIDADE DO PROCESSO </p><p>LIMITE NATURAL </p><p>Valores de X situados a </p><p>+/-3 desvios padro da </p><p>mdia do processo. </p><p>Se distribuio normal </p><p>esperados 27 a cada </p><p>10000 unidades fiquem </p><p>fora dos limites </p><p>LIMITE DE CONTROLE LIMITE DE ESPECIFICAO </p><p>LC para o grfico </p><p>Xmdio estabelecido a </p><p>+/-3 desvios padro da </p><p>mdia do processo. </p><p>Esses limites definem a </p><p>regio de ao do grfico de </p><p>Xmdio, com propsito de </p><p>fornecer um critrio que </p><p>indique o momento de intervir </p><p>no processo. </p><p>APLICADO A MDIAS </p><p>AMOSTRAIS </p><p>Estabelecidos pela engenharia </p><p>para evitar multa e estourarem </p><p>durente o manuseio ou </p><p>transporte. </p><p>APLICADO A VALORES </p><p>INDIVIDIAIS DE X. </p></li><li><p>4-CAPACIDADE DO PROCESSO </p><p>LIMITE NATURAL </p><p>LIMITE DE CONTROLE </p><p>LIMITE DE ESPECIFICAO </p></li><li><p>4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO </p><p>Cp </p><p>Cpk </p><p>Cpm </p><p>No h uma relao fixa entre o seu valor e a porcentagens de itens que o </p><p>processo capaz de produzir dentro das especificaes : essa relao vai </p><p>depender da distribuio de probabilidades da caracterstica de qualidade </p><p>considerada, contudo quanto maior o seu valor melhor o processo consegue </p><p>atender as especificaes. </p><p>ICPs so parmetros adimensionais que indiretamente medem o </p><p>quanto o processo consegue atender as especificaes. </p></li><li><p>4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO </p><p>Cp </p><p>Cpk Cpm </p><p>Valores de Cp, Cpk e Com ppara diferentes valores de e ,com LIE=2 e LSE=8. </p><p>Se a mdia do </p><p>processo no pertencer </p><p>ao intervalo das </p><p>especificaes o ndice </p><p>Cpk assumira valores </p><p>negativos(e,f). </p><p>Cp insensvel </p><p>a mudanas na </p><p>mdia do </p><p>processo. </p><p>Comparao dos casos a e h. </p><p>b e g- unidades no </p><p>conformes em pro </p><p>pores iguais com </p><p>muito diferentes. </p><p>c e d- itens no </p><p>conformes em pro </p><p>pores muito </p><p>diferentes podem ter </p><p>Cpm prximos </p></li><li><p>4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO </p><p>Classificao do processo com respeito a capacidade </p><p>RAZOAVELMENTE CAPAZ-Deve ser rigidamente </p><p>controlado, pois causa especial leva a produo </p><p>de grande numero de produtos que no atendem </p><p>as especificaes. </p><p>INCAPAZ-Produz uma % razovel de itens fora das </p><p>especificaes, mesmo com o processo em controle. </p><p>A ocorrncia de causa especial dramtica. </p></li><li><p>4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO </p><p>PROCESSO A,B e C versus limite de especificao:causa especial altera o desvio padro do processo. </p></li><li><p>5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA) </p></li><li><p>5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA) </p></li><li><p>5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA) </p></li><li><p>5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA) </p></li><li><p>5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA) </p></li><li><p>6-GRAFICOS DE CONTROLE POR ATRIBUTO </p></li><li><p>6-CARTAS POR ATRIBUTO </p><p>Carta p Frao defeituosa Carta np Quantidade de defeitos </p></li><li><p>6-CARTAS POR ATRIBUTO </p><p>Carta u -N de defeitos por unidade Carta c -N de defeitos por amostra </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE- Distribuio hipergeomtrica </p><p> Inspeo 100% Inspeo de lote Auditoria da Qualidade </p><p>1)Inspeo para aceitao </p><p>NQA-Nvel de Qualidade aceitvel </p><p>NQI-Nvel de Qualidade inaceitvel </p><p>Risco -Risco do produtor Risco -Risco do consumidor(lote ruim defeituoso/aceitar como lote bom) </p><p>6.1- Distribuio hipergeomtrica </p><p>P=probabilidade </p><p>d ou do= nmero de peas defeituosas na amostra </p><p>D= nmero de peas defeituosas no lote </p><p>N ou m=tamanho do lote </p><p>n=tamanho da amostra </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE </p><p>Exerccio: Uma empresa fabrica peas para motores,sabendo-se que a mdia </p><p>do processo de 5% de peas defeituosas, calcule a probabilidade de um </p><p>lote com 100 peas ter uma amostra de 10peas analisada nesta amostra </p><p> e ser encontrada 1 pea defeituosa. </p><p>1 </p><p>5 </p><p>1 </p><p>100 </p><p>1 </p><p>100 </p><p>10 1 </p><p>5 </p><p>34% </p><p>58% </p><p>At 1 pea defeituosa= 92% </p></li><li><p>6-LEMBRANDO ANLISE COMBINATRIA </p><p>Senha Banco </p><p>X1,X2,X3,X4 </p><p>Ns. Que no se repetem </p><p>Na calculadora 10 NCr 4=210 </p><p>9 </p><p>10 </p><p>0 </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE(Distribuio de Poison) </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE(Distribuio de Poison) </p><p>Exerccio USP: Calcule a probabilidade de um lote de peas conter 6 peas </p><p>defeituosas ,sabendo-se que a mdia de peas defeituosas deste processo de 5%. </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE(Distribuio de Poison) </p><p>Exerccio USP: Calcule a probabilidade de um lote de peas conter 6 peas </p><p>defeituosas ,sabendo-se que a mdia de peas defeituosas deste processo de 5%. </p><p>6 6 </p><p>100-6 </p><p>0,05 </p><p>6 0,05 </p><p>100 </p><p>15% </p></li><li><p>6-INSPEO DA QUALIDADE </p></li><li><p>7-DETERMINAO DO PLANO DE AMOSTRAGEM </p><p>Determinao do plano de amostragem simples. </p></li><li><p>8-INSPEO RETIFICADORA </p><p>Inspeo para aceitao e inspeo retificadora </p></li><li><p>8-INSPEO RETIFICADORA </p></li><li><p>8-INSPEO RETIFICADORA </p></li><li><p>9-PLANOS DE AMOSTRAGEM DA NBR 5426 </p><p>Usual inspeo II </p><p>(I-diminuir tamanho da amostra e aumento risco do consumidor). </p><p>(III-Qdo reduzir o risco do consumidor aumentando o numero de amostras </p><p>Os planos so tabelados em funo do tamanho do lotes e do NQA(nvel de </p><p>qualidade aceitvel) e tambm definir o nvel de inspeo com que pretende </p><p>trabalhar. </p><p>O nvel de inspeo fixa a relao entreo tamanho do lote e o tamanho da amostra. </p></li><li><p>9-PLANOS DE AMOSTRAGEM DA NBR 5426 </p><p>Regras gerais para a comutao entre modos de inspeo </p><p>Os planos so tabelados em funo do tamanho do lotes e do NQA(nvel de </p><p>qualidade aceitvel) e tambm definir o nvel de inspeo com que pretende </p><p>trabalhar. </p><p>O nvel de inspeo fixa a relao entreo tamanho do lote e o tamanho da amostra. </p></li><li><p>FIM </p><p>OBRIGADO!!! </p></li></ul>